Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
3.840 gesamt| Patent | |||
|---|---|---|---|
|
28.08.2014
Automated Analyzer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 29.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
21.08.2014
Sample observation device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 17.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
13.08.2014
Phasenverschiebungsmaske, Verfahren zur Bildung einer Asymmetrischen Struktur, Herstellungverfahren für ein Beugungsgitter und Herstellungsverfahren für ein Halbleiterbauelement
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 13.09.2012
Anhängig
Vertretung
Calderbank, Thomas Roger · London
Mewburn Ellis LLP · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.08.2014
Defect observation method and defect observation device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 06.12.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.08.2014
Defect inspection device and defect inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 16.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.08.2014
Automatic Analyzer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.08.2014
Orbitron pump and electron ray device provided with orbitron pump
Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen)
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 29.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.08.2014
Ion milling device, and ion milling working method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.08.2014
Inspection method and inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 30.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.08.2014
Pattern evaluation device and visual inspection device comprising pattern evaluation device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
|
|||
|
Status
Angemeldet am 27.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.08.2014
Composite charged particle beam detector, charged particle beam device, and charged particle beam detector
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.08.2014
Method and device for mass spectrometry
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 27.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.08.2014
Inspection method and inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 30.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.08.2014
Device for dust emitting of foreign matter and dust emission cause analysis device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 24.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
06.08.2014
Zellreihenstruktur für eine Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
31.07.2014
Charged particle beam apparatus and trajectory correction method in charged particle beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 21.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
31.07.2014
Method for pattern measurement, method for setting device parameters of charged particle radiation device, and charged particle radiation device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 22.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
31.07.2014
Surface Gauge
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
31.07.2014
Charged particle beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 22.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
30.07.2014
Phasenplatte
Elektrische Energietechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 31.01.2012
Erteilt am 30.07.2014
Vertretung
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
24.07.2014
Inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 19.12.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
24.07.2014
Measurement inspection device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 22.11.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
24.07.2014
Apparatus and method for processing sample, and charged particle radiation apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
24.07.2014
Charged-particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.01.2014
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
17.07.2014
Charged-particle beam device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 11.12.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
17.07.2014
Inspection device and adjusting method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 19.12.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
16.07.2014
Elektronenstrahlvorrichtung mit Dunkelfelddetektor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 07.01.2004
Erteilt am 16.07.2014
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
03.07.2014
Defect observation method and defect observation device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 29.11.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
03.07.2014
Genetic testing device, genetic testing method and program
Pharma & Biotechnologie
|
|||
|
Status
Angemeldet am 19.12.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
03.07.2014
Pattern shape evaluation method, semiconductor device manufacturing method, and pattern shape evaluation device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 25.12.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
03.07.2014
Defect inspection method and defect inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 11.12.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
03.07.2014
Charged particle beam device and method for analyzing defect therein
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 26.12.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
26.06.2014
Method for transmitting control data for system changes between liquid chromatographs
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 11.11.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
12.06.2014
Liquid chromatography device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 11.11.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
12.06.2014
Glass/resin composite structure and method for manufacturing same
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Farben, Klebstoffe & Brennstoffe
|
|||
|
Status
Angemeldet am 01.11.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.06.2014
Solar cell module and method for manufacturing same
Verfahrens- & Trenntechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 01.11.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.06.2014
Charged particle beam device and program
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.11.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.06.2014
Charged-particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 25.11.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
04.06.2014
Probenregal und Probenträgersystem
Verfahrens- & Trenntechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 29.05.2008
Erteilt am 04.06.2014
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
30.05.2014
Charged particle beam device, sample stage unit, and sample observation method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 21.11.2013
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
2.200
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.630
Software & Datenverarbeitung
257
Pharma & Biotechnologie
247
Verfahrens- & Trenntechnik
148
Optik & Fototechnik
92
Elektronik & Schaltungstechnik
83
Medizintechnik & Gesundheit
71
Elektrische Energietechnik
64
Verpackungs- & Fördertechnik
58
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
41
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
29