JEOL Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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520 gesamt| Patent | |||
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31.10.2018
Fördervorrichtung für Probenrack und Automatisches Analysesystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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31.10.2018
Vorrichtung zur Förderung von Probenracks, Automatisches Analysesystem und Verfahren zur Probenrackaufnahme für eine Probenrackfördervorrichtung
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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31.10.2018
Vorrichtung zur Automatisierten Analyse und Verfahren zur Automatisierten Analyse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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24.10.2018
Behälterzuführeinheit und Automatischer Analysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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19.09.2018
Ladungsträgerteilchenstrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.11.2016
Erteilt am 19.09.2018
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
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12.09.2018
Rasterelektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.08.2018
Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonaler Beschleunigung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.11.2008
Erteilt am 22.08.2018
Vertretung
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15.08.2018
Übertragungsvorrichtung für Probenrack und Automatisches Analysesystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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13.06.2018
Einsatzrohr und Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 07.12.2016
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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09.05.2018
Elektronenmikroskop und Messverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.05.2016
Erteilt am 09.05.2018
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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28.02.2018
Automatischer Analysator Welcher ein Messergebnis, sowie einen Zeitpunkt zu dem das Reagenz der Reaktion Beigemengt Wird, Anzeigt
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.04.2015
Erteilt am 28.02.2018
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
An operator who operates an automatic analyzer can easily recognize a timing of adding a reagent to a specimen. reagent is added to a specimen in a reaction container to cause the reagent and the specimen to react with each other, an optical property of the specimen in the reaction container is measured, and a display screen for measurement data is created. A display screen 100 for a measurement-data graph indicating a change over time in the measurement data (or a measurement-data list indicating a list of measurement data) is created as a display screen for the measurement data. In this display screen 100, a display "x" or "y" indicating an addition timing of the reagent in the reaction container is added. |
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21.02.2018
Probenpositionierungsvorrichtung,Teilchenstrahlsystem und Probenhalter
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.12.2013
Erteilt am 21.02.2018
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
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14.02.2018
Massenspektrometer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.12.2011
Erteilt am 14.02.2018
Vertretung
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31.01.2018
Elektronenspektrometer und Messverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.03.2016
Erteilt am 31.01.2018
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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13.12.2017
Geladenes Teilchenstrahlsystem und Verfahren zur Aberrationskorrektur
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.06.2017
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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15.11.2017
Festkörper-Nmr-Vorrichtung mit Spulenanordnung zur Genauen Einstellung des Magischen Winkels
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.02.2016
Erteilt am 15.11.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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01.11.2017
Strahlungsdetektor und Probenanalysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.09.2014
Erteilt am 01.11.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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11.10.2017
Steuerungsverfahren für Elektronenkanone und Maschine zur Schichtweisen Herstellung mittels Elektronenstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.02.2015
Erteilt am 11.10.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
Boult Wade Tennant LLP · London
Zusammenfassung
There is disclosed a method of controlling an electron gun without causing decreases in brightness of the electron beam if a current-limiting aperture cannot be used. The electron gun (10) has a cathode (11), a Wehnelt electrode (12), a control electrode (13), an anode (14), and a controller (22). The Wehnelt electrode (12) has a first opening in which the tip of the cathode is inserted, and focuses thermal electrons emitted from the tip of the cathode (11). The thermal electrons emitted from the tip of the cathode (11) are caused to pass into a second opening by the control electrode (13). The anode (14) accelerates the thermal electrons emitted from the cathode (11) such that the thermal electrons passed through the second opening pass through a third opening and impinge as an electron beam (B1) on a powdered sample (8). The controller (22) sets the bias voltage and the control voltage based on combination conditions of the bias voltage and control voltage to maintain the brightness of the beam constant. |
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11.10.2017
Bildbewertungsverfahren und Vorrichtung mit Geladenem Teilchenstrahl
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.11.2015
Erteilt am 11.10.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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04.10.2017
Verfahren und Vorrichtung für die Tandem-Flugzeit-Massenspektrometrie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.09.2011
Anhängig
Vertretung
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13.09.2017
