ASML Logo

ASML Patente

🇳🇱 Niederlande

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

5.380
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

5.380 gesamt
Patent
28.08.2025
Maintaining an optical focus of an optical element for improving performance of a metrology system
WO2025176389
Optik & Fototechnik
28.08.2025
Machine Learning Assisted Pupil Metrology
WO2025176382
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.08.2025
Improvements to lithographic methods and apparatus
WO2025176374
Optik & Fototechnik
27.08.2025
Durch Maschinenlernen Unterstützte Pupillenmetrologie
EP4607576
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.08.2025
Elektrische Verbindungsprüfung
EP4605765
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.08.2025
Bestimmung eines Ätzeffekts auf Basis einer Gerichteten Ätzreserve
EP4433869
Optik & Fototechnik
27.08.2025
Lithographischer Apparat und Verfahren
EP4605797
Optik & Fototechnik
21.08.2025
Apparatus for use in a metrology tool
WO2025172038
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
21.08.2025
An illumination and detection arrangement and a method for a metrology arrangement
WO2025171992
Optik & Fototechnik
21.08.2025
Systems and methods of energy-based filtering and detection of charged particles
WO2025172004
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.08.2025
Metrology method and associated metrology device
WO2025171949
Optik & Fototechnik
21.08.2025
Lithographic apparatus and method with fast alignment measurements using deformation prediction models
WO2025171977
Optik & Fototechnik
21.08.2025
Apparatus and method for securing a die for die bonding
WO2025171976
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.08.2025
Deformable optical component actuation and modulation in a metrology system
WO2025171953
Optik & Fototechnik
20.08.2025
Spiegelschicht und Spiegel für einen Lithographischen Apparat
EP4602436
Optik & Fototechnik
20.08.2025
Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung eines Entrauschungsmodells
EP4182881
Software & Datenverarbeitung
20.08.2025
Metrologieverfahren und Zugehörige Metrologievorrichtung
EP4603909
Optik & Fototechnik
20.08.2025
Elektronenoptisches Element
EP4602636
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.08.2025
Ausrichtung von Elektronenoptischen Elementen
EP4602635
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.08.2025
Interferometer system without walk-off, method for using an interferometer system
WO2025168295
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
13.08.2025
Elektronenoptisches Modul
EP4599473
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.08.2025
System zur Messung von Wellenfrontaberrationen und Belichtungsvorrichtung
EP4600738
Optik & Fototechnik
13.08.2025
Vakuumbelichtungsvorrichtung und Bewertungssystem
EP4600989
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.08.2025
Beleuchtungs- und Detektionsanordnung und Verfahren für eine Metrologieanordnung
EP4600746
Optik & Fototechnik
13.08.2025
Vorrichtung mit mehreren Strahlverändernden Modulen zur Verwendung in einem Metrologiewerkzeug
EP4600747
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
07.08.2025
Dosage-controlled voltage contrast inspection in charged-particle beam systems and methods thereof
WO2025162675
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.08.2025
Systems and methods for guided template matching in metrology systems
WO2025162676
Software & Datenverarbeitung
07.08.2025
Collector mirror and collector mirror assembly for lithography
WO2025162830
Optik & Fototechnik
06.08.2025
Optische Anordnung für Geladene Teilchen in einem Teilchenstrahlapparat
EP4597539
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.08.2025
Optische Vorrichtung für Geladene Teilchen und Verfahren zur Verarbeitung einer Probe
EP4597540
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.08.2025
Parametrisierte Inspektionsbildsimulation
EP4594996
Software & Datenverarbeitung
06.08.2025
Verfahren zum Bearbeiten einer Probe mittels einer Teilchenstrahlvorrichtung zur Bewertung
EP4453991
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.08.2025
Kühlvorrichtung zum Kühlen einer Positionssensitiven Komponente einer Lithographieanlage
EP4594823
Optik & Fototechnik
31.07.2025
Improved Reticle Stage Thermal Overlay
WO2025157567
Optik & Fototechnik
31.07.2025
Time-division multiplexing wafer z tilt-height sensor for charged particle beam focusing
WO2025157580
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.07.2025
Exposure apparatus and method with reduction of an overlay error
WO2025157684
Optik & Fototechnik
31.07.2025
Image position measurement method
WO2025157581
Optik & Fototechnik
30.07.2025
Lithographischer Apparat und Zugehöriges Verfahren
EP4592749
Optik & Fototechnik
30.07.2025
System und Verfahren zur Bildauflösungscharakterisierung
EP4591339
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.07.2025
Montierte Hohlkernfaseranordnung
EP3754389
Optik & Fototechnik

Wer vertritt ASML?

Die Kanzleien und Patentanwälte, die ASML vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.

Zum Anmelder-Profil

Technologiefelder

Optik & Fototechnik
4.274
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.232
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
615
Elektronik & Schaltungstechnik
366
Software & Datenverarbeitung
277
Elektrische Energietechnik
171
Steuerungs- & Regelungstechnik
92
Maschinenelemente & Fluidtechnik
67
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
60
Verfahrens- & Trenntechnik
55
Anorganische Chemie & Werkstoffe
39
Metallurgie & Oberflächentechnik
35

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen