ASML Patente
🇳🇱 Niederlande
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
5.380
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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5.380 gesamt| Patent | |||
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09.09.2020
Pod zur Aufbewahrung einer Musterungsvorrichtung
Verpackungs- & Fördertechnik
Optik & Fototechnik
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09.09.2020
Anordnung zur Verwendung in der Halbleiter-Fotolithografie und Verfahren zu Ihrer Herstellung
Optik & Fototechnik
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03.09.2020
Radiation measurement system
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.01.2020
Anhängig
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03.09.2020
Method of reducing effects of lens heating and/or cooling in a lithographic process
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.01.2020
Anhängig
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03.09.2020
Method for determining stochastic variation of printed patterns
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 30.01.2020
Anhängig
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03.09.2020
Inspection apparatus, lithographic apparatus, measurement method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.01.2020
Anhängig
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03.09.2020
Target supply control apparatus and method in an extreme ultraviolet light source
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 07.02.2020
Anhängig
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03.09.2020
Improve gauge selection for model calibration
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 07.02.2020
Anhängig
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03.09.2020
Apparatus for assembly of a reticle assembly
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.02.2020
Anhängig
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02.09.2020
Prüfsubstrat und Prüfverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.06.2016
Erteilt am 02.09.2020
Vertretung
Verhoeven, Johannus Theodorus Maria · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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02.09.2020
Pellikelrahmen und Pellikelanordnung
Optik & Fototechnik
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02.09.2020
Reflektorherstellungsverfahren und Zugehöriger Reflektor
Kunststoff- & Polymertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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02.09.2020
Ausrichtungsverfahren und Zugehörige Metrologievorrichtung
Optik & Fototechnik
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27.08.2020
Method for training machine learning model to determine optical proximity correction for mask
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 24.01.2020
Anhängig
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27.08.2020
Dose control for an extreme ultraviolet optical lithography system
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 06.02.2020
Anhängig
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27.08.2020
A method for characterizing a manufacturing process of semiconductor devices
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.02.2020
Anhängig
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27.08.2020
Laser roughening: engineering the roughness of the burl top
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.02.2020
Anhängig
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27.08.2020
Wafer alignment using form birefringence of targets or product
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.02.2020
Anhängig
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27.08.2020
Metrology system, lithographic apparatus, and method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.02.2020
Anhängig
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26.08.2020
Verfahren und Vorrichtung für Metrologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 19.02.2019
Anhängig
Vertretung
Willekens, Jeroen Pieter Frank · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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26.08.2020
Verfahren zum Festklemmen eines Substrats und Klemmenvorbereitungseinheit
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.02.2010
Erteilt am 26.08.2020
Vertretung
Corcoran, Gregory Martin Mason · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
Hoyng Rokh Monegier LLP · Amsterdam
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20.08.2020
A metrology apparatus with radiation source having multiple broadband outputs
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.01.2020
Anhängig
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20.08.2020
Lithographic apparatus and method with a thermal control system
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.01.2020
Anhängig
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20.08.2020
Apparatus for and method of controlling an energy spread of a charged-particle beam
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.02.2020
Anhängig
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20.08.2020
Metrology system, lithographic apparatus, and calibration method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.01.2020
Anhängig
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20.08.2020
Intermediate layer for mechanical interface
Farben, Klebstoffe & Brennstoffe
Maschinenelemente & Fluidtechnik
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Status
Angemeldet am 27.01.2020
Anhängig
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19.08.2020
Substrathalter zur Verwendung in einer Lithografischen Vorrichtung
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.09.2018
Anhängig
Vertretung
Dung, Shiang-Lung · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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19.08.2020
Verfahren und Lithographievorrichtung zur Messung eines Strahlungsbündels
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.02.2019
Anhängig
Vertretung
Filip, Diana · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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19.08.2020
Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung eines Monochromatischen Ladungsteilchenstrahls
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.02.2019
Anhängig
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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19.08.2020
Metrologievorrichtung mit Strahlungsquelle mit mehreren Breitbandausgängen
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.02.2019
Anhängig
Vertretung
Willekens, Jeroen Pieter Frank · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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19.08.2020
Metrologievorrichtung mit Strahlungsquelle mit mehreren Breitbandausgängen
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.01.2020
Anhängig
Vertretung
Willekens, Jeroen Pieter Frank · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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19.08.2020
Elektrostatische Klemme, lithografische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer elektrostatischen Klemme
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.06.2012
Erteilt am 19.08.2020
Vertretung
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13.08.2020
Electronic system, accelerometer, calibration method, lithographic apparatus and device manufacturing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.01.2020
Anhängig
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13.08.2020
Radiation system
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 24.01.2020
Anhängig
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12.08.2020
Vorrichtung mit Verwendung Geladener Teilchenstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.10.2018
Anhängig
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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12.08.2020
Verfahren zur Entscheidungsfindung in einem Halbleiterherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 06.02.2019
Anhängig
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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12.08.2020
Lithographische Vorrichtung und Verfahren zur Reinigung
Verfahrens- & Trenntechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 08.02.2019
Anhängig
Vertretung
Slenders, Petrus Johannes Waltherus · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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12.08.2020
Strukturierungsvorrichtung und Verfahren zur Verwendung davon
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 07.02.2019
Anhängig
Vertretung
Slenders, Petrus Johannes Waltherus · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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06.08.2020
Apparatus and method for property joint interpolation and prediction
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 12.12.2019
Anhängig
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06.08.2020
Methods and apparatus for controlling a lithographic process
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.12.2019
Anhängig
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Wer vertritt ASML?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die ASML vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Optik & Fototechnik
4.274
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.232
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
615
Elektronik & Schaltungstechnik
366
Software & Datenverarbeitung
277
Elektrische Energietechnik
171
Steuerungs- & Regelungstechnik
92
Maschinenelemente & Fluidtechnik
67
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
60
Verfahrens- & Trenntechnik
55
Anorganische Chemie & Werkstoffe
39
Metallurgie & Oberflächentechnik
35