Nikon Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
5.286 gesamt| Patent | |||
|---|---|---|---|
|
11.09.2002
Linsenaufbau für Elektronenstrahlsaüle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 05.03.2002
Anhängig
Vertretung
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
06.09.2002
X-ray reflective mask, method of protecting the reflective mask, x-ray exposure device, and method of manufacturing semiconductor device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 26.02.2002
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
29.08.2002
Exposure system, exposure device and device production method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 19.02.2002
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
22.08.2002
Light source device and light irradiating device and production method for device
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 14.02.2002
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
22.08.2002
Lens-barrel, exposure device, and method of manufacturing device
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 14.02.2002
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
15.08.2002
Exposure system and exposure method, and device production method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 06.02.2002
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
08.08.2002
Method and device for detecting position, method and device for exposure, and program and information recording medium
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 31.01.2002
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
08.08.2002
Method and device for forming film, and method of manufacturing optical element
Metallurgie & Oberflächentechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 01.02.2002
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
08.08.2002
Mask, optical characteristic measuring method, exposure apparatus adjusting method and exposure method, and device manufacturing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 31.01.2002
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
08.08.2002
Diagnosing device, information collecting device, diagnosing system, and remote maintenance system
Steuerungs- & Regelungstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 23.01.2002
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
01.08.2002
Terahertz light generating element, terahertz light generating device and terahertz light detection device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 28.01.2002
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
25.07.2002
Zoom optical system, aligner having the zoom optical system, and aligning method
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.01.2002
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
18.07.2002
Polishing method, polishing device, and semiconductor device producing method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 07.01.2002
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
11.07.2002
Fan filter unit and method of manufacturing the unit, exposure device, and method of manufacturing device
Verfahrens- & Trenntechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 26.12.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
11.07.2002
Stage device, exposure device, method of adjusting multipoint position detection system, exposure method, and device manufacturing method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 26.12.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
11.07.2002
Method for detecting emission timing, emission timing detector and distance measuring apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 21.12.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
11.07.2002
Exposure device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 26.12.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
11.07.2002
Exposure device
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 28.12.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
11.07.2002
Method and system for exposure
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 28.12.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
04.07.2002
Optical Multilayer Fiim Filter
Optik & Fototechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
|
|||
|
Status
Angemeldet am 28.11.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
04.07.2002
Method and device for mask cleaning, and device manufacturing system
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.12.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
04.07.2002
Transfer mask blank, transfer mask and exposure method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 25.12.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
04.07.2002
Exposure device, optical member mounting member, optical member detaching jig, and method of manufacturing device
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 27.12.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
03.07.2002
Positionsdetektierungsverfahren, Positionssensor, Beleuchtungsvorrichtung und -Verfahren, Vorrichtung und Verfahren zu dessen Fabrikation
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.06.2002
Device and method for polishing, and method and device for manufacturing semiconductor device
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 11.12.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.06.2002
Wavefront measuring apparatus and its usage, method and apparatus for determining focusing characteristics, method and apparatus for correcting focusing characteristics, method for managing focusing characteristics, and method and apparatus for exposure
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 17.12.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
20.06.2002
Clocking apparatus, clocking method, and range finder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 11.12.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
20.06.2002
Exposure method and system, and device producing method
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 13.12.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
20.06.2002
Position measuring method, exposure method and system thereof, device production method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.12.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
13.06.2002
Substrate, position measuring method, position measuring device, exposure method and exposure system and device production method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 05.12.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
06.06.2002
Image processing method, image processing device, detection method, detection device, exposure method and exposure system
Software & Datenverarbeitung
|
|||
|
Status
Angemeldet am 28.11.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.06.2002
Gasbetriebene Trägerplatten mit Mechanismen zum Gegenkraft-Ausgleichen
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 26.11.2001
Anhängig
Vertretung
Meddle, Alan L · München
Meddle, Alan Leonard · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
30.05.2002
Method and apparatus for measuring aberration of projection optical system, and method and apparatus for exposure
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 21.11.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
23.05.2002
Method and device for transfer, method and device for exposure, and method of manufacturing device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 15.11.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
22.05.2002
Synthetisches Quarzglasselement, Photolithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung des Photolithographischen Apparates.
Anorganische Chemie & Werkstoffe
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
16.05.2002
Optical information record medium, stamper, exposure apparatus, and method for manufacturing stamper
Akustik, Musik & Datenspeicherung
|
|||
|
Status
Angemeldet am 07.11.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
10.05.2002
Exposure method and system
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 30.10.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
10.05.2002
Optical information record medium and stamper
Akustik, Musik & Datenspeicherung
|
|||
|
Status
Angemeldet am 31.10.2001
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
08.05.2002
Zoomobjektiv mit grossem Brennpunktsabstand von der Linsenrückseite und Funktion zur Reduktion von Vibrationen
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
02.05.2002
Belichtungsverfahren und Belichtungsapparat
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 31.10.2000
Anhängig
Vertretung
Behm, Sonja Marianne · München
Bergstrand, Mikael Gudmundsson · Stockholm
Harrison, Michael Charles · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
Wer vertritt Nikon?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Nikon vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-Profil