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ASML Patente

🇳🇱 Niederlande

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

5.380
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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5.380 gesamt
Patent
28.06.2023
Verfahren und Computerprogramm zur Ausrichtungsbestimmung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.06.2023
Optical system and method for a radiation source
Optik & Fototechnik Elektronik & Schaltungstechnik
22.06.2023
Detector inspection device, detector assembly, detector array, apparatus, and method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Nachrichtentechnik & Telekommunikation
22.06.2023
Charged-particle optical apparatus and projection method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.06.2023
Systems and methods for optimizing lithographic design variables using image-based failure rate model
Optik & Fototechnik
22.06.2023
Method and system for preventing degradation of a material of an optical component for euv-lithography
Optik & Fototechnik
22.06.2023
Machine learning model for asymmetry-induced overlay error correction
Optik & Fototechnik
22.06.2023
Apparatus for recovery of euv target material
Elektronik & Schaltungstechnik
22.06.2023
A framework for condition tuning and image processing for metrology applications
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
22.06.2023
Auto parameter tuning for charged particle inspection image alignment
Optik & Fototechnik
22.06.2023
Method and system of defect detection for inspection sample based on machine learning model
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
22.06.2023
Charged particle assessment system
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.06.2023
Magnetische Linse und Erregerstromsteuerungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.06.2023
Substrathalter und Lithografisches Gerät
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.06.2023
Verfahren und Vorrichtung zur Berechnung einer Reparaturdosis für ein Belichtungsfeld eines mit einem Lithographischen Gerät Belichteten Substrats
Optik & Fototechnik
21.06.2023
Detektorinspektionsvorrichtung, Detektoranordnung, Detektorarray, Einrichtung und Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Nachrichtentechnik & Telekommunikation
21.06.2023
Ladungsteilcheneinrichtung, Mehrfachvorrichtungseinrichtung, Verfahren zur Verwendung einer Ladungsteilcheneinrichtung und Steuerungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.06.2023
Optische Ladungsteilchenvorrichtung und Projektionsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.06.2023
Verfahren zum Bearbeiten einer Probe mittels einer Teilchenstrahlvorrichtung zur Bewertung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.06.2023
Vorrichtung für Geladene Teilchen, Gerät zur Bewertung Geladener Teilchen, Messverfahren und Überwachungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.06.2023
Verfahren und Vorrichtung zur Identifizierung von Verunreinigungen in einem Halbleiter-Fab
Optik & Fototechnik
15.06.2023
Target Asymmetry Measurement For Substrate Alignment in Lithography Systems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
14.06.2023
Lasertriangulationsvorrichtung und Kalibrierverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.06.2023
Systeme und Verfahren zur Reduzierung der Musterverschiebung in einer Lithografievorrichtung
Optik & Fototechnik
14.06.2023
Optisches Element
Optik & Fototechnik
14.06.2023
Blende und Verfahren
Optik & Fototechnik Elektrische Energietechnik
14.06.2023
Identifizierung von Abweichenden Modulen aus einer Referenzpopulation für die Maschinendiagnose
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
14.06.2023
Verfahren zur Bestimmung eines Messrezepts und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
08.06.2023
Metrology calibration method
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
08.06.2023
Beam Position Displacement Correction in Charged Particle Inspection
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.06.2023
Verfahren zur Überwachung eines Lithographischen Verfahrens und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
07.06.2023
Metrologisches Kalibrierverfahren
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
01.06.2023
Obtaining A Parameter Characterizing A Fabrication Process
Optik & Fototechnik
01.06.2023
Systems and structures for venting and flow conditioning operations in inspection systems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
01.06.2023
An optical device, illumination system, projection system, euv radiation source, lithographic apparatus, deposition of contamination preventing method, and optical component refurbishing method
Optik & Fototechnik
31.05.2023
Vorrichtung zur Detektion Geladener Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.05.2023
Metrologisches Verfahren und Zugehöriges Metrologisches Werkzeug
Optik & Fototechnik
31.05.2023
Mehrachsige Magnetische Linse
Elektrische Energietechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.05.2023
Membran für Euv-Lithografie
Optik & Fototechnik
25.05.2023
A liquid target material supplying apparatus, fuel emitter, radiation source, lithographic apparatus, and liquid target material supplying method
Elektronik & Schaltungstechnik

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