JEOL Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
520 gesamt| Patent | |||
|---|---|---|---|
|
12.08.2020
Vorrichtung zu Aberrationskorrektur und Elektronenmikroskop mit Dieser Vorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
12.08.2020
System mit Geladenen Teilchenstrahlen und Verfahren zur Messung einer Probe mit einem Rasterelektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.08.2020
Supraleitende HF-Spule und Verfahren zu seiner Einrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 19.12.2012
Erteilt am 05.08.2020
Vertretung
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
29.07.2020
Probenhalter und Probenpräparierungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 13.11.2015
Erteilt am 29.07.2020
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
Boult Wade Tennant LLP · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
22.07.2020
Röntgenstrahlanalysator und Spektrumerzeugungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
17.06.2020
Verfahren zur Aberrationsmessung und Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
17.06.2020
Instrument und Verfahren für klinische Untersuchungen, und Reinigungsverfahren dafür
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 12.06.2012
Erteilt am 17.06.2020
Vertretung
Zusammenfassung
An automated clinical analyzer is offered which can clean the nozzles (S1-S5, I1-I5) of a reaction cuvette wash unit (23) with a simple structure and with simple manipulations. A detergent is put in first reagent containers (9) located on a first reagent turntable (10). A computer controller (51) drives a first reagent pipette (17) to aspirate the detergent from the first reagent containers (9) and to deliver the detergent into reaction cuvettes (11). The controller (51) drives a reaction turntable (12) to bring each reaction cuvette (11) holding the detergent therein to the reaction cuvette wash unit (23). The controller (51) drives the reaction cuvette wash unit (23) to aspirate the detergent from inside the reaction cuvettes (11) using reaction cuvette wash nozzles (S1-S5, I1-I4) to thereby clean the wash nozzles. |
|||
|
10.06.2020
Rastertransmissionselektronenmikroskop und Verfahren zur Bilderzeugung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 28.11.2017
Erteilt am 10.06.2020
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
There is provided a scanning transmission electron microscope capable of producing plural types of STEM (scanning transmission electron microscopy) images using a single detector. The electron microscope (100) has an electron source (10) emitting an electron beam, a scanning deflector (13) for scanning the beam over a sample (S), an objective lens (14) for focusing the beam, an imager (22) placed at a back focal plane of the objective lens (14) or at a plane conjugate with the back focal plane, and a scanned image generator (40) for generating scanned images on the basis of images captured by the imager. The scanned image generator (40) operates to form electron diffraction patterns from the electron beam passing through positions on the sample by the scanning of the electron beam, to capture the electron diffraction patterns by the imager so that plural images are produced, to integrate the intensity of each pixel over an integration region that is set based on the size of an image of a transmitted wave in a respective one of the produced images for each of the produced images such that the signal intensity at each position on the sample is found, and to generate the scanned images on the basis of the signal intensities at the positions on the sample. |
|||
|
03.06.2020
Verzerrungskorrekturverfahren und Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
06.05.2020
Elektronenmikroskop und Bildverarbeitungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
15.04.2020
Elektronenstrahlsystem zur Aberrationskorrektur
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
15.04.2020
Dreidimensionales Bildrekonstruktionsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
25.03.2020
Primärstrahlabtastvorrichtung und Signalverarbeitungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
25.03.2020
Magnetresonanzsignalsensormodul
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
11.03.2020
Induktive Kopplung in Mehrfachresonanzschaltungen in einer Kernspinresonanzsonde und Verfahren zur Verwendung
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 14.03.2017
Erteilt am 11.03.2020
Vertretung
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
19.02.2020
Oberflächenanalysevorrichtung und Probehöhenanpassungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
12.02.2020
Magnetresonanzmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 22.07.2015
Erteilt am 12.02.2020
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
Boult Wade Tennant LLP · London
Zusammenfassung
In a magnetic resonance measurement apparatus such as an NMR measurement apparatus, when a frequency of an observation nucleus falls within a high frequency band, an RF reception signal is converted into an intermediate frequency signal, and is input to an analog-to-digital converter. In this case, under-sampling is executed for the intermediate frequency signal in the analog-to-digital converter, and a second-order aliased signal component generated from a target signal component is observed. On the other hand, when the frequency of the observation nucleus falls within a low frequency band, the RF reception signal is input to the analog-to-digital converter without being processed, over-sampling for the RF reception signal is executed, and the target signal component itself is observed. |