Strahlausrichtungsvorrichtung und Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 07.03.2017
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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13.09.2017
Nmr-Sonde
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.02.2016
Erteilt am 13.09.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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30.08.2017
Automatische Analysevorrichtung sowie Trennungs- und Reinigungsverfahren
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.09.2015
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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23.08.2017
Kernmagnetresonanzspektrometer und Verfahren zur Magnetfeldkorrektur
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.03.2012
Erteilt am 23.08.2017
Vertretung
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09.08.2017
Lumineszenzmessvorrichtung und Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.10.2015
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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12.07.2017
Kombination aus Teilchenstrahl- und Fluoreszenzmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.04.2011
Erteilt am 12.07.2017
Vertretung
polypatent · Bergisch Gladbach
Godemeyer Blum Lenze - werkpatent · Overath
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05.07.2017
Verfahren zur axialen Ausrichtung eines Ladungsträgerstrahls und Ladungsträgerstrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.05.2013
Erteilt am 05.07.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
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14.06.2017
Abscheidung mittels Fokussiertem Ionenstrahl
Metallurgie & Oberflächentechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.11.2015
Erteilt am 14.06.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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03.05.2017
Verfahren zur Additivherstellung
Kunststoff- & Polymertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 10.03.2015
Erteilt am 03.05.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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03.05.2017
Verfahren zur Herstellung einer axialen Ausrichtung eines geladenen Teilchenstrahls und geladenes Teilchenstrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.11.2011
Erteilt am 03.05.2017
Vertretung
Zusammenfassung
A method of making axial alignment of a charged particle beam (20) relative to at least three stages of multipole elements (11, 12, 13) is offered. Also, a charged particle beam system capable of making the axial alignment is offered. At least three astigmatic fields are produced. Some parts of the orbit of the beam or the distributions of the astigmatic fields, or both, are simultaneously translated in a direction perpendicular to the optical axis (OP) such that astigmatisms of the same order and same type due to axial deviations between successive ones of the astigmatic fields cancel out each other. |
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22.03.2017
Automatisierter Analysator und Düsenreinigungsverfahren
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.05.2015
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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22.03.2017
Behälterzuführeinheit und Automatischer Analysator
Verpackungs- & Fördertechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.05.2015
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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22.03.2017
Phasenplatte und Herstellungsverfahren dafür
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.12.2013
Erteilt am 22.03.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
Boult Wade Tennant LLP · London
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01.03.2017
Magnetresonanzmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.07.2015
Erteilt am 01.03.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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22.02.2017
Silicon-Drift-Röntgendetektor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.12.2009
Erteilt am 22.02.2017
Vertretung
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15.02.2017
NMR-Spinner
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.10.2013
Erteilt am 15.02.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
Boult Wade Tennant LLP · London
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08.02.2017
Apparat zur automatischen Korrektur eines Strahls geladener Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.12.2005
Erteilt am 08.02.2017
Vertretung
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25.01.2017
Reagenzbehältergehäuseeinheit und Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.03.2015
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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14.12.2016
Raster-Teilchenmikroskop, Bilderfassungsverfahren und Elektronendetektionsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.05.2014
Erteilt am 14.12.2016
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
Boult Wade Tennant LLP · London
Zusammenfassung
A scanning charged particle microscope is offered which can selectively detect and image electrons. The scanning charged particle microscope (100) has: a source (1) of a charged particle beam (E1); an objective lens (6) for bringing the charged particle beam (E1) emitted from the source (1) into focus at a sample (S); a scanning deflector (4) for scanning the focused charged particle beam (E1) over the sample (S); a sorting portion (10) for sorting out electrons emitted at given emission angles from electrons released from the sample (S) in response to irradiation of the sample (S) by the charged particle beam (E1); an electron deflector (20) for producing a deflecting field to deflect the electrons (E2) sorted out according to their energy; a detection portion (30) for detecting the electrons (E2) deflected by the electron deflector (20); and an image creating portion (44) for creating an image, based on the results of the detection performed by the detection portion (30). |
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23.11.2016
Verfahren zur Probenherstellung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.09.2005
Erteilt am 23.11.2016
Vertretung
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Wer vertritt JEOL?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die JEOL vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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