ASML Patente

🇳🇱 Niederlande

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336

Patente

2000–2026

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
17.04.2024	17.04.2024 Strahlungsgitterlayout EP3651183 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.05.2014 Erteilt am 17.04.2024 Vertretung Corcoran, Gregory Martin Mason · Veldhoven ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.04.2024	17.04.2024 Optische Vorrichtung für Geladene Teilchen EP4354485 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.10.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.04.2024	17.04.2024 Elektronenoptisches Element EP4354486 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.10.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.04.2024	17.04.2024 Optisches System zur Aberrationskorrektur EP4354200 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.10.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.04.2024	17.04.2024 Ausrichtung von Elektronenoptischen Elementen EP4354483 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.10.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.04.2024	17.04.2024 Verfahren zur Kompensation eines Effekts einer Elektrodenverzerrung, Bewertungssystem EP4352774 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.05.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.04.2024	17.04.2024 Vorrichtung und Verfahren für Geladene Teilchen EP4352773 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.05.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.04.2024	17.04.2024 Verfahren zum Betreiben eines Detektionssystems einer Metrologievorrichtung und Zugehörige Metrologievorrichtung EP4354224 Optik & Fototechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.10.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Disclosed is a method of reading out a detection arrangement, said detection arrangement defining a detection area in terms of plurality of pixels. The method comprises receiving scattered radiation on said detection arrangement; dividing the detection area into at least two different regions of interest based at least on a measurement parameter of said scattered radiation; and employing a respective different readout scheme for each said regions of interest, so as to read out said detection arrangement. Alle Patent-Informationen
10.04.2024	10.04.2024 Verfahren zur Bestimmung von Signalparametern, Heterodynes Interferometersystem, Lithographisches Gerät und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung EP4172555 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.05.2021 Erteilt am 10.04.2024 Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.04.2024	10.04.2024 Optische Komponente auf Basis von Photonischen Hohlkernkristallfasern zur Breitbandigen Strahlungserzeugung EP3812807 Optik & Fototechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.10.2020 Erteilt am 10.04.2024 Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.04.2024	10.04.2024 Elektronenoptisches Modul EP4350733 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.10.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.04.2024	10.04.2024 Verfahren und Vorrichtung zur Berechnung einer Räumlichen Karte im Zusammenhang mit einer Komponente EP4182757 Optik & Fototechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.06.2021 Erteilt am 10.04.2024 Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.04.2024	10.04.2024 Beugungsgitter für Messungen in Euv-Belichtungsanlagen EP4348315 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.04.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.04.2024	10.04.2024 Verfahren und System zur Bestimmung von Aberrationen eines Projektionssystems EP4350440 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.10.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.04.2024	03.04.2024 Verfahren und Vorrichtung zur Vorhersage einer mit einem Prozess Assoziierten Prozessmetrik EP4127833 Optik & Fototechnik Steuerungs- & Regelungstechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.02.2021 Erteilt am 03.04.2024 Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.04.2024	03.04.2024 Vorrichtung für Geladene Teilchen EP4345861 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.09.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.03.2024	27.03.2024 Optisches Ausrichtungssystem und -Verfahren EP4343436 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.09.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.03.2024	27.03.2024 Datenverarbeitungsvorrichtung und -Verfahren, Beurteilungssystem für Geladene Teilchen und Verfahren EP4343812 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.09.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.03.2024	27.03.2024 Klassifizierung von Produkteinheiten EP4343472 Steuerungs- & Regelungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.09.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.03.2024	27.03.2024 Datenverarbeitungsvorrichtung und -Verfahren, Beurteilungssystem für Geladene Teilchen und Verfahren EP4341890 Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.04.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.03.2024	27.03.2024 Verfahren zur Herstellung einer Strukturierten Materialschicht, Vorrichtung zur Herstellung einer Strukturierten Materialschicht EP4343020 Metallurgie & Oberflächentechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.09.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.03.2024	27.03.2024 Maskenanordnung EP4296778 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.11.2015 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.03.2024	27.03.2024 Verfahren und Vorrichtung zum Bonden von Substraten EP4343827 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.09.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.03.2024	20.03.2024 Bewertungssystem, Bewertungsverfahren EP4338190 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.04.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.03.2024	20.03.2024 Metrologieverfahren und Zugehörige Metrologievorrichtung EP4339703 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.09.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.03.2024	13.03.2024 Temperaturmessung von Optischen Elementen in einem Optischen Gerät EP4334781 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.03.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.03.2024	13.03.2024 Optisches Element zur Erzeugung von Breitbandstrahlung EP4334766 Anorganische Chemie & Werkstoffe Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.04.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.03.2024	13.03.2024 Kausalfaltungsnetzwerk zur Prozesssteuerung EP4334782 Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.04.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.03.2024	13.03.2024 Metrologisches Verfahren und Zugehörige Metrologische Vorrichtung EP4336262 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.09.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.03.2024	13.03.2024 Euv-Strahlungsstrahlleistungsreduktion EP4336263 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.09.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.03.2024	13.03.2024 Strahlungsvorrichtung mit mehreren Durchgängen EP4336251 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.09.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.03.2024	13.03.2024 Pellikel und Verfahren zur Bildung des Pellikels zur Verwendung in einer Lithografischen Vorrichtung EP4336258 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.09.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.03.2024	06.03.2024 Laserstrahlmetrologiesystem, Laserstrahlsystem, Euv-Strahlungsquelle und Lithografische Vorrichtung EP4330626 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.03.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.03.2024	06.03.2024 System und Verfahren zur Bewertung Geladener Partikel EP4333019 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.09.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.03.2024	06.03.2024 Vorrichtung mit mehreren Geladenen Partikelstrahlen EP3616231 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.04.2018 Erteilt am 06.03.2024 Vertretung Peters, John Antoine · Veldhoven ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.03.2024	06.03.2024 Vorrichtung zur Befestigung eines Pellikels EP4286941 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.11.2015 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.03.2024	06.03.2024 Reinigungsverfahren und Zugehörige Lichtquellenmetrologievorrichtung EP4330768 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.03.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.03.2024	06.03.2024 Holographisches Lithographiegerät und Verfahren EP4332678 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.09.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.02.2024	28.02.2024 Verfahren zur Parameterrekonstruktion einer Metrologievorrichtung und Zugehörige Metrologievorrichtung EP4328670 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.08.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.02.2024	28.02.2024 Steuerung der Aberration in einem Optischen System, Metrologiesystem, Lithografische Vorrichtung und Verfahren dafür EP4327160 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.03.2022 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen