Advantest Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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1.227 gesamt| Patent | |||
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04.10.2018
Apparatus and method for providing a supply voltage to a device under test using a compensation signal injection
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 31.03.2017
Anhängig
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13.09.2018
Test system and method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.03.2018
Anhängig
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13.09.2018
Device testing using dual-fan cooling with ambient air
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.03.2018
Anhängig
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13.09.2018
Tester and method for testing a device under test using relevance scores
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 07.03.2017
Anhängig
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13.09.2018
Test apparatus for performing a test on a device under test and data set filter for filtering a data set to obtain a best setting of a device under test
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.03.2017
Anhängig
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13.09.2018
Tester and method for testing a device under test and tester and method for determining a single decision function
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 07.03.2017
Anhängig
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13.09.2018
Test apparatus and method for characterizing a device under test
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 07.03.2017
Anhängig
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16.08.2018
Real-time capture of traffic upon failure for protocol debug
Software & Datenverarbeitung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 08.02.2018
Anhängig
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08.08.2018
Bestimmung der Härte und Porosität aus der Messung von innerhalb des Messobjekts propagierter THz-Strahlung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.04.2013
Erteilt am 08.08.2018
Vertretung
Smee, Anthony James Michael · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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19.07.2018
Electron beam column for three-dimensional printing device, three-dimensional printing device, and three-dimensional printing method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.01.2017
Anhängig
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11.04.2018
Belichtungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.12.2016
Erteilt am 11.04.2018
Vertretung
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15.03.2018
Belichtungsvorrichtung und Belichtungsdatenstruktur
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.01.2018
Vorrichtung zum Aussenden elektromagnetischer Wellen
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
Optik & Fototechnik
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Zusammenfassung
According to the present invention, an electromagnetic wave emission device includes a nonlinear crystal having an optical waveguide; and a prism including an electromagnetic wave input surface and an electromagnetic wave transmission surface. The electromagnetic wave transmission surface includes a rotation surface which is a trajectory of a tilted line segment rotated about a central axis of the electromagnetic wave input surface, the tilted line segment being tilted with respect to the central axis. The tilted line segment and the central axis are on the same plane. The central axis is in parallel to an extending direction of the optical waveguide. The central axis passes through a projection of the optical waveguide into the electromagnetic wave input surface. |
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08.09.2017
Semiconductor device and method for manufacturing same
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.02.2017
Anhängig
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31.08.2017
Method and device for calibrating an automated test equipment
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.02.2016
Anhängig
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31.08.2017
Power supply for providing an electrical pulse to an electrical consumer and a tester comprising the power supply
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 23.02.2016
Anhängig
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03.08.2017
Deterministic Concurrent Test Program Executor For an Automated Test Equipment
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.01.2016
Anhängig
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02.08.2017
Geladene Teilchenstrahllinsenvorrichtung, Geladene Teilchenstrahlsäule und Geladene Teilchenstrahlbelichtungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.10.2016
Anhängig
Vertretung
Michalski Hüttermann & Partner Patentanwälte mbB · Düsseldorf
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12.07.2017
Objekttischvorrichtung
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.02.2010
Erteilt am 12.07.2017
Vertretung
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14.06.2017
Mehrspalten-Elektronenstrahlbelichtungsanordnungen und -Verfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.03.2007
Erteilt am 14.06.2017
Vertretung
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13.04.2017
Jig for evaluating characteristics, device for evaluating characteristics, and evaluation method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.10.2015
Anhängig
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02.03.2017
Contact device and production method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.08.2015
Anhängig
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01.03.2017
Elektronenstrahlbelichtungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.08.2002
Erteilt am 01.03.2017
Vertretung
Beetz & Partner mbB · München
Beetz & Partner Patentanwälte · München
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22.02.2017
Infrarotoptische Biosensorvorrichtung und Sonde dafür
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.07.2016
Anhängig
Vertretung
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15.02.2017
Vorrichtung, Herstellungsverfahren und Belichtungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.04.2016
Anhängig
Vertretung
Michalski Hüttermann & Partner Patentanwälte mbB · Düsseldorf
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09.02.2017
Addressing scheme for distributed hardware structures
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 04.08.2015
Anhängig
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01.02.2017
Belichtungsvorrichtung und Belichtungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.02.2016
Anhängig
Vertretung
Michalski Hüttermann & Partner Patentanwälte mbB · Düsseldorf
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21.12.2016
Elektronenstrahlexpositionsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.04.2012
Erteilt am 21.12.2016
Vertretung
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15.12.2016
High frequency integrated circuit and emitting device for irradiating the integrated circuit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.06.2015
Anhängig
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08.12.2016
Semiconductor device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.04.2016
Anhängig
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01.12.2016
Automated test equipment for combined signals
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.05.2015
Anhängig
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03.11.2016
Switch circuit, method for operating a switch circuit and an automated test equipment
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 27.04.2015
Anhängig
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19.10.2016
Belichtungsvorrichtung und Belichtungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.10.2015
Anhängig
Vertretung
Michalski Hüttermann & Partner Patentanwälte mbB · Düsseldorf
Zusammenfassung
To form a complex and fine pattern by combining optical exposure technology and charged particle beam exposure technology, provided is an exposure apparatus that radiates a charged particle beam at a position corresponding to a line pattern on a sample, including a beam generating section (20, 30, 40, 50) that generates a plurality of the charged particle beams at different irradiation positions in a width direction (Y) of the line pattern; a scanning control section (190) that performs scanning with the irradiation positions of the charged particle beams along a longitudinal direction (X) of the line pattern; a selecting section (160) that selects at least one charged particle beam to irradiate the sample from among the plurality of charged particle beams, at a designated irradiation position in the longitudinal direction of the line pattern; and an irradiation control section (170) that controls the at least one selected charged particle beam to irradiate the sample. |
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06.10.2016
Method for operating a test apparatus and a test apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.04.2015
Anhängig
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30.06.2016
Test equipment, method for operating a test equipment and computer program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.12.2014
Anhängig
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02.06.2016
Removal Of Sampling Clock Jitter Induced in an Output Signal Of an Analog-To-Digital Converter
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 28.11.2014
Anhängig
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01.06.2016
Vorrichtung, Verfahren und Programm zur Ausbreitungsanalyse von Schmiermitteln
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Angemeldet am 15.11.2012
Erteilt am 01.06.2016
Vertretung
Smee, Anthony James Michael · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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06.05.2016
Scheduler
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 29.10.2014
Anhängig
Zusammenfassung
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07.04.2016
Non-Invasive in Situ Glucose Level Sensing Using Electromagnetic Radiation
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.09.2015
Anhängig
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31.03.2016
Pulse Wave Sensor Unit
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.09.2015
Anhängig
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Wer vertritt Advantest?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Advantest vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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