ASML Logo

ASML Patente

🇳🇱 Niederlande

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

5.380
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

5.380 gesamt
Patent
25.06.2025
System mit Geladenen Teilchen und Verfahren zum Ausbrennen eines Systems mit Geladenen Teilchen
EP4576159
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.06.2025
Leed- und Ptychographiebasierte Oberflächenprofilbestimmung
EP4575645
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
25.06.2025
Hochspannungs-Entladungserkennung in einem Geladenen Partikelsystem
EP4576157
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.06.2025
Verfahren zur Herstellung einer Strukturierten Materialschicht, Verfahren zur Herstellung einer Elektronischen Vorrichtung, Vorrichtung zur Herstellung einer Strukturierten Materialschicht
EP4575032
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.06.2025
Optischer Verstärker und Komponenten dafür
EP4574233
Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.06.2025
Konditionierungssystem, -Anordnung und -Verfahren
EP4573412
Optik & Fototechnik
25.06.2025
System und Verfahren zum Chipbonden mit Strahlungsfreisetzung
EP4576084
Akustik, Musik & Datenspeicherung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.06.2025
Method of scanning a sample with non-circular beam spots
WO2025125017
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.06.2025
A distributed system for wafer print check
WO2025124833
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
19.06.2025
Droplet metrology using tunable-wavelength laser
WO2025124870
Elektronik & Schaltungstechnik
19.06.2025
Method and system for primitive-based mask prediction
WO2025124841
Optik & Fototechnik
19.06.2025
Detection of yield-critical defects using the medial axis of 3d-stacked charged-particle beam inspection images
WO2025124824
Software & Datenverarbeitung
19.06.2025
Methods and samples to determine charged-particle beam spot size
WO2025125271
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.06.2025
Holistic Calibration
WO2025124834
Optik & Fototechnik
18.06.2025
Auf Bereichsdichte Basierender Fehlausrichtungsindex zur Bildausrichtung
EP4569471
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
18.06.2025
Ganzheitliche Kalibrierung
EP4571418
Optik & Fototechnik
18.06.2025
Differenzialmesssystem
EP4133335
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
18.06.2025
Übersprechungsverringerung
EP4571811
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.06.2025
Method of substrate support repair
WO2025119563
Optik & Fototechnik
12.06.2025
Radiation source assembly for generating broadband radiation
WO2025119632
Optik & Fototechnik
12.06.2025
Radiation Sensor
WO2025119906
Optik & Fototechnik
12.06.2025
Fluid Handling Structure
WO2025119553
Optik & Fototechnik
12.06.2025
Method and system for perturbing mask pattern
WO2025119604
Optik & Fototechnik
12.06.2025
Signal processing method, signal processor, assessment method, and assessment apparatus
WO2025120058
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.06.2025
Metrology apparatus and associated methods
WO2025119609
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.06.2025
Systems and methods of particle contamination reduction in charged-particle beam systems
WO2025119714
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.06.2025
Laser powered plasma based euv generation system
WO2025119612
Elektronik & Schaltungstechnik
12.06.2025
Metrology tool and method
WO2025119620
Optik & Fototechnik
11.06.2025
Strahlungsquellenanordnung zur Erzeugung Breitbandiger Strahlung
EP4567510
Optik & Fototechnik
11.06.2025
Metrologievorrichtung und -Verfahren mit Empfang von Streustrahlung in mehreren Diskreten Zeitintervallen
EP4567517
Optik & Fototechnik
11.06.2025
Signalverarbeitungsverfahren, Signalprozessor, Beurteilungsverfahren und Beurteilungsvorrichtung
EP4567474
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.06.2025
Metrologievorrichtung und Zugehörige Verfahren
EP4567371
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.06.2025
Laserbetriebenes, Plasmabasiertes Euv-Erzeugungssystem
EP4568425
Elektronik & Schaltungstechnik
05.06.2025
Method of setting up of a lithography apparatus
WO2025113929
Optik & Fototechnik
05.06.2025
Reticle load lock system and method
WO2025113901
Optik & Fototechnik
05.06.2025
Assembly for wavelength calibration
WO2025113926
Optik & Fototechnik
05.06.2025
Method of determining a correction for an exposure process, lithography apparatus and computer program
WO2025113917
Optik & Fototechnik
05.06.2025
Robotic Arm For Cleaning Structure Surface in Chamber
WO2025113880
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.06.2025
Electron-optical system, method of manufacturing an electron beam element
WO2025113914
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.06.2025
Trainieren eines Modells zur Erzeugung Prädiktiver Daten
EP4562474
Optik & Fototechnik

Wer vertritt ASML?

Die Kanzleien und Patentanwälte, die ASML vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.

Zum Anmelder-Profil

Technologiefelder

Optik & Fototechnik
4.274
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.232
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
615
Elektronik & Schaltungstechnik
366
Software & Datenverarbeitung
277
Elektrische Energietechnik
171
Steuerungs- & Regelungstechnik
92
Maschinenelemente & Fluidtechnik
67
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
60
Verfahrens- & Trenntechnik
55
Anorganische Chemie & Werkstoffe
39
Metallurgie & Oberflächentechnik
35

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen