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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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3.840 gesamt
Patent
25.04.2013
Scanning Electron Microscope
WO2013058077
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.04.2013
Sample cell and spectrophotometer
WO2013058084
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.04.2013
Kapillararray und Elektrophoresegerät sowie zugehörige Verfahren
EP1357378
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.04.2013
Probenabgabevorrichtung und damit versehener automatischer Analysator
EP1391734
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.04.2013
Nucleinsäure-Analysevorrichtung und Nucleinsäure-Analysator damit
EP2019309
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.04.2013
Vorrichtung für Geladene Teilchen
EP2584586
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.04.2013
Verfahren und Vorrichtung zur Vorbehandlung Biologischer Proben
EP2584337
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.04.2013
Ion source and ion beam device using same
WO2013054799
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.04.2013
Fluid mixer and fluid mixing method
WO2013054742
Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.04.2013
Inspection or observation device and specimen inspection or observation method
WO2013051357
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.04.2013
Measuring method, data processing apparatus and electron microscope using same
WO2013051456
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.04.2013
Transmissionsinterferenzmikroskop
EP2579292
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.04.2013
Defect observation method and defect observation device
WO2013046848
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.04.2013
Charged particle beam apparatus that performs image classification assistance
WO2013046843
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.04.2013
Cross-sectional shape estimating method and cross-sectional shape estimated device
WO2013047047
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.04.2013
Defect inspection method and defect inspection device
WO2013046836
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.04.2013
Spectrophotometer and signal integration method for spectrophotometer
WO2013046861
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.04.2013
Optical element, method for manufacturing same, and shape inspecting apparatus
WO2013046934
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
04.04.2013
Device for measuring shape formed on substrate
WO2013046998
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
04.04.2013
Electric Field Discharge-Type Electron Source
WO2013047397
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.04.2013
Automatische Analysevorrichtung
EP1367398
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.03.2013
Charged particle beam device, method for adjusting charged particle beam device, and method for observing sample or inspecting sample
WO2013042425
Elektrische Energietechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.03.2013
Automatic analysis apparatus
WO2013042551
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.03.2013
Transmissionselektronenmikroskop mit elektronischem Spektroskop und Verfahren zur Anzeigen von Spektralbildern
EP2256780
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.03.2013
Elektronenmikroskop und Verfahren zur Einstellung der Sichtachse Dieses Elektronenmikroskops
EP2573792
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.03.2013
Elektronenmikroskop
EP2573793
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.03.2013
Scanning Electron Microscope
WO2013038961
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.03.2013
Pattern measurement device and pattern measurement method
WO2013035364
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.03.2013
Multipole measurement apparatus
WO2013035386
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.03.2013
Charged particle beam apparatus
WO2013035220
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.03.2013
Scanning Electron Microscope
WO2013035389
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.03.2013
Defect inspection method and defect inspection device
WO2013035419
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.03.2013
Ion beam device
WO2013035221
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.03.2013
Region setting device, observation device or inspection device, region setting method, and observation method or inspection method using region setting method
WO2013035421
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.03.2013
Emitter, gas field ionization ion source, and ion beam device
WO2013035411
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.03.2013
Surface shape measurement device
WO2013031445
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.03.2013
Saugfähiger Artikel und Verfahren zu Seiner Herstellung
EP2564923
Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.03.2013
Probenbeobachtungsverfahren und Transmissionselektronenstrahlmikroskop
EP2565901
Software & Datenverarbeitung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.02.2013
Method for estimating shape before shrink, and cd-sem apparatus
WO2013027453
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
28.02.2013
Optical microscope device and testing apparatus comprising same
WO2013027514
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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148
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92
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83
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71
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64
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58
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41
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29

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