ASML Patente
🇳🇱 Niederlande
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
5.380
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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5.380 gesamt| Patent | |||
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14.05.2021
Measuring method and measuring apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.10.2020
Anhängig
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14.05.2021
Method of manufacture of a capillary for a hollow-core photonic crystal fiber
Anorganische Chemie & Werkstoffe
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.10.2020
Anhängig
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14.05.2021
Charged-particle detector package for high speed applications
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.10.2020
Anhängig
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12.05.2021
Vorrichtung zum Positionieren und Eingespannten Härten
Verpackungs- & Fördertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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12.05.2021
Verfahren zur Herstellung einer Kapillare für eine Photonische Hohlkernkristallfaser
Anorganische Chemie & Werkstoffe
Optik & Fototechnik
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06.05.2021
Lithographic apparatus and electrostatic clamp designs
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.10.2020
Anhängig
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06.05.2021
Metrology method and lithographic apparatuses
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 19.10.2020
Anhängig
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06.05.2021
Machine learning based image generation for model base alignments
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 01.10.2020
Anhängig
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05.05.2021
Verfahren und Vorrichtung zur Effizienten Erzeugung von Hohen Oberschwingungen
Optik & Fototechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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05.05.2021
Vorrichtung zum Berechnen von Variationen der Substratneigung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.08.2005
Erteilt am 05.05.2021
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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29.04.2021
Method of determining aberrations in images obtained by a charged particle beam tool, method of determining a setting of a charged particle beam tool, and charged particle beam tool
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.09.2020
Anhängig
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29.04.2021
Method for rule-based retargeting of target pattern
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.09.2020
Anhängig
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29.04.2021
Membrane cleaning apparatus
Verfahrens- & Trenntechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.10.2020
Anhängig
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29.04.2021
Hollow-core photonic crystal fiber based optical component for broadband radiation generation
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 19.10.2020
Anhängig
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29.04.2021
Apparatus for and method of sensing alignment marks
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.09.2020
Anhängig
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29.04.2021
Charged particle inspection system and method using multi-wavelength charge controllers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.10.2020
Anhängig
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28.04.2021
Euv-Pellikel
Optik & Fototechnik
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28.04.2021
Verfahren zum Entwurf einer Ausrichtungsmarkierung
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.04.2021
Verfahren zur Bestimmung von Aberrationen in von einem Ladungsteilchenstrahlgerät Erhaltenen Bildern, Verfahren zur Bestimmung einer Einstellung eines Ladungsteilchenstrahlgeräts, und Ladungsteilchenstrahlgerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.04.2021
Endfacettenschutz für eine Lichtquelle und Verfahren zur Verwendung in Metrologieanwendungen
Optik & Fototechnik
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22.04.2021
Optical Modulator
Optik & Fototechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 17.09.2020
Anhängig
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22.04.2021
Apparatus for use in a radiation source
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 18.09.2020
Anhängig
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22.04.2021
Patterning device conditioning system and method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 14.09.2020
Anhängig
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22.04.2021
Method and apparatus for coherence scrambling in metrology applications
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.09.2020
Anhängig
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22.04.2021
Metrology mark structure and method of determining metrology mark structure
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.09.2020
Anhängig
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22.04.2021
Systems and methods of profiling charged-particle beams
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.10.2020
Anhängig
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22.04.2021
Systems and methods for voltage contrast defect detection
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.09.2020
Anhängig
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22.04.2021
Lithographic apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.10.2020
Anhängig
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21.04.2021
System und Verfahren zur Konditionierung einer Strukturierungsvorrichtung
Optik & Fototechnik
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21.04.2021
Systeme und Verfahren zur Profilierung von Ladungsteilchenstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.04.2021
Verfahren zur Anpassung von Messdaten an ein Modell und Modellierung einer Leistungsparameterverteilung und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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21.04.2021
Verfahren und Vorrichtung zur Kohärenzverschlüsselung in Messtechnischen Anwendungen
Optik & Fototechnik
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15.04.2021
Transmissive Diffuser
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.09.2020
Anhängig
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15.04.2021
A lithography apparatus and a method of detecting a radiation beam
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 01.09.2020
Anhängig
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14.04.2021
Lithographischer Apparat und Positionierungsanordnung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.01.2010
Erteilt am 14.04.2021
Vertretung
Maas, Abraham Johannes · Veldhoven
Maas, Abraham Johannes · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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14.04.2021
Vorrichtung und Verfahren zur Überwachung und Steuerung der Leistung eines Tröpfchengenerators
Elektronik & Schaltungstechnik
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14.04.2021
Ladungsträgerteilchen-Halbleiterdetektor für Mikroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.04.2021
Verbesserte Breitbandstrahlungserzeugung in Hohlkernfasern
Optik & Fototechnik
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08.04.2021
Measurement system and method for characterizing a patterning device
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 07.09.2020
Anhängig
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08.04.2021
Process monitoring and tuning using prediction models
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.09.2020
Anhängig
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Wer vertritt ASML?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die ASML vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Optik & Fototechnik
4.274
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.232
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
615
Elektronik & Schaltungstechnik
366
Software & Datenverarbeitung
277
Elektrische Energietechnik
171
Steuerungs- & Regelungstechnik
92
Maschinenelemente & Fluidtechnik
67
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
60
Verfahrens- & Trenntechnik
55
Anorganische Chemie & Werkstoffe
39
Metallurgie & Oberflächentechnik
35