|||
|
29.01.2020
Objektivlinse und Transmissionselektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 19.09.2017
Erteilt am 29.01.2020
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
18.12.2019
Magnetisch Gekoppelte Hochauflösende Kernmagnetische Messsonde und Verfahren zur Verwendung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 08.04.2016
Erteilt am 18.12.2019
Vertretung
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
18.12.2019
Aberrationsmessverfahren und Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
11.12.2019
Automatischer Analysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.11.2019
Ladungsteilchenstrahlvorrichtung und Bilderfassungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
20.11.2019
Verfahren zur Derivatisierung einer S-Cis-Dien-Verbindung, Derivatisierungsreagenz-Kit und Verfahren zur Analyse einer S-Cis-Dien-Verbindung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 28.09.2017
Erteilt am 20.11.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
06.11.2019
Messverfahren und Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
16.10.2019
Magnetresonanzvorrichtung mit Mitteln zur Verarbeitung eines Transmissions- und Empfangssignals
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 22.07.2015
Erteilt am 16.10.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
09.10.2019
Kombination von Nmr-Messungen in der Flüssigen und Festen Phase
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 07.12.2017
Erteilt am 09.10.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
25.09.2019
Verfahren zur Bildaufnahme und Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 05.12.2017
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
04.09.2019
Magnetresonanzmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
|
|||
|
Status
Angemeldet am 22.07.2015
Erteilt am 04.09.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
21.08.2019
Spinnersteuerung für NMR-Probenröhrchen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 17.04.2014
Erteilt am 21.08.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
Boult Wade Tennant LLP · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.08.2019
Bildprozessor, Elektronenmikroskop und Bildverarbeitungsverfahren
Software & Datenverarbeitung
|
|||
|
Status
Angemeldet am 05.05.2016
Erteilt am 07.08.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
Boult Wade Tennant LLP · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.08.2019
Teilchenstrahlsystem und Messverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 06.09.2016
Erteilt am 07.08.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
Boult Wade Tennant LLP · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
31.07.2019
Rasterelektronenmikroskop und Messverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
29.05.2019
Verfahren zur Probenuntersuchung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 30.11.2007
Erteilt am 29.05.2019
Vertretung
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
08.05.2019
Informationsverarbeitungsvorrichtung und Informationsverarbeitungsverfahren
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 17.09.2015
Erteilt am 08.05.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
03.04.2019
Elektronenmikroskop und Bildaufnahmeverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 13.06.2017
Erteilt am 03.04.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.03.2019
Elektronenstrahlsystem zur Aberrationskorrektur
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 30.08.2007
Erteilt am 27.03.2019
Vertretung
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
14.03.2019
Automated analysis device and method for detecting abnormality of sample dispensing mechanism
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 03.09.2018
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
06.03.2019
Nmr-Messsonde
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.01.2017
Erteilt am 06.03.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
Boult Wade Tennant LLP · London
Zusammenfassung
A sample tube (50) is arranged in a sample temperature adjusting pipe, and a temperature adjustment gas is supplied. A vacuum vessel (28) is formed with the sample temperature adjusting pipe (24) and an outer wall body (26), and a detection coil (52) to be placed in a cooling state are arranged in the vacuum vessel. A sealed section between the sample temperature adjusting pipe and the outer wall body is sealed by a sealing structure. The sealing structure includes a high-vacuum O-ring (60) and a low-temperature O-ring (58). The high-vacuum O-ring has characteristics for sealing the sealed section in a regular temperature region. The regular temperature region is a temperature region excluding a low temperature region, and the low temperature region is a temperature region including a lower limit in a possible temperature adjustment range of the temperature adjustment gas. The low-temperature O-ring has characteristics for sealing the sealed section in the low temperature region. |
|||
|
06.03.2019
Elektronenmikroskop und Verfahren zu dessen Betrieb
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 28.07.2017
Erteilt am 06.03.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
14.11.2018
Elektronenmikroskop und Steuerungsverfahren
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
Wer vertritt JEOL?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die JEOL vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-Profil