FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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506 gesamt| Patent | |||
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17.06.2026
Fokussierte Ionenstrahlsysteme mit Mehrpoligen Elementen und Verzögerungselementen
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Status
Angemeldet am 09.12.2025
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP
Zusammenfassung
Charged particle microscope systems including multipole optics are described. An ion-optical column can include an aberration correction system. The aberration correction system can be disposed on an axis and can include a multipole condenser. The multipole condenser can include one or more condenser quadrupole-generating elements. The aberration correction system can also include a multipole objective. The multipole objective can include a plurality of objective multipole elements. The ion-optical column can include an objective lens assembly, disposed on the axis. The ion-optical column can also include a deceleration element. The deceleration element can be disposed on the axis between at least a portion of the aberration correction system and a sample position external to the charged particle optical column. |
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29.04.2026
Gitterhandhabungslastverriegelungstür für Positionswiederholbarkeit
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Zusammenfassung
Embodiments described herein relate to systems and/or methods for providing positional repeatability of closure of an opening of a scientific instrument and/or of alignment of samples relative to a coordinate system of the scientific instrument. A system can comprise a retaining member that receives a sample support cartridge, a first portion of a kinematic coupling that receives a second portion of a kinematic coupling, and the second portion of the kinematic coupling disposed at the retaining member, wherein at least the first portion of the kinematic coupling or the second portion of the kinematic coupling is disposed for joint movement with the sample support cartridge when coupled to the retaining member. A system can comprise a vacuum chamber body, a vacuum chamber door, and a kinematic coupling providing for adjustable alignment of a sample support cartridge at the vacuum chamber door relative to the vacuum chamber body. |
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08.04.2026
Folienlinsenkorrektoren, Ladungsträgerteilchenmikroskopsysteme damit und Zugehörige Verfahren
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Zusammenfassung
Foil lens correctors, charged particle microscope systems including the same, and associated methods. In an example, a foil lens corrector is configured to generate an offsetting spherical aberration in a charged particle beam and includes a graphene foil. In an example, a CPM system includes a charged particle source and a foil lens corrector including a graphene foil. In an example, a method of operating a CPM system includes directing a charged particle beam to a specimen and operating a foil lens corrector to generate an offsetting spherical aberration in the charged particle beam. In an example, the charged particle beam is incident upon a foil of the foil lens corrector with a foil landing energy that is at least 5 keV and at most 80 keV and such that the charged particle beam is transmitted through the foil with a transmission ratio that is at least 20%. |
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11.03.2026
Dynamische Spektralerfassung für Materialuntersuchungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.12.2020
Erteilt am 11.03.2026
Vertretung
Stellbrink & Partner Patentanwälte mbB · München
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04.03.2026
Multimodales Kryo-Kompatibles Guid-Gitter
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.08.2020
Erteilt am 04.03.2026
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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25.02.2026
Aktuatorassistierte Positionierungssysteme und -Verfahren
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.03.2020
Erteilt am 25.02.2026
Vertretung
Robinson, Louise Frances · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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04.02.2026
Verfahren zum Betrieb eines Ladungsträgerteilchenmikroskopsystems mit einem Strahlablenker und Zugehörige Systeme
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.01.2026
Verfahren zur Zeitaufgelösten Ladungsträgerteilchenmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.01.2026
Auswahl von Zeitbezogenen und Qualitätsbedingten Abtastparametern eines Geladenen Teilchenstrahls
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.01.2026
Adaptive Verweilzeitmikroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.01.2026
Intelligente Stoppkriterien für Energiedispersive Röntgenerfassung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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07.01.2026
Ladungspartikelmikroskop mit Manipulatorvorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Probe mit Diesem Ladungspartikelmikroskop
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.08.2018
Erteilt am 07.01.2026
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Robinson, Louise Frances · Eindhoven
Zusammenfassung
The invention relates to a charged particle microscope (CPM) comprising a sample holder, for holding a sample; an ion beam column, for producing an ion beam that propagates along an ion axis onto said sample for creating a lamella in said sample; and a detector, for detecting radiation emanating from said lamella and/or said sample in response to irradiation by said ion beam. The CPM comprises a controller for at least partially controlling operation of said microscope. According to the invention, a manipulator device is provided that is arranged for transferring said lamella created in said sample out of said sample, wherein said manipulator device comprises a first elongated manipulator member with a first outer end, and a second elongated manipulator member with a second outer end. The outer ends are movable for mechanically gripping and releasing said lamella. In embodiments, the elongated manipulator members comprise off-set parts that increase manoeuvrability (accessibility) and monitorability of the manipulator device during use. |
