KLA Corporation Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

1.908

Patente

2000–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

1.908 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
12.03.2015	12.03.2015 Apparatus and method for accurate measurement and mapping of forward and reverse-bias current-voltage characteristics of large area lateral p-n junctions WO2015034936 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.09.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.03.2015	12.03.2015 Method and apparatus for non-contact measurement of forward voltage, saturation current density, ideality factor and i-v curves in p-n junctions WO2015034941 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.09.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.03.2015	05.03.2015 Determining information for cells WO2015030835 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.09.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.03.2015	05.03.2015 Removing Process-Variation-Related Inaccuracies From Scatterometry Measurements WO2015031337 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.03.2015	05.03.2015 Scratch filter for wafer inspection WO2015031397 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.03.2015	05.03.2015 Tuning wafer inspection recipes using precise defect locations WO2015031781 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.03.2015	04.03.2015 Vorrichtung und Verfahren zur Hochauflösenden Elektronenstrahlbildgebung EP2842152 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.04.2013 Anhängig Vertretung Keane, Paul Fachtna · Dublin FRKelly · Dublin Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.02.2015	26.02.2015 Metrology tool with combined xrf and saxs capabilities WO2015026855 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.02.2015	26.02.2015 Block-To-Block Reticle Inspection WO2015027198 Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.02.2015	26.02.2015 Qualifying patterns for microlithography WO2015026942 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.02.2015	26.02.2015 Broadband and wide field angle compensator WO2015027200 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.02.2015	26.02.2015 Method and system for high speed height control of a substrate surface within a wafer inspection system WO2015027110 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.02.2015	26.02.2015 Multi-Model Metrology WO2015027088 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.02.2015	19.02.2015 System and method for separation of pump light and collected light in a laser pumped light source WO2015023886 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.02.2015	19.02.2015 System and method for imaging a sample with a laser sustained plasma illumination output WO2015023882 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.02.2015	18.02.2015 System und Verfahren zur Aufbereitung eines Degradierten Bildsensors durch Extreme Uv-Strahlung oder Tiefe Uv-Strahlung EP2837174 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.04.2013 Anhängig Vertretung Keane, Paul Fachtna · Dublin Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.02.2015	18.02.2015 Temperaturregelung in einem Euv-Fotomasken-Inspektionswerkzeug EP2836817 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.04.2013 Anhängig Vertretung Keane, Paul Fachtna · Dublin Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.02.2015	12.02.2015 Setting up a wafer inspection process using programmed defects WO2015021206 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.02.2015	12.02.2015 Adaptive local threshold and color filtering WO2015021417 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.02.2015	12.02.2015 Methods and apparatus for patterned wafer characterization WO2015021026 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.02.2015	12.02.2015 Adaptive electrical testing of wafers WO2015020918 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.02.2015	12.02.2015 Multi-spot illumination for improved detection sensitivity WO2015021411 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.02.2015	11.02.2015 System und Verfahren zur Reinigung von Oberflächen und Komponenten einer Maske und Waferinspektionssystem auf Basis der Positiven Säule eines Glühentladungsplasmas EP2834708 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.04.2013 Anhängig Vertretung Keane, Paul Fachtna · Dublin Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.02.2015	05.02.2015 Monitoring Changes in Photomask Defectivity WO2015017453 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.07.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.02.2015	04.02.2015 Modelloptimierungsansatz auf der Basis von Spektraler Empfindlichkeit EP2831784 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.03.2013 Anhängig Vertretung Keane, Paul Fachtna · Dublin WP Thompson · Liverpool Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.02.2015	04.02.2015 Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung Verborgener Defekte EP2831908 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.03.2013 Anhängig Vertretung Keane, Paul Fachtna · Dublin Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.01.2015	29.01.2015 Reflection symmetric scatterometry overlay targets and methods WO2015013621 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.07.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.01.2015	28.01.2015 Verfahren und Vorrichtung zur Spektrallumineszenzmessung EP2828628 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.03.2013 Anhängig Vertretung Keane, Paul Fachtna · Dublin FRKelly · Dublin Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.01.2015	22.01.2015 Producing resist layers using fine segmentation WO2015009619 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.07.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.01.2015	22.01.2015 Illumination configurations for scatterometry measurements WO2015009739 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.07.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.01.2015	21.01.2015 Verfahren und System zur Bestimmung einer oder mehrerer Optischer Eigenschaften einer Struktur eines Halbleiterwafers EP2826063 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.01.2013 Anhängig Vertretung Keane, Paul Fachtna · Dublin Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.01.2015	15.01.2015 Metrology tool stage configurations and operation methods WO2015006598 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.07.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.01.2015	15.01.2015 Methods and systems for detecting repeating defects on semiconductor wafers using design data WO2015006230 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.07.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.01.2015	15.01.2015 Combined x-ray and optical metrology WO2015006234 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.07.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.01.2015	15.01.2015 Identifying registration errors of dsa lines WO2015006604 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.07.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.01.2015	15.01.2015 Aperture Alignment in Scatterometry Metrology Systems WO2015006233 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.07.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.12.2014	31.12.2014 Optische Metrologie mit Zielen mit Feldverstärkungselementen EP2817612 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.02.2013 Anhängig Vertretung Keane, Paul Fachtna · Dublin FRKelly · Dublin Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.12.2014	31.12.2014 Tdi imaging system with variable voltage readout clock signals WO2014210359 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.06.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.12.2014	31.12.2014 Method and system for improving wafer surface inspection sensitivity WO2014210197 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.06.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.12.2014	31.12.2014 Calculated electrical performance metrics for process monitoring and yield management WO2014210194 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.06.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen