ASML Patente
🇳🇱 Niederlande
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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5.380 gesamt| Patent | |||
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30.07.2025
Montierte Hohlkernfaseranordnung
Optik & Fototechnik
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24.07.2025
Dynamically decoupled ion pump and charged-particle beam system
Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen)
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.01.2025
Anhängig
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24.07.2025
Methods and systems to reduce effects of uncertain conditions for reticle heating
Optik & Fototechnik
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Angemeldet am 20.12.2024
Anhängig
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24.07.2025
Metrology method for determining one or more parameters of a periodic target on an object and associated metrology apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 19.12.2024
Anhängig
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24.07.2025
Clamping with a removable membrane in a lithography apparatus
Optik & Fototechnik
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Angemeldet am 16.12.2024
Anhängig
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24.07.2025
Automatic correction for hardware-based sem tool time offset
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.12.2024
Anhängig
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24.07.2025
Directly actuated patterning device for a lithography apparatus
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.12.2024
Anhängig
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24.07.2025
Method of determining operational data, computer program and lithographic apparatus
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.12.2024
Anhängig
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24.07.2025
Method of predicting an effect of a maintenance action in production of integrated circuits and associated apparatus
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.12.2024
Anhängig
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24.07.2025
Modular gas purification system for radiation source
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 09.12.2024
Anhängig
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24.07.2025
Method and device for tuning flow velocity profile
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 09.12.2024
Anhängig
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24.07.2025
Gas Flow Reallocation in Light Source
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 09.12.2024
Anhängig
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23.07.2025
Pellikel und Verfahren zur Bildung des Pellikels zur Verwendung in einer Lithografischen Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.09.2023
Anhängig
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23.07.2025
Metrologieverfahren und Zugehörige Vorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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23.07.2025
Abschwächer und Verfahren
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.08.2016
Erteilt am 23.07.2025
Vertretung
Slenders, Petrus J. W · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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23.07.2025
Bestimmung einer Messrezeptur in einem Metrologischen Verfahren
Optik & Fototechnik
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17.07.2025
Improvements to lithographic methods and apparatus
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.12.2024
Anhängig
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17.07.2025
Colour Selection Module
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.12.2024
Anhängig
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17.07.2025
Method of forecastig a drift in a parameter of interest in a semiconductor manaufacturing process
Optik & Fototechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 18.12.2024
Anhängig
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17.07.2025
Method for controlling a manufacturing apparatus and associated apparatuses
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.12.2024
Anhängig
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16.07.2025
Metrologieverfahren und Zugehörige Metrologievorrichtung
Optik & Fototechnik
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16.07.2025
Verfahren zur Herstellung eines Pellikels für eine Lithographische Vorrichtung und Pellikel für eine Lithographische Vorrichtung
Verfahrens- & Trenntechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.10.2016
Erteilt am 16.07.2025
Vertretung
Filip, Diana · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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10.07.2025
Lithographic apparatus and associated method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 05.12.2024
Anhängig
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10.07.2025
Electron energy fluctuation stabilizing and compensating methods and techniques for electron-beam systems
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.01.2025
Anhängig
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09.07.2025
Verfahren zur Konfiguration eines Sichtfeldes einer Inspektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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09.07.2025
System und Verfahren zur Detektion von Partikeln mit einem Detektor Während der Inspektion
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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09.07.2025
Farbauswahlmodul
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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03.07.2025
Internal light source, lithographic apparatus, metrology systems, and method thereof
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.12.2024
Anhängig
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03.07.2025
Method and system for multi channel mask prediction
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 28.11.2024
Anhängig
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03.07.2025
Systems and methods of laser-to-droplet positioning with tilt range keep assist during extreme ultraviolet radiation generation
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 20.11.2024
Anhängig
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03.07.2025
Extreme Ultraviolet Light Generation Sequence For an Extreme Ultraviolet Light Source
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 25.11.2024
Anhängig
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03.07.2025
System and method for overlay metrology with reduced coherence and speckle contrast
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.12.2024
Anhängig
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02.07.2025
Vorrichtung und Verfahren zum Mehrstufigen Chipbonden
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.07.2025
Lithografische Vorrichtung und Kühlverfahren
Verfahrens- & Trenntechnik
Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen)
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Status
Angemeldet am 31.01.2018
Erteilt am 02.07.2025
Vertretung
Slenders, Petrus Johannes Waltherus · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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26.06.2025
Readout circuit design for charged particle detection applications
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.12.2024
Anhängig
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26.06.2025
Vacuum exposure apparatus and assessment system
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Angemeldet am 26.11.2024
Anhängig
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26.06.2025
Leed and ptychography based surface profile determination and inspection
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 12.12.2024
Anhängig
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26.06.2025
Sensor and method for qualification of a topography of a surface of a die for die bonding
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 22.11.2024
Anhängig
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26.06.2025
System and method for stress release in die bonding
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.11.2024
Anhängig
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26.06.2025
Contour-based framework for monitoring and evaluating process quality and variation
Optik & Fototechnik
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Angemeldet am 21.11.2024
Anhängig
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Wer vertritt ASML?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die ASML vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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