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07.01.2026
Luftloser Transfer und Elektrische Prüfung von Festkörperbatterien in Rasterelektronenmikroskopen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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31.12.2025
Minderung von Ladeartefakten durch Abtastrichtungsrotation
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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31.12.2025
Heizanordnung für ein System mit Geladenem Teilchenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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31.12.2025
Lamellenherstellung aus Dicken Hpf-Proben
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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24.12.2025
Inhomogene D-Förmige Fokussierte Ionenstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.12.2025
Aberrationskorrektur in der Spektroskopie Geladener Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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17.12.2025
Verfahren zur Bestimmung der Virtuellen Quellenposition einer Flüssigmetallionenquelle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.12.2025
Partikelinduzierte Röntgenstrahlenemission (pixe) unter Verwendung von Wasserstoff und Fokussierten Ionenstrahlen mehrerer Spezies
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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03.12.2025
Korrektur von Aberrationen in der Inline-Elektronenholographie
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.11.2025
Instrumentenoptimierung mit Analytbasiertem Massenspektrometer und Algorithmusparametern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
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26.11.2025
System zur Erzeugung von Gelspurigen Prakts zur Hervorhebung von Dekonvolutierten Massen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.11.2025
Unterstützung eines Large Language Models für den Betrieb eines Ladungsträgerteilchenmikroskops
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.11.2025
Feldemitteranordnung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.11.2025
Elektrisches und Thermisches Verbindungskabel für Ladungsträgerteilchenmikroskope
Elektrische Energietechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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29.10.2025
Erfassungsstrategie für Neuronale Netzwerkbasierte Bildwiederherstellung
Software & Datenverarbeitung
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Angemeldet am 06.05.2020
Erteilt am 29.10.2025
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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29.10.2025
Verwaltung Defekter Pixel in der Ladungsträgerteilchenmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.12.2021
Erteilt am 29.10.2025
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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22.10.2025
Automatische Korrektur der Energieabhängigen Defokussierung in Teilchenstrahlsystemen durch Konfigurationsänderung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.10.2025
Automatisierte Spitzen- und Grundlinienerzeugung für Chromatogrammdaten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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15.10.2025
Probenträgergittererkennung
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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15.10.2025
Hybride Hintergrundextraktion in der Elektronenholographie
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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24.09.2025
Spektralbildanalyse mittels Integrationsbeschränkter Anpassung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Zusammenfassung
Systems or techniques are provided for facilitating spectral image analysis via integration-constrained fitting. In various embodiments, a system can access a spectral image of a specimen captured by a scientific instrument, wherein pixels of the spectral image respectively correspond to energy spectra. In various aspects, the system can fit in pixel-wise fashion a function to the energy spectra, wherein the function comprises a plurality of terms that are additively combined, wherein a first term of the plurality of terms represents a fine structure of the energy spectra, and wherein an integral associated with the first term is constrained to zero. In various instances, the system can segment the spectral image by material, based on the first term. |
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17.09.2025
Kachelbereichsnachbarschaftsgraphberechnung über Pixelbereichsnachbarschaftsgraphen
Software & Datenverarbeitung
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03.09.2025
Systeme und Verfahren zur Übertragung einer Probe in und aus einer Vakuumkammer eines Transmissionselektronenmikroskops
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.08.2025
Tiefenrekonstruktion für 3D-Bilder von Proben in einem Geladenen Teilchensystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.08.2025
Automatische Spitzen- und Grundlinienerzeugung für Chromatogrammdaten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
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23.07.2025
Verbessertes Rasterelektronenmikroskop und Verfahren zu dessen Verwendung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.01.2024
Anhängig
Vertretung
Pecharová, Petra · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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25.06.2025
Mehrpolige Elemente und Ladungsträgerteilchenmikroskopsysteme damit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.06.2025
Partikelinduzierte Röntgenstrahlung mit Leicht- und Schwerpartikelstrahlen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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