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Sumco Patente

🇯🇵 Japan

Sumco ist ein japanischer Hersteller von Siliziumwafern für die Halbleiterindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Metallurgie- und Fertigungstechnik. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.

658
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

658 gesamt
Patent
06.09.2019
Method for controlling convection pattern of silicon melt, method for producing silicon single crystals, and device for pulling silicon single crystals
Metallurgie & Oberflächentechnik
06.09.2019
Semiconductor single crystal ingot slicing method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.09.2019
Silica Glass Crucible
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
06.09.2019
Method for predicting warpage amount of silicon wafer and method for manufacturing silicon wafer
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.08.2019
Quartz Glass Crucible
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
29.08.2019
Wafer production method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.08.2019
Prozess zur Herstellung eines Siliziumwafers
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.08.2019
Method for evaluating silicon layer, and method for producing silicon epitaxial wafer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.07.2019
Evaluation method for semiconductor wafer and method for manufacturing semiconductor wafer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.07.2019
Method for supplying raw material and method for producing silicon monocrystal
Metallurgie & Oberflächentechnik
17.07.2019
Gebondeter Wafer und Herstellungsverfahren dafür
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.07.2019
Herstellungsverfahren für Siliciumeinkristall
Metallurgie & Oberflächentechnik
04.07.2019
Double-side polishing device and double-side polishing method for workpiece
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.07.2019
Method for producing epitaxial silicon wafer, epitaxial silicon wafer, and method for manufacturing solid-stage imaging sensor
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.07.2019
Method for two-sided polishing of wafer
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.07.2019
Suction Chuck
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.07.2019
Apparatus and method for manufacturing epitaxial wafer
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.06.2019
Contamination control method for vapor phase growth device and method for manufacturing epitaxial wafer
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.06.2019
Cleaning method, method for producing silicon single crystal, and cleaning device
Metallurgie & Oberflächentechnik
27.06.2019
Recharging tube, raw material feeding device, single crystal pulling up device, usage of recharging tube, recharging method, and single crystal pulling up method
Metallurgie & Oberflächentechnik
27.06.2019
Method for manufacturing ingot block, method for manufacturing semiconductor wafer, and device for manufacturing ingot block
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Metallurgie & Oberflächentechnik
27.06.2019
Method for measuring fe concentration in p type silicon wafer and spv measurement device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.06.2019
Silicon single crystal, method for producing same, and silicon wafer
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.05.2019
Halbleitersubstrat, Feldeffekttransistor und Verfahren zu Ihrer Herstellung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.05.2019
Quarzglastiegel und Herstellungsverfahren dafür
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
09.05.2019
Method for determining quality of silicon blocks, program for determining quality of silicon blocks, and method for producing silicon monocrystal
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.05.2019
Zylinderschleifgerät und Zylinderschleifverfahren für Ingots
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
25.04.2019
Device for affixing wafer to single-side polishing device, and method for affixing wafer to single-side polishing device
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.04.2019
Silicon wafer polishing method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.04.2019
Verfahren zum Messen einer Dreidimensionalen Form eines Quarzglastiegels und Verfahren zur Herstellung von Einkristallinem Silizium
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
18.04.2019
Semiconductor wafer evaluation method and semiconductor wafer production method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.04.2019
Crucible-supporting pedestal, quartz crucible-supporting device, and method for producing silicon single crystal
Metallurgie & Oberflächentechnik
07.03.2019
Method for producing carrier and method for polishing wafer
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.03.2019
Method for manufacturing semiconductor wafer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.03.2019
Susceptor, epitaxial growth device, epitaxial silicon wafer manufacturing method, and epitaxial silicon wafer
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.03.2019
Double-side polishing method for silicon wafer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.03.2019
Verfahren zur Regenerierung eines schichtübertragungswafers
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.02.2019
Epitaxialer Wafer und Herstellungsverfahren dafür
Metallurgie & Oberflächentechnik
27.02.2019
Verfahren zur Analyse der Eisenkonzentration eines bordotierten p-Siliziumwafers und Verfahren zur Herstellung eines Siliziumwafers
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.02.2019
Verfahren zur Einschätzung, ob ein Halbleiterwafer ein nicht defekter Wafer ist, durch Verwendung des Laserstreuungsverfahrens
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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