ASML Patente
🇳🇱 Niederlande
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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3.336 gesamt| Patent | |||
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22.02.2023
Metrologiemessverfahren und -Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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15.02.2023
Ladungsteilchenbeurteilungswerkzeug, Inspektionsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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15.02.2023
Seed-Lasersystem für Strahlungsquelle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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15.02.2023
Sensorpositionierungsverfahren, Positionierungssystem, Lithografische Vorrichtung, Metrologievorrichtung und Vorrichtungsherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
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15.02.2023
Beleuchtungsquelle und Zugehörige Messvorrichtung
Optik & Fototechnik
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15.02.2023
Blendenanordnung, Strahlmanipulatoreinheit, Verfahren zum Manipulieren Geladener Teilchenstrahlen und Geladene Teilchenprojektionsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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15.02.2023
Elektrostatischer Halter, Objekttisch und Lithografische Vorrichtung
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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15.02.2023
Überlagerungsmessung unter Verwendung von Ausgeglichenen Kapazitätszielen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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15.02.2023
Verfahren zur Modellierung von Messdaten über eine Substratfläche und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
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15.02.2023
Verfahren zur Modellierung von Messdaten über eine Substratfläche und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
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15.02.2023
Konditioniervorrichtung und -Verfahren
Optik & Fototechnik
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08.02.2023
Stapelausrichtungstechniken
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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08.02.2023
Verfahren zum Bestimmen einer Inspektionsstrategie für eine Gruppe von Substraten in einem Halbleiterherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
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08.02.2023
Flutsäule, Werkzeug für Geladene Teilchen und Verfahren zum Fluten einer Probe mit Geladenen Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.02.2023
Optische Ladungsteilchenvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.02.2023
Bildverbesserung basierend auf Ladungsspeicherreduktion bei der Inspektion von Ladungsteilchenstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.02.2023
Verfahren zur Datenabbildung für Analyse von Niedrigdimensionalen Daten
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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08.02.2023
Anordnung mit einem Nichtlinearen Element und Verfahren zu deren Verwendung
Optik & Fototechnik
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01.02.2023
Verfahren und Vorrichtung für die Metrologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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01.02.2023
Vorrichtung und Verfahren zum Richten eines Ladungsteilchenstrahls auf eine Probe
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.02.2023
Programmierbares Beleuchtungssystem für eine Lithografische Einrichtung
Optik & Fototechnik
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01.02.2023
Metrologieverfahren und Metrologievorrichtung
Optik & Fototechnik
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01.02.2023
Verfahren und Strukturierungsvorrichtungen sowie Vorrichtungen zur Messung der Fokusleistung einer Lithografievorrichtung, Verfahren zur Herstellung der Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.12.2016
Erteilt am 01.02.2023
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01.02.2023
Verfahren, Anordnung und Vorrichtung zur Verbesserten Steuerung von Breitbandstrahlungserzeugung
Optik & Fototechnik
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25.01.2023
Datenverarbeitungsvorrichtung und -Verfahren, System und Verfahren zur Bewertung Geladener Teilchen
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.01.2023
Ausrichtung eines Verzerrten Bildes
Software & Datenverarbeitung
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25.01.2023
Verformbares Spiegelsystem
Optik & Fototechnik
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25.01.2023
Verfahren und Vorrichtung zur Photolithografischen Bildgebung
Optik & Fototechnik
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25.01.2023
Objekthalter, Werkzeug und Verfahren zur Herstellung eines Objekthalters
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.01.2023
Datenverarbeitungsvorrichtung und -Verfahren, System und Verfahren zur Bewertung Geladener Teilchen
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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18.01.2023
Detektor für Geladene Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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18.01.2023
Substratsklemmverfahren in einem Lithographiesystem
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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18.01.2023
Verfahren zur Bestimmung einer Korrektur für mindestens einen Steuerparameter in einem Halbleiterherstellungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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18.01.2023
Systeme und Verfahren zur Signalelektronendetektion
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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18.01.2023
System und Verfahren zur Fehlerprüfung mit Hohem Durchsatz in einem System mit Geladenen Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.01.2023
Verfahren zum Modellieren von Systemen für die Vorausschauende Wartung von Systemen, Wie Lithografischen Systemen
Optik & Fototechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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11.01.2023
Detektor für Geladene Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.01.2023
Elektromagnetisches Motorsystem, Positionssteuerungssystem, Bühnenvorrichtung, Lithographische Vorrichtung, Verfahren zur Bestimmung eines Motorabhängigen Kommutierungsmodells für einen Elektromagnetischen Motor
Optik & Fototechnik
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11.01.2023
Strahlanordnungsgeometrieoptimierer für Mehrstrahl-Inspektionssystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.01.2023
Systeme und Verfahren zur Anpassung von Vorhersagemodellen zwischen Anlagenstandorten
Optik & Fototechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Wer vertritt ASML?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die ASML vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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