FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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506 gesamt| Patent | |||
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20.04.2016
Funktionalisierte Gitter zur Lokalisierung und Bildgebung Biologischer Proben und Verfahren zur Verwendung davon
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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30.03.2016
Bestimmung von Emissionsparametern von Feldemissionsquellen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
The state of an emitter can be determined by measurements of how the current changes with the extraction voltage. A field factor ² function is determined by a series of relatively simple measurements of charged particles emitted at different conditions. The field factor can then be used to determine derived characteristics of the emission that, in the prior art, were difficult to determine without removing the source from the focusing column and mounting it in a specialized apparatus. The relations are determined by the source configuration and have been found to be independent of the emitter shape, and so emission character can be determined as the emitter shape changes over time, without having to determine the emitter shape and without having to redefine the relation between the field factor and the series of relatively simple measurements, and the relationships between the field factor and other emission parameters. |
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30.03.2016
Verfahren und System für Computertomographie-Bildgebung
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.01.2011
Erteilt am 30.03.2016
Vertretung
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30.03.2016
Verfahren zum Betrachten von Proben mit einem Fluoreszenzmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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23.03.2016
Röntgendetektor für Transmissionselektronenmikroskope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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23.03.2016
Teilchenstrahlsystem mit Ionengenerator
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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16.03.2016
Verfahren zur Erfassung von Ebsp-Mustern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.03.2016
Verbesserter Strahlungssensor und dessen Anwendung in einem Ladungsteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.02.2016
Correction Of Beam Hardening Artifacts in Microtomography For Samples Imaged in Containers
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 15.08.2015
Anhängig
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25.02.2016
Tomographic reconstruction for material characterization
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 15.08.2015
Anhängig
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03.02.2016
Ladungsträgerstrahl-Bearbeitungssystem mit Visueller und Infrarotbildgebung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.01.2016
Korrektor für axiale Aberrationen einer teilchenoptischen Linse
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.01.2016
Gaszufuhr für Strahlenverarbeitungssysteme
Metallurgie & Oberflächentechnik
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20.01.2016
Elektrostatische Linse Durchlässig für von einer Probe Kommende Emissionen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.06.2015
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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06.01.2016
Computergestützte Rastermikroskopie mit verbesserter Auflösung
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.12.2015
Verfahren und System zur Erzeugung von Symmetrischer Fib-Abscheidung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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23.12.2015
Amplitudenkontrastbildgebung mit Hoher Auflösung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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18.11.2015
Wien-ExB-Massenfilter mit großer Blendenöffnung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
An ExB Wien mass filter provides an independently-adjustable electric field combined with the dipole electric field required for mass separation. The independently adjustable electric field can be used to provide a larger optical aperture, to correct astigmatism and to deflect the beam in direction parallel and/or perpendicular to the magnetic field. |
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04.11.2015
Verfahren zur Vorbereitung von Proben für Bildgebung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.11.2015
Bezugsmarke für Geneigte oder Glättende Fräsoperationen mittels Ladungsträgerstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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17.09.2015
Blend modes for mineralogy images
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 11.03.2015
Anhängig
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02.09.2015
Automatisierte Klassifizierung von Mineralien
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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26.08.2015
Verfahren zur Untersuchung einer Probe in einem Ladungsträger-Mikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.08.2015
Verfahren zur Erstellung einer Stammzellenprobe und einer Probenstruktur
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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12.08.2015
Verfahren und System zur Verringerung des Curtaining-Effekts in einem Probenpräparat aus Geladenen Teilchenstrahlen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.07.2015
Optische Sondierung in Elektronenmikroskopen
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.04.2010
Erteilt am 01.07.2015
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Valea AB · Göteborg
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10.06.2015
Ökologisches Sem-Gasinjektionssystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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03.06.2015
Aberrationskorrigierter Wien-ExB-Massenfilter mit Beseitigung von Neutralen aus dem Strahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.05.2015
Endpunktbestimmung für Fokussierte Ionenstrahlverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.07.2012
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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14.05.2015
Sub-pixel analysis and display of fine grained mineral samples
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.11.2014
Anhängig
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13.05.2015
Plasmafokussiertes Ionenstrahlsystem mit mehreren Quellen
Metallurgie & Oberflächentechnik
Elektrische Energietechnik
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01.04.2015
Verfahren zum Zentrieren eines optischen Elements in einem TEM mit kontrastverstärkendem Element
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
The invention relates to a method for adjusting or aligning one or more optical elements in a Transmission Electron Microscope (TEM), the TEM (500) equipped with an objective lens (512) for guiding a beam of electrons to a sample (508) and the TEM showing a diffraction plane (514) in which at least a beam of unscattered electrons is focused, the TEM equipped with a structure (518,410) to enhance the Contrast Transfer Function (CTF), said structure situated in the diffraction plane or an image thereof, the method comprising adjusting or aligning the optical elements, characterized in that irradiation with unscattered electrons of the structure during said adjusting or aligning is prevented (602) by deflecting the beam of unscattered electrons away from the structure. The structure to enhance the CTF can, for example, be a phase plate, a single side band device, or a 'tulip' (410). In a preferred embodiment of the method the optical element to be aligned is the phase enhancing structure itself. |
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25.03.2015
Automatisierter Ionenstrahlleerlauf
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.03.2015
Verfahren zur S/tem-Sample-Erzeugung und Sample-Struktur
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.02.2015
Elektronenstrahlinduziertes Ätzen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.06.2014
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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18.02.2015
Verfahren zur Verwendung eines Environmental-TEMs (Transmissionselektronenmikroskop)
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.01.2015
Mikroskopie mit geladenen Teilchen mit Okklusionsdetektion
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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07.01.2015
Reinigung von Ausrichtmarken mit einem Ionenstrahl
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.11.2003
Erteilt am 07.01.2015
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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07.01.2015
Verfahren zur S/tem-Probenanalyse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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15.10.2014
In-Column-Detektor für eine teilchenoptische Säule
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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