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ASML Patente

🇳🇱 Niederlande

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

5.380
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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5.380 gesamt
Patent
17.04.2025
Surface Member
WO2025078097
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Farben, Klebstoffe & Brennstoffe
17.04.2025
Method of determining a sampling scheme and associated metrology method
WO2025078092
Optik & Fototechnik
17.04.2025
Method of monitoring performance, method of manufacturing devices, computer program and lithographic apparatus
WO2025078098
Optik & Fototechnik
17.04.2025
Aberration Correction in A Metrology System
WO2025078101
Optik & Fototechnik
17.04.2025
Cooling and mechanical structure for a distributed wound poly-phase forcer
WO2025078109
Elektrische Energietechnik
17.04.2025
Systems and methods for distortion correction in charged-particle beam imaging
WO2025078106
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.04.2025
Photolithography apparatus cordierite body
WO2025078110
Optik & Fototechnik
17.04.2025
System and method for providing output radiation
WO2025078154
Optik & Fototechnik
17.04.2025
Metrology method and associated metrology device
WO2025078166
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.04.2025
Wavefront measurement for multi core optical fiber in semiconductor metrology systems and methods
WO2025078100
Optik & Fototechnik
17.04.2025
Electron-beam imaging system
WO2025078213
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.04.2025
Verfahren zur Herstellung von Photonischen Kristallfasern
EP4536601
Anorganische Chemie & Werkstoffe
16.04.2025
Ladungsteilchenstrahlvorrichtung mit Schneller Fokuskorrektur und Verfahren dafür
EP4537381
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.04.2025
Metrologieverfahren und Zugehörige Metrologievorrichtung
EP4538794
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.04.2025
Verfahren zur Bestimmung eines Abtastschemas und Zugehöriges Metrologieverfahren
EP4538797
Optik & Fototechnik
16.04.2025
Verfahren zum Entwurf eines Fokusziels für Fokusmetrologie
EP4538793
Optik & Fototechnik
16.04.2025
Elektronenstrahl-Bilderzeugungssystem
EP4539091
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.04.2025
Vertikal Föderiertes Training eines von Verschiedenen Teilnehmern Verwendeten Maschinenlernmodells zur Konfiguration eines Halbleiterherstellungsprozesses
EP4538796
Optik & Fototechnik
16.04.2025
Vertraulichkeitsbewahrendes Kollaboratives Modell zur Ableitung von Informationen in einem Produktionssystem
EP4538938
Software & Datenverarbeitung
16.04.2025
Breitbandige Lichtquellenanordnung
EP4538786
Optik & Fototechnik
16.04.2025
Ansichtsfensteranordnung für eine Extrem-Ultraviolett-Lichtquelle
EP4537158
Optik & Fototechnik Elektronik & Schaltungstechnik
10.04.2025
Fehlererkennung aus einer Scan-Elektronenmikroskop-Basierten Tiefenkarte mit Neuronalem Netzwerk und Defektstärkenschwellen
EP4789166
Software & Datenverarbeitung
10.04.2025
Radiation spectrum configuration system
WO2025073428
Optik & Fototechnik
10.04.2025
A method of refurbishing a substrate support
WO2025073433
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.04.2025
Broadband Light Source Assembly
WO2025073435
Optik & Fototechnik
10.04.2025
Methods and assemblies for wavelength calibration
WO2025073459
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.04.2025
Pulse compression for sample assessment
WO2025073497
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.04.2025
Defect detection from a scanning electron microscope derived depth map with neural network and defect strength thresholding
WO2025073610
Software & Datenverarbeitung
09.04.2025
Reflektor und Verfahren zur Herstellung eines Reflektors
EP3807718
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
09.04.2025
Verfahren zur Verarbeitung von Daten aus einer Probe
EP4533075
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.04.2025
System zur Strahlungserweiterung
EP4535071
Optik & Fototechnik
09.04.2025
Manipulatorvorrichtung zum Manipulieren eines oder mehrerer Bündel Geladener Teilchen und System für Geladene Teilchen Dieselbe enthaltend
EP3648114
Optik & Fototechnik Elektrische Energietechnik
09.04.2025
Verfahren zur Erneuerung eines Substratträgers
EP4535083
Optik & Fototechnik
03.04.2025
A method of spectrally configuring measurement illumination of a metrology tool and associated apparatuses
WO2025067761
Optik & Fototechnik
03.04.2025
A measurement system and a diffraction grating therefor
WO2025067757
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
03.04.2025
Masking Module
WO2025067759
Optik & Fototechnik
03.04.2025
Methodology To Predict A Part Per Trillion Failure Rate
WO2025067792
Optik & Fototechnik
03.04.2025
Systeme und Verfahren zur Kontaktlosen Messung von Energiebarrieren Während der Vorrichtungsherstellung
EP4785380
03.04.2025
Lithographic apparatus, metrology systems, digital holographic microscopy alignment sensor, and method thereof
WO2025067799
Optik & Fototechnik
03.04.2025
Speeding up forward electromagnetic computations for sxr reconstruction
WO2025067831
Optik & Fototechnik

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Technologiefelder

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Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Elektronik & Schaltungstechnik
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Elektrische Energietechnik
171
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67
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60
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55
Anorganische Chemie & Werkstoffe
39
Metallurgie & Oberflächentechnik
35

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