ASML Patente

🇳🇱 Niederlande

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336

Patente

2000–2026

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
04.06.2025	04.06.2025 Verfahren zur Bestimmung einer Korrektur für einen Belichtungsprozess, Lithographievorrichtung und Computerprogramm EP4564095 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.11.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.06.2025	04.06.2025 Elektronenoptisches System, Verfahren zur Herstellung eines Elektronenstrahlelements EP4564396 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.11.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.06.2025	04.06.2025 Verfahren zum Einrichten eines Lithographiegeräts EP4564096 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.12.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.06.2025	04.06.2025 Elektrolyseur mit Laminarer Strömung EP4562228 Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.07.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.06.2025	04.06.2025 Trainieren eines Modells zur Erzeugung Prädiktiver Daten EP4562474 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.07.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.05.2025	28.05.2025 Strahlungsquelle EP4560393 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.11.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.05.2025	28.05.2025 Vorrichtung und Verfahren zur Projektion mehrerer Geladener Teilchenstrahlen EP4560682 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.11.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.05.2025	28.05.2025 System und Verfahren zur Bereitstellung von Ausgangsstrahlung EP4560394 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.11.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.05.2025	28.05.2025 Anordnung zur Wellenlängenkalibrierung EP4560401 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.11.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.05.2025	28.05.2025 Verfahren zur Bestimmung einer Optischen Eigenschaft einer Mehrschichtigen Struktur EP4560400 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.11.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.05.2025	28.05.2025 System und Verfahren zum Zählen von Partikeln auf einem Detektor Während der Inspektion EP4558845 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.07.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.05.2025	28.05.2025 Verbesserte Kantendetektion mit Detektoreinfallstellen EP4559016 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.07.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.05.2025	28.05.2025 Detektor für Geladene Teilchen für Mikroskopie EP4559015 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.07.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.05.2025	21.05.2025 Verfahren und Anordnungen zur Wellenlängenkalibrierung EP4556869 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.11.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.05.2025	21.05.2025 Spiegelanordnung für Mikrospiegelarray EP4555382 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.05.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.05.2025	21.05.2025 Substrathalter, Lithografische Vorrichtung, Computerprogramm und Verfahren EP4555383 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.05.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.05.2025	21.05.2025 Metrologie- und Steuerungssystem EP4555832 Elektronik & Schaltungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.06.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.05.2025	21.05.2025 Isolierender Abstandshalter für Elektronenoptische Anordnung EP4555549 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.07.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.05.2025	21.05.2025 Transiente Defektinspektion unter Verwendung eines Inspektionsbildes EP4555474 Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.07.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.05.2025	21.05.2025 Verfahren und System zur Feinfokussierung Sekundärer Strahlpunkte auf einem Detektor für Mehrstrahlinspektionsvorrichtung EP4555550 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.07.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.05.2025	14.05.2025 Fokusmetrologieverfahren und Verfahren zum Entwurf eines Fokusziels für Fokusmetrologie EP4553579 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.11.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.05.2025	14.05.2025 Design einer Schaltung auf Sensorelementebene für eine Elektronenzähldetektionsvorrichtung EP4179302 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.07.2021 Erteilt am 14.05.2025 Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.05.2025	14.05.2025 Quelle, Beurteilungsvorrichtung, Verfahren zur Reinigung einer Quelle Geladener Teilchen, Verfahren zur Reinigung einer Komponente einer Beurteilungsvorrichtung EP4553885 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.11.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.05.2025	14.05.2025 Beurteilungsvorrichtung und Verfahren EP4552149 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.06.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.05.2025	07.05.2025 Vorrichtung zur Breitbandstrahlungserzeugung EP4548157 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.05.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.05.2025	07.05.2025 Optische Vorrichtung für Geladene Teilchen, Optische Vorrichtung für Geladene Teilchen und Verfahren zur Herstellung einer Optischen Vorrichtung für Geladene Teilchen EP4550382 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.10.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.05.2025	07.05.2025 Vorwärtskopplungsrahmen eines Neuronalen Netzwerks zur Compliance-Kompensation EP4550063 Steuerungs- & Regelungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.11.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.05.2025	07.05.2025 Verfahren zur Bestimmung einer Absoluten Position eines Beweglichen Objekts, Interferometersystem, Projektionssystem und Lithografische Vorrichtung EP4548039 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.05.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.05.2025	07.05.2025 Seitenwandwinkelmetrologie EP4550047 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.11.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung There is provided a method for determining angular information of one or more structures comprising: illuminating a first surface portion of said one or more structures with an illumination beam and measuring radiation scattered therefrom to determine a first signal; determining a first asymmetry metric value describing degree of asymmetry of the first signal; and determining the angular information based on at least the first asymmetry metric value, wherein the illumination beam comprises a spot size smaller in at least one dimension of a smallest element of the first surface portion. Alle Patent-Informationen
30.04.2025	30.04.2025 Optische Vorrichtung für Geladene Teilchen und Verfahren zur Detektion von Signalgeladenen Teilchen EP4546393 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.10.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.04.2025	30.04.2025 Verfahren zur Metrologie und Zugehörige Vorrichtungen EP4546049 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.10.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.04.2025	23.04.2025 Positionsmesssystem, Positionsmessverfahren und Lithografische Vorrichtung EP3995897 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.05.2016 Erteilt am 23.04.2025 Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.04.2025	23.04.2025 Substratträger und Lithographische Vorrichtung EP4540659 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.05.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.04.2025	23.04.2025 Substrat Unterstützung und Substrattisch EP4111261 Optik & Fototechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.01.2021 Erteilt am 23.04.2025 Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.04.2025	16.04.2025 Verfahren zum Entwurf eines Fokusziels für Fokusmetrologie EP4538793 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.10.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.04.2025	16.04.2025 Metrologieverfahren und Zugehörige Metrologievorrichtung EP4538794 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.10.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.04.2025	16.04.2025 Verfahren zur Bestimmung eines Abtastschemas und Zugehöriges Metrologieverfahren EP4538797 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.10.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.04.2025	16.04.2025 Verfahren zur Herstellung von Photonischen Kristallfasern EP4536601 Anorganische Chemie & Werkstoffe	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.05.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.04.2025	16.04.2025 Ladungsteilchenstrahlvorrichtung mit Schneller Fokuskorrektur und Verfahren dafür EP4537381 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.05.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.04.2025	16.04.2025 Ansichtsfensteranordnung für eine Extrem-Ultraviolett-Lichtquelle EP4537158 Optik & Fototechnik Elektronik & Schaltungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.05.2023 Anhängig Vertretung ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen