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Sumco Patente

🇯🇵 Japan

Sumco ist ein japanischer Hersteller von Siliziumwafern für die Halbleiterindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Metallurgie- und Fertigungstechnik. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.

658
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

658 gesamt
Patent
06.02.2019
Verfahren zur Bewertung eines Quarzglastiegels und Verfahren zur Herstellung von Siliciumeinzelkristallen
Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.01.2019
Method for evaluating silicon wafer manufacturing process and silicon wafer manufacturing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.01.2019
Semiconductor epitaxial wafer, manufacturing method for same, and manufacturing method for solid state imaging element
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.01.2019
Verfahren zur Herstellung eines gebondeten Wafers
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.01.2019
Silicon wafer production method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.01.2019
Silicon Wafer
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.01.2019
Quartz Glass Crucible
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
03.01.2019
Method for producing silicon single crystal
Metallurgie & Oberflächentechnik
03.01.2019
Silicon Wafer
Metallurgie & Oberflächentechnik
27.12.2018
Silicon wafer thermal donor generation behavior prediction method, silicon wafer evaluation method, and silicon wafer manufacturing method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.12.2018
Prüfverfahren, Herstellungsverfahren für Analyseteil, Analyseverfahren, Analysator, Herstellungsverfahren für Soi-Wafer und Soi-Wafer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.12.2018
Herstellungsverfahren für ein Halbleitersubstrat und Herstellungsverfahren für einen Feldeffekttransistor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.12.2018
Herstellungsverfahren für Siliziumwafer für IGBT
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.11.2018
Method for producing silicon single crystal
Metallurgie & Oberflächentechnik
15.11.2018
Spray chamber, specimen atomizing and introducing device, analyzing device, and method for analyzing components of specimen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.11.2018
Quartz glass crucible and production method therefor
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
01.11.2018
Method for pulling up silicon monocrystal
Metallurgie & Oberflächentechnik
01.11.2018
N-type silicon single crystal production method, n-type silicon single crystal ingot, silicon wafer, and epitaxial silicon wafer
Metallurgie & Oberflächentechnik
01.11.2018
Single crystal silicon production method, epitaxial silicon wafer production method, single crystal silicon, and epitaxial silicon wafer
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.11.2018
N-type silicon single crystal production method, n-type silicon single crystal ingot, silicon wafer, and epitaxial silicon wafer
Metallurgie & Oberflächentechnik
25.10.2018
Method for analyzing silicon wafer metal contamination, and silicon wafer manufacturing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.10.2018
Heat-blocking member, single-crystal-pulling device, and method for producing single crystal silicon ingot
Metallurgie & Oberflächentechnik
11.10.2018
Method for manufacturing epitaxial silicon wafer and epitaxial silicon wafer
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.09.2018
Zerstörendes Untersuchungsverfahren und Verfahren zum Beurteilen der Qualität eines Quarzglastiegels
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
13.09.2018
Epitaxial growth device and preheat ring, and epitaxial wafer manufacturing method using same
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.09.2018
Epitaxial wafer reverse surface inspecting method, epitaxial wafer reverse surface inspecting device, epitaxial growth device lift pin management method, and method of manufacturing epitaxial wafer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.09.2018
Method for evaluating impurity gettering ability of epitaxial silicon wafer and epitaxial silicon wafer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.09.2018
Method for manufacturing silicon single-crystal ingot, and silicon single-crystal ingot
Metallurgie & Oberflächentechnik
07.09.2018
Method for manufacturing silicon single crystal ingot and silicon single crystal growing apparatus
Metallurgie & Oberflächentechnik
05.09.2018
Suszeptor, Dampfabscheidungsvorrichtung und Dampfabscheidungsverfahren
Metallurgie & Oberflächentechnik
30.08.2018
Method for manufacturing silicon single crystal, flow straightening member, and single crystal pulling device
Metallurgie & Oberflächentechnik
22.08.2018
Quarzglastiegel und Verfahren zur Herstellung von Monokristallinem Silicium damit
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
15.08.2018
Alkaliätzmittel zur Steuerung der Oberflächenrauhigkeit eines Halbleiterwafers
Farben, Klebstoffe & Brennstoffe Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.08.2018
Cleaning device for monocrystal pulling apparatus
Metallurgie & Oberflächentechnik
09.08.2018
Lift pin, epitaxial growth device using said lift pin, and silicon epitaxial wafer manufacturing method
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.08.2018
Device and method for cleaning monocrystal pulling apparatus
Metallurgie & Oberflächentechnik
09.08.2018
Device and method for cleaning monocrystal pulling apparatus
Metallurgie & Oberflächentechnik
08.08.2018
Siliciumglastiegel
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
12.07.2018
Silicon single crystal pulling condition calculation program, silicon single crystal hot zone improvement method, and silicon single crystal growing method
Metallurgie & Oberflächentechnik
05.07.2018
Method for decomposing quartz sample, method for analyzing metal contamination of quartz sample, and method for manufacturing quartz member
Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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