JEOL Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
288 gesamt| Patent | |||
|---|---|---|---|
|
14.11.2007
Magentischer Energiefilter
|
|||
|
Status
Angemeldet am 31.05.2000
Erteilt am 14.11.2007
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
10.10.2007
Verfahren zur Optimisierung eines Parameters einer NMR-Messung
|
|||
|
Status
Angemeldet am 28.04.2004
Erteilt am 10.10.2007
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
30.05.2007
Vorrichtung zur organischen Synthese und Reaktionen
EP1790411
Verfahrens- & Trenntechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 24.11.2006
Anhängig
Vertretung
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
17.01.2007
Energiefilter und seine Verwendung in einem Elektronenmikroskop
|
|||
|
Status
Angemeldet am 03.07.2000
Erteilt am 17.01.2007
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
03.01.2007
Teilchenstrahlapparat und Verfahren zur Untersuchung einer Probe unter Verwendung des Teilchenstrahlapparats
EP1739713
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.07.2006
Raster Ladungsträgerstrahlgerät
|
|||
|
Status
Angemeldet am 07.07.2000
Erteilt am 05.07.2006
Vertretung
Cross, Rupert Edward Blount · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
14.06.2006
Nmr-Sonde zur Messung einer Hohen Temperatur
EP1669771
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
26.10.2005
Verfahren zur Ermittlung Geometrisch Optischer Abbildungsfehler
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.12.2000
Erteilt am 26.10.2005
Vertretung
Pöhner, Wilfried Anton, Dr · Würzburg
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
19.10.2005
Verfahren der Quantifizierung eines Magnetresonanzspektrums
EP1586915
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
06.10.2004
Alkalische Waschlösung für Klinische Analyseautomaten
EP1253187
Farben, Klebstoffe & Brennstoffe
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.05.2003
System und Verfahren zur Wafer-Halterung und Evakuierung in einer Elektronenbestrahlungsanlage
EP1308985
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
Wer vertritt JEOL?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die JEOL vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-Profil