ASML Patente
🇳🇱 Niederlande
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
3.336
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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3.336 gesamt| Patent | |||
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22.07.2015
Strahlungsquelle
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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16.07.2015
Lithographic apparatus, device manufacturing method and associated data processing apparatus and computer program product
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.10.2014
Anhängig
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16.07.2015
Actuation mechanism, optical apparatus and lithography apparatus
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.12.2014
Anhängig
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09.07.2015
Method and apparatus for design of a metrology target
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.12.2014
Anhängig
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09.07.2015
Method and apparatus for design of a metrology target
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.12.2014
Anhängig
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09.07.2015
Method and apparatus for design of a metrology target
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.12.2014
Anhängig
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09.07.2015
Method and apparatus for design of a metrology target
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.12.2014
Anhängig
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08.07.2015
Markierungsstruktur zur groben Wafer-Ausrichtung und Verfahren zur Herstellung einer solchen Markierungsstruktur
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.02.2009
Erteilt am 08.07.2015
Vertretung
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08.07.2015
Strahlungsquelle und entsprechendes Verfahren
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 27.08.2009
Erteilt am 08.07.2015
Vertretung
Slenders, Petrus Johannes Waltherus · Eindhoven
Slenders, Petrus J. W · Eindhoven
Slenders, Petrus J. W · Eindhoven
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01.07.2015
Lithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung eines Artikels
Optik & Fototechnik
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Angemeldet am 14.05.2004
Erteilt am 01.07.2015
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01.07.2015
Lithografische Vorrichtung und Verfahren zur Positionskalibrierung eines Trägertisches
Optik & Fototechnik
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25.06.2015
Inspection method and apparatus, and lithographic apparatus
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 07.11.2014
Anhängig
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25.06.2015
Inspection method and apparatus and lithographic apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 14.11.2014
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25.06.2015
System For Positioning an Object in Lithography
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 14.11.2014
Anhängig
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25.06.2015
Yield estimation and control
Optik & Fototechnik
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Angemeldet am 14.11.2014
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25.06.2015
Inspection method, lithographic apparatus, mask and substrate
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.11.2014
Anhängig
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25.06.2015
Inspection methods, substrates having metrology targets, lithographic system and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.11.2014
Anhängig
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18.06.2015
Radiation source device, lithographic apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 07.11.2014
Anhängig
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18.06.2015
Radiation source, metrology apparatus, lithographic system and device manufacturing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 14.11.2014
Anhängig
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18.06.2015
Radiation source, metrology apparatus, lithographic system and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.11.2014
Anhängig
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18.06.2015
Inspection apparatus and methods, lithographic system and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Angemeldet am 20.11.2014
Anhängig
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18.06.2015
Radiation source device, lithographic apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 08.12.2014
Anhängig
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11.06.2015
Method and apparatus for measuring a structure on a substrate, models for error correction, computer program products for implementing such methods&apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 05.11.2014
Anhängig
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11.06.2015
Apparatus and method for manufacturing a pellicle, and a pellicle
Optik & Fototechnik
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Angemeldet am 19.11.2014
Anhängig
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11.06.2015
Electron injector and free electron laser
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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Angemeldet am 27.11.2014
Anhängig
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11.06.2015
Apparatus for and method of source material delivery in a laser produced plasma euv light source
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 06.11.2014
Anhängig
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04.06.2015
Method, apparatus and substrates for lithographic metrology
Optik & Fototechnik
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Angemeldet am 04.11.2014
Anhängig
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04.06.2015
Methods and apparatus for calculating electromagnetic scattering properties of a structure and for estimation of geometrical and material parameters thereof
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.11.2014
Anhängig
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28.05.2015
Lithographic method and apparatus
Optik & Fototechnik
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Angemeldet am 02.10.2014
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28.05.2015
Apparatus, lithographic apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.10.2014
Anhängig
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28.05.2015
An apparatus, a device and a device manufacturing method
Optik & Fototechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 04.11.2014
Anhängig
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28.05.2015
System and method for correcting the focus of a laser beam
Optik & Fototechnik
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Angemeldet am 06.11.2014
Anhängig
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21.05.2015
Radiation Source
Elektronik & Schaltungstechnik
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Angemeldet am 23.10.2014
Anhängig
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20.05.2015
Imprint-Lithographie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 12.12.2005
Erteilt am 20.05.2015
Vertretung
Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven
Weenink, Willem · Veldhoven
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
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14.05.2015
Methodology to generate a guiding template for directed self-assembly
Optik & Fototechnik
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Angemeldet am 10.10.2014
Anhängig
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14.05.2015
Method of characterising, method of forming a model, method of simulating, mask manufacturing method and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 14.10.2014
Anhängig
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14.05.2015
Free Electron Laser
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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Angemeldet am 22.10.2014
Anhängig
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07.05.2015
Object Positioning in Lithography
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.09.2014
Anhängig
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07.05.2015
Inspection apparatus and methods, substrates having metrology targets, lithographic system and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.10.2014
Anhängig
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07.05.2015
Lithographic apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.10.2014
Anhängig
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Wer vertritt ASML?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die ASML vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Optik & Fototechnik
2.737
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
727
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
356
Elektronik & Schaltungstechnik
223
Software & Datenverarbeitung
132
Elektrische Energietechnik
125
Steuerungs- & Regelungstechnik
60
Maschinenelemente & Fluidtechnik
37
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
34
Verfahrens- & Trenntechnik
33
Anorganische Chemie & Werkstoffe
33
Metallurgie & Oberflächentechnik
20