JEOL Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
520
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
520 gesamt| Patent | |||
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20.02.2013
Prüfverfahren und Reagenzlösung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.12.2008
Erteilt am 20.02.2013
Vertretung
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13.02.2013
Korrektor von chromatischen Aberrationen für Ladungsträgerstrahlsystem und Korrekturverfahren dafür
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.10.2009
Erteilt am 13.02.2013
Vertretung
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16.01.2013
Korrektor der sphärische Abberation und Verfahren zur Korrektur der sphärischen Abberation
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.05.2011
Anhängig
Vertretung
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21.11.2012
Probenhalter und Ionenstrahlverarbeitungssystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.01.2006
Erteilt am 21.11.2012
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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21.11.2012
Raster-Transmissionselektronenmikroskop und Verfahren zur Aberrationskorrektur dafür
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.03.2009
Erteilt am 21.11.2012
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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12.09.2012
Verfahren und Vorrichtung für Elektrolytmessungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.02.2012
Anhängig
Vertretung
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11.07.2012
Vorrichtung zur Probentischbewegung für ein Teilchenstrahlensystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.03.2008
Erteilt am 11.07.2012
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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13.06.2012
Elektrostatische Linse zur Korrektur der Sphärischen Aberration, Eingangslinse, Elektronenspektroskopieeinrichtung, Fotoelektronen-Mikroskop und Messsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.11.2004
Erteilt am 13.06.2012
Vertretung
Patentanwälte Lambsdorff & Lange · München
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16.05.2012
Probenhalter, Probenprüfvorrichtung, Probenprüfverfahren und Verfahren zur Herstellung des Probenhalters
Verfahrens- & Trenntechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.01.2008
Erteilt am 16.05.2012
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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11.04.2012
Tandem-Flugzeitmassenspektrometer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.10.2011
Anhängig
Vertretung
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21.03.2012
Verfahren zur Korrektur der chromatischen Aberration eines Teilchenstrahls, und Teilchenstrahlapparat
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.09.2005
Erteilt am 21.03.2012
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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07.03.2012
Elektronenstrahl-Vorrichtung mit Elektronenenergie-Analysator, Einrichtung und Methode zur Steuerung von Linsen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.01.2004
Erteilt am 07.03.2012
Vertretung
Palmer, Jonathan R · London
Palmer, Jonathan Richard · London
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22.02.2012
Probenhalter für ein Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.12.2007
Erteilt am 22.02.2012
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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04.01.2012
Maske und diese verwendende Vorrichtung zur Vorbereitung von Proben durch Ionenbeschuss
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.08.2004
Erteilt am 04.01.2012
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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04.01.2012
Verfahren und Vorrichtung zur Driftkorrektur während eines automatisierten FIB Verfahrens
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.11.2005
Erteilt am 04.01.2012
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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28.12.2011
Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.03.2010
Erteilt am 28.12.2011
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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23.11.2011
Probenhalter, Untersuchungsvorrichtung und Untersuchungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.11.2011
Abbildungsfehlerkorrektor und damit ausgerüstetes Teilchenstrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.09.2009
Erteilt am 02.11.2011
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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21.09.2011
Kalt-Spray-Massenspektrometrieeinrichtung
Verfahrens- & Trenntechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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07.09.2011
Probenhalterung, Probenprüfvorrichtung und Probenprüfverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.05.2009
Anhängig
Vertretung
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31.08.2011
Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.07.2005
Erteilt am 31.08.2011
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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03.08.2011
Verfahren zur Entfernung von aktivem Restoxi-Wasserstoff von der Oberfläche oder der Porosität eines Kohlenstoffmaterials
Anorganische Chemie & Werkstoffe
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.06.2002
Erteilt am 03.08.2011
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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20.07.2011
Flugzeitpunkt-Massenspektrometer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.06.2011
Verfahren und Vorrichtung zur Aberrationskorrektur in Ladungsträgerteilchenstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.12.2004
Anhängig
Vertretung
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28.04.2011
Method and system for forming a pattern on a surface using charged particle beam lithography
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.10.2010
Anhängig
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20.04.2011
Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung von Proben
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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29.12.2010
Kernresonanz unter Verwendung von digitaler Quadraturdetektion mit Referenzsignalen variierender Frequenz
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.06.2006
Erteilt am 29.12.2010
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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08.12.2010
Vorrichtung, Verfahren und System zur Probenuntersuchung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.12.2010
Probenhalter, Verfahren zur Beobachtung und Untersuchung und Vorrichtung zur Beobachtung und Untersuchung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.12.2008
Anhängig
Vertretung
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24.11.2010
Verfahren und System zur Probenherstellung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.11.2008
Anhängig
Vertretung
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17.11.2010
NMR-Spektrometer und Verfahren zur NMR-Messung
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.07.2007
Erteilt am 17.11.2010
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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03.11.2010
Vorrichtung und Verfahren zur Aufbereitung von Proben
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.09.2004
Erteilt am 03.11.2010
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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29.09.2010
Teilchenstrahlsystem mit Anordnung zur Korrektur von Abbildungsfehlern höherer Ordnung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.10.2006
Erteilt am 29.09.2010
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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08.09.2010
Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.04.2005
Erteilt am 08.09.2010
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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01.09.2010
Gekühlter NMR-Probenkopf
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.12.2003
Erteilt am 01.09.2010
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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04.08.2010
Teilchenstrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.10.2007
Anhängig
Vertretung
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07.07.2010
Verfahren und Gerät zur Vorbereitung von Proben
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.09.2005
Erteilt am 07.07.2010
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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16.06.2010
Mikrochip mit verschiebbarem Teil und Detektorstelle
Verfahrens- & Trenntechnik
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Status
Angemeldet am 27.06.2007
Erteilt am 16.06.2010
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
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05.05.2010
Vorrichtung und Verfahren zur Bestrahlung mittels Elektronen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.02.2010
Method for improving resist sensitivity
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.08.2009
Anhängig
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Wer vertritt JEOL?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die JEOL vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
302
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
223
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
36
Software & Datenverarbeitung
28
Verfahrens- & Trenntechnik
16
Elektrische Energietechnik
14
Organische Chemie
13
Kunststoff- & Polymertechnik
12
Optik & Fototechnik
9
Verpackungs- & Fördertechnik
5
Elektronik & Schaltungstechnik
4
Medizintechnik & Gesundheit
3