ASML Patente
🇳🇱 Niederlande
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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3.336 gesamt| Patent | |||
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01.11.2023
Elektronenoptische Säule und Verfahren zum Richten eines Primärelektronenstrahles auf eine Probe
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.11.2023
Elektronenlinse
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.10.2023
Computerimplementiertes Verfahren zur Steuerung eines Herstellungsverfahrens
Optik & Fototechnik
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25.10.2023
Vorrichtung mit mehreren Geladenen Teilchenstrahlen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.01.2017
Erteilt am 25.10.2023
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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25.10.2023
Verfahren zum Filtern von Falschen Positiven für einen Pixelierten Elektronendetektor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.10.2023
Thermisch Unterstützte Inspektion durch Erweitertes Ladungssteuerungsmodul in einem System mit Geladenen Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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18.10.2023
Verfahren zur Räumlichen Ausrichtung einer Strukturierungsvorrichtung und eines Substrats
Optik & Fototechnik
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18.10.2023
Komponente und Verfahren für eine Lithographievorrichtung
Optik & Fototechnik
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18.10.2023
Verfahren zur Bestimmung einer Korrektur zur Steuerung eines Lithographischen Und/oder Metrologischen Prozesses und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
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18.10.2023
Metrologieverfahren und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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18.10.2023
Verfahren und Computerprogramm zum Gruppieren von Musterstrukturen eines im Wesentlichen Unregelmässigen Musterlayouts
Optik & Fototechnik
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11.10.2023
Werkzeug für Geladene Teilchen, Kalibrierungsverfahren, Inspektionsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.10.2023
Beurteilungswerkzeug für Geladene Teilchen, Inspektionsverfahren und Bild
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.10.2023
Sensorsubstrat, Gerät und Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.10.2023
Vorrichtung und Verfahren zum Bestimmen eines Winkelaufgelösten Reflexionsprofils
Optik & Fototechnik
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04.10.2023
Metrologievorrichtung auf Basis von Erzeugung Hoher Oberschwingungen und Zugehöriges Verfahren
Optik & Fototechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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04.10.2023
Flüssigkeitshandhabungssystem, Verfahren und Lithografische Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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04.10.2023
Verfahren zur Bestimmung der Markierungsstruktur von Überlagerten Fingerabdrücken
Optik & Fototechnik
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04.10.2023
Hochpräzises Temperaturkompensiertes Piezoresistives Positionsmesssystem
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.10.2023
Verfahren zur Bestimmung der Räumlichen Verteilung eines Relevanten Parameters über mindestens ein Substrat oder einen Teil davon
Optik & Fototechnik
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04.10.2023
Strahlungsquelle
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.08.2018
Erteilt am 04.10.2023
Vertretung
Willekens, Jeroen Pieter Frank · Eindhoven
Hoyng Rokh Monegier B.V · Amsterdam
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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04.10.2023
Verfahren in Bezug auf ein Autocoder-Modell oder Ähnliches zum Herstellen von Prozessparameterschätzung
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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27.09.2023
Einrichtungs- und Kontrollverfahren für einen Lithografischen Prozess und Zugehörige Geräte
Optik & Fototechnik
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27.09.2023
Elektrostatische Klemme
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.09.2023
Vorrichtung und Verfahren für Geladene Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.09.2023
Ladungsteilchenvorrichtung und -Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.09.2023
Vorrichtung und Verfahren zur Filterung von Messstrahlung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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20.09.2023
Auf Aktivem Lernen Basierende Defektortidentifizierung
Optik & Fototechnik
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20.09.2023
Aktuator, Linearmotor und Lithographische Vorrichtung
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 03.05.2018
Erteilt am 20.09.2023
Vertretung
Nouwens, Johannes Wilhelmus Henricus · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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20.09.2023
Anordnung einer Objektivlinsengruppe, Elektronenoptisches System, Elektronenoptisches Systemarray, Verfahren zur Fokussierung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.09.2023
Verfahren zur Bestimmung einer Vertikalen Position einer Struktur auf einem Substrat und Zugehörige Vorrichtungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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20.09.2023
Verfahren und Computerprogramme zur Konfiguration eines Abtastschemaerzeugungsmodells
Optik & Fototechnik
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20.09.2023
Beleuchtungsanordnung für eine Metrologievorrichtung und Zugehöriges Verfahren
Optik & Fototechnik
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20.09.2023
Verfahren zur Bestimmung eines Abtastschemas, Halbleitersubstratmessvorrichtung, Lithografische Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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20.09.2023
Verfahren und Vorrichtung zur Thermischen Verformung eines Optischen Elements
Optik & Fototechnik
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13.09.2023
Verfahren zur Korrektur von Messungen bei der Herstellung von Integrierten Schaltungen und Zugehörige Vorrichtungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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13.09.2023
Positionsbestimmung in einem Lithografiesystem mit einem Substrat mit Teilweise Reflektierender Druckmarke
Optik & Fototechnik
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06.09.2023
Schwingungsisolator zum Unterstützen einer Nutzlast
Maschinenelemente & Fluidtechnik
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06.09.2023
Modensteuerung von auf Photonischer Kristallfaser Basierenden Breitbandlichtquellen
Optik & Fototechnik
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06.09.2023
Retikel Stage
Optik & Fototechnik
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Die Kanzleien und Patentanwälte, die ASML vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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