ASML Patente
🇳🇱 Niederlande
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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28.06.2023
Verfahren und Computerprogramm zur Ausrichtungsbestimmung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.06.2023
Verfahren und Vorrichtung zur Identifizierung von Verunreinigungen in einem Halbleiter-Fab
Optik & Fototechnik
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21.06.2023
Verfahren und Vorrichtung zur Berechnung einer Reparaturdosis für ein Belichtungsfeld eines mit einem Lithographischen Gerät Belichteten Substrats
Optik & Fototechnik
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21.06.2023
Detektorinspektionsvorrichtung, Detektoranordnung, Detektorarray, Einrichtung und Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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21.06.2023
Ladungsteilcheneinrichtung, Mehrfachvorrichtungseinrichtung, Verfahren zur Verwendung einer Ladungsteilcheneinrichtung und Steuerungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.06.2023
Optische Ladungsteilchenvorrichtung und Projektionsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.06.2023
Verfahren zum Bearbeiten einer Probe mittels einer Teilchenstrahlvorrichtung zur Bewertung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.06.2023
Vorrichtung für Geladene Teilchen, Gerät zur Bewertung Geladener Teilchen, Messverfahren und Überwachungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.06.2023
Substrathalter und Lithografisches Gerät
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.06.2023
Magnetische Linse und Erregerstromsteuerungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.06.2023
Systeme und Verfahren zur Reduzierung der Musterverschiebung in einer Lithografievorrichtung
Optik & Fototechnik
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14.06.2023
Optisches Element
Optik & Fototechnik
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14.06.2023
Blende und Verfahren
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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14.06.2023
Identifizierung von Abweichenden Modulen aus einer Referenzpopulation für die Maschinendiagnose
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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14.06.2023
Verfahren zur Bestimmung eines Messrezepts und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
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14.06.2023
Lasertriangulationsvorrichtung und Kalibrierverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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07.06.2023
Verfahren zur Überwachung eines Lithographischen Verfahrens und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
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07.06.2023
Metrologisches Kalibrierverfahren
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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31.05.2023
Mehrachsige Magnetische Linse
Elektrische Energietechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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31.05.2023
Metrologisches Verfahren und Zugehöriges Metrologisches Werkzeug
Optik & Fototechnik
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31.05.2023
Vorrichtung zur Detektion Geladener Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.02.2018
Erteilt am 31.05.2023
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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31.05.2023
Membran für Euv-Lithografie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 12.04.2017
Erteilt am 31.05.2023
Vertretung
Filip, Diana · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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24.05.2023
Verfahren und Vorrichtung für die Metrologie
Software & Datenverarbeitung
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24.05.2023
Erlangung eines einen Herstellungsprozess Charakterisierenden Parameters
Optik & Fototechnik
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24.05.2023
Emitter zur Emission Geladener Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.05.2023
Vorrichtung zum Schutz von Flüssigkeitsleitungen in einer Euv-Quelle
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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24.05.2023
Verfahren zur Bestimmung einer Korrekturstrategie in einem Halbleiterherstellungsverfahren und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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24.05.2023
Verfahren zur Klassifizierung von Halbleiterscheiben
Optik & Fototechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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17.05.2023
System und Verfahren zur Untersuchung mittels Geladener Partikel
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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17.05.2023
Latente Raumsynchronisierung von Maschinenlernmodellen für Metrologie-Inferenz in Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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17.05.2023
Ausrichtung eines Verzerrten Bildes
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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17.05.2023
Mehrachsige Magnetische Immersionsobjektivlinse
Elektrische Energietechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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17.05.2023
Modensteuerung von Photonischen Kristallfaserbasierten Breitbandigen Lichtquellen
Optik & Fototechnik
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10.05.2023
Optische Metrologie von Lithographischen Prozessen mit Asymmetrischen Subauflösungsmerkmalen zur Verbesserung der Messung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.11.2016
Erteilt am 10.05.2023
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10.05.2023
Mehrstrahlsäule für Geladene Teilchen, Mehrstrahlsäulenanordnung für Geladene Teilchen, Inspektionsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.05.2023
Detektorsubstrat zur Verwendung in einem Mehrstrahl-Bewertungswerkzeug für Geladene Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.05.2023
Verfahren zur Thermomechanischen Steuerung eines Wärmeempfindlichen Elements und Vorrichtung zur Verwendung in einem Lithographischen Herstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
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03.05.2023
Breitbandstrahlungsgenerator mit Hohlkern auf der Basis von Photonischen Kristallfasern
Optik & Fototechnik
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03.05.2023
Verfahren zur Bestimmung einer Leistungsparameterverteilung
Optik & Fototechnik
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03.05.2023
Breitbandstrahlungsgenerator mit Hohlkern auf der Basis von Photonischen Kristallfasern
Optik & Fototechnik
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Wer vertritt ASML?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die ASML vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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