JEOL Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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520 gesamt| Patent | |||
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26.05.2021
Induktive Kopplung zur Mehrfachresonanz in einer Kernspinresonanzsonde und Verfahren zur Verwendung
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.03.2017
Erteilt am 26.05.2021
Vertretung
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26.05.2021
Standardkalibrierungslösung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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26.05.2021
Aktuator, Probenpositionierungsvorrichtung und Ladungsteilchenstrahlsystem
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.05.2021
Elektronenkanone, Elektronenmikroskop, Vorrichtung zur Dreidimensionalen Generativen Fertigung und Verfahren zur Anpassung des Stroms einer Elektronenkanone
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
An electron gun includes a cathode that is heated to emit thermions; a cathode heating power supply that supplies a cathode heating current for heating the cathode; a grid that has a first aperture formed therein and that has a grid voltage applied thereto, the grid voltage having a potential lower than that of the cathode, wherein the grid converges the thermions passing through the first aperture by the grid voltage; an anode that has a second aperture formed therein and that has an anode voltage applied thereto, wherein the anode causes the thermions extracted from the cathode to pass through the second aperture as an electron beam by the anode voltage; an anode-voltage power supply that applies the anode voltage to the anode; and a controller that causes the anode voltage having a positive potential to be applied from the anode-voltage power supply to the anode. |
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12.05.2021
Deflektor und System für Geladene Teilchenstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.05.2021
Rastertransmissions-Elektronenmikroskop und Aberrationskorrekturverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
In a scanning transmission electron microscope, a control unit performs: processing of calculating a first auto-correlation function that is an auto-correlation function of a first scanning transmission electron microscope image; processing of acquiring a first intensity profile along a straight line that passes through a center of the first auto-correlation function; processing of obtaining a position of an inflection point that is closest to the center of the first auto-correlation function in the first intensity profile and adopting an intensity at the position as a first reference intensity; processing of obtaining an aberration coefficient by fitting a first aberration function to an isointensity line that connects positions where intensity is equal to the first reference intensity in the first auto-correlation function and by fitting a second aberration function to an isointensity line that connects positions where intensity is equal to a second reference intensity in a second auto-correlation function; and processing of controlling an electron optical system based on the aberration coefficient. |
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05.05.2021
Vakuumvorrichtung und Verfahren zur Fehlerbehebung
Steuerungs- & Regelungstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.05.2021
Teilchenstrahlvorrichtung und Steuerungsverfahren für Teilchenstrahlvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.04.2021
Teilchenstrahlapparat und Bilderfassungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.04.2021
Verfahren zur Herstellung einer Triazolidindionverbindung
Organische Chemie
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Status
Angemeldet am 11.06.2019
Anhängig
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21.04.2021
Triazolindionaddukt, Verfahren zur Herstellung eines Triazolindionaddukts, Verfahren zur Herstellung einer Enverbindung und Verfahren zur Analyse einer Enverbindung
Organische Chemie
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Status
Angemeldet am 11.06.2019
Anhängig
Vertretung
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07.04.2021
Datenverarbeitungsvorrichtung und Datenverarbeitungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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31.03.2021
Arbeitstisch und Halter für Musterchips
Verfahrens- & Trenntechnik
Optik & Fototechnik
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31.03.2021
Eingangslinse und Elektronenspektrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.03.2021
Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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17.03.2021
Ladungsteilchenstrahlvorrichtung und Analyseverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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17.03.2021
Verfahren zur Erfassung eines Dunkelfeldbildes
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.03.2021
Probenplattenhalter
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.03.2021
Vorrichtung und Verfahren zur Generativen Fertigung mit Erkennung von Abnormalitäten im Pulverbett
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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03.03.2021
Probenträger und Verfahren zur Herstellung davon
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
There is provided a sample support capable of easily placing a sample into position. The sample support (100) is used such that a sample floating on the surface of water is scooped and held. The sample support (100) has: a first region (2) on which the sample is to be placed; and a second region (4) of higher wettability than the first region (2). |
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03.03.2021
Massenanalysevorrichtung und Massenanalyseverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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03.03.2021
Vorrichtung zur Massenspektrumverarbeitung und Modellerzeugungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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03.03.2021
Analyseverfahren und Röntgenlichtelektronenspektroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.09.2016
Erteilt am 03.03.2021
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
An analysis method includes: acquiring a photoelectron spectrum and an X-ray-excited Auger spectrum, the photoelectron spectrum being obtained by detecting photoelectrons emitted from a specimen (S) by irradiating the specimen with X-rays, and the X-ray-excited Auger spectrum being obtained by detecting Auger electrons emitted from the specimen (S) by irradiating the specimen (S) with X-rays; calculating a quantitative value of each element included in the specimen (S) based on the photoelectron spectrum; and performing a curve fitting process on the X-ray-excited Auger spectrum by using an electron beam-excited Auger electron standard spectrum, and calculating a quantitative value of an analysis target element in each chemical bonding state included in the specimen (S). |
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24.02.2021
Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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03.02.2021
Automatisiertes Analysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.12.2011
Erteilt am 03.02.2021
Vertretung
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20.01.2021
Nmr-Sonde
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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23.12.2020
Rasterelektronenmikroskop und Analyseverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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16.12.2020
Verfahren zur Steuerung eines Transmissionselektronenmikroskops und Transmissionselektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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16.12.2020
Vorrichtung und Verfahren zur Schätzung einer Zusammensetzung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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09.12.2020
Raster-Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.12.2020
Behälterzuführeinheit und Automatische Analysevorrichtung
Verpackungs- & Fördertechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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25.11.2020
Bildverarbeitungsverfahren und Transmissionselektronenmikroskop
Software & Datenverarbeitung
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18.11.2020
System mit Geladenem Teilchenstrahl und mit Optischer Bildgebungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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23.09.2020
Verfahren zur Herstellung einer Festen Triazolinindionverbindung, Feste Triazolinonverbindungn und Verfahren zur Herstellung einer Triazolinindionverbindung
Organische Chemie
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Status
Angemeldet am 11.06.2019
Anhängig
Vertretung
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09.09.2020
Elektronenmikroskop geeignet zum Einführen einer Beliebigen Aberration
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.09.2020
Probenaustauschvorrichtung und Ladungsteilchenstrahlvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.08.2020
Probenvorbereitungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.11.2015
Erteilt am 26.08.2020
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
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19.08.2020
Automatische Analysevorrichtung
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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12.08.2020
Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.08.2020
Vorrichtung zur Dreidimensionalen Generativen Fertigung mit einem Elektronenstrahl
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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