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ASML Patente

🇳🇱 Niederlande

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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3.336 gesamt
Patent
22.02.2023
Metrologiemessverfahren und -Vorrichtung
Optik & Fototechnik
15.02.2023
Ladungsteilchenbeurteilungswerkzeug, Inspektionsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.02.2023
Seed-Lasersystem für Strahlungsquelle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.02.2023
Sensorpositionierungsverfahren, Positionierungssystem, Lithografische Vorrichtung, Metrologievorrichtung und Vorrichtungsherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
15.02.2023
Beleuchtungsquelle und Zugehörige Messvorrichtung
Optik & Fototechnik
15.02.2023
Blendenanordnung, Strahlmanipulatoreinheit, Verfahren zum Manipulieren Geladener Teilchenstrahlen und Geladene Teilchenprojektionsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.02.2023
Elektrostatischer Halter, Objekttisch und Lithografische Vorrichtung
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.02.2023
Überlagerungsmessung unter Verwendung von Ausgeglichenen Kapazitätszielen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
15.02.2023
Verfahren zur Modellierung von Messdaten über eine Substratfläche und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
15.02.2023
Verfahren zur Modellierung von Messdaten über eine Substratfläche und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
15.02.2023
Konditioniervorrichtung und -Verfahren
Optik & Fototechnik
08.02.2023
Stapelausrichtungstechniken
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.02.2023
Verfahren zum Bestimmen einer Inspektionsstrategie für eine Gruppe von Substraten in einem Halbleiterherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
08.02.2023
Flutsäule, Werkzeug für Geladene Teilchen und Verfahren zum Fluten einer Probe mit Geladenen Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.02.2023
Optische Ladungsteilchenvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.02.2023
Bildverbesserung basierend auf Ladungsspeicherreduktion bei der Inspektion von Ladungsteilchenstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.02.2023
Verfahren zur Datenabbildung für Analyse von Niedrigdimensionalen Daten
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
08.02.2023
Anordnung mit einem Nichtlinearen Element und Verfahren zu deren Verwendung
Optik & Fototechnik
01.02.2023
Verfahren und Vorrichtung für die Metrologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
01.02.2023
Vorrichtung und Verfahren zum Richten eines Ladungsteilchenstrahls auf eine Probe
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.02.2023
Programmierbares Beleuchtungssystem für eine Lithografische Einrichtung
Optik & Fototechnik
01.02.2023
Metrologieverfahren und Metrologievorrichtung
Optik & Fototechnik
01.02.2023
Verfahren und Strukturierungsvorrichtungen sowie Vorrichtungen zur Messung der Fokusleistung einer Lithografievorrichtung, Verfahren zur Herstellung der Vorrichtung
Optik & Fototechnik
01.02.2023
Verfahren, Anordnung und Vorrichtung zur Verbesserten Steuerung von Breitbandstrahlungserzeugung
Optik & Fototechnik
25.01.2023
Datenverarbeitungsvorrichtung und -Verfahren, System und Verfahren zur Bewertung Geladener Teilchen
Software & Datenverarbeitung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.01.2023
Ausrichtung eines Verzerrten Bildes
Software & Datenverarbeitung
25.01.2023
Verformbares Spiegelsystem
Optik & Fototechnik
25.01.2023
Verfahren und Vorrichtung zur Photolithografischen Bildgebung
Optik & Fototechnik
25.01.2023
Objekthalter, Werkzeug und Verfahren zur Herstellung eines Objekthalters
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.01.2023
Datenverarbeitungsvorrichtung und -Verfahren, System und Verfahren zur Bewertung Geladener Teilchen
Software & Datenverarbeitung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.01.2023
Detektor für Geladene Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.01.2023
Substratsklemmverfahren in einem Lithographiesystem
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.01.2023
Verfahren zur Bestimmung einer Korrektur für mindestens einen Steuerparameter in einem Halbleiterherstellungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
18.01.2023
Systeme und Verfahren zur Signalelektronendetektion
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.01.2023
System und Verfahren zur Fehlerprüfung mit Hohem Durchsatz in einem System mit Geladenen Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.01.2023
Verfahren zum Modellieren von Systemen für die Vorausschauende Wartung von Systemen, Wie Lithografischen Systemen
Optik & Fototechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
11.01.2023
Detektor für Geladene Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.01.2023
Elektromagnetisches Motorsystem, Positionssteuerungssystem, Bühnenvorrichtung, Lithographische Vorrichtung, Verfahren zur Bestimmung eines Motorabhängigen Kommutierungsmodells für einen Elektromagnetischen Motor
Optik & Fototechnik
11.01.2023
Strahlanordnungsgeometrieoptimierer für Mehrstrahl-Inspektionssystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.01.2023
Systeme und Verfahren zur Anpassung von Vorhersagemodellen zwischen Anlagenstandorten
Optik & Fototechnik Steuerungs- & Regelungstechnik

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