ASML Patente

🇳🇱 Niederlande

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

5.380

Patente

2000–2026

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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5.380 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
19.09.2018	19.09.2018 Metrologieverfahren und Verfahren zur Vorrichtungsherstellung EP3376290 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.03.2017 Anhängig Vertretung Peters, John Antoine · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.09.2018	19.09.2018 Vorrichtung zur Abgabe von Gas EP3376288 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.03.2017 Anhängig Vertretung Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.09.2018	19.09.2018 Stufensystem und Metrologiewerkzeug EP3376289 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.03.2017 Anhängig Vertretung Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.09.2018	13.09.2018 System for evacuating a chamber WO2018162358 Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen) Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.03.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.09.2018	13.09.2018 Euv cleaning systems and methods thereof for an extreme ultraviolet light source WO2018164819 Metallurgie & Oberflächentechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.02.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.09.2018	12.09.2018 Lithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung EP1262836 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.05.2002 Erteilt am 12.09.2018 Vertretung van Os, Lodewijk Hubertus · Veldhoven Van den Hooven, Jan · Veldhoven Leeming, John Gerard · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.09.2018	07.09.2018 Radiation Source WO2018158053 Optik & Fototechnik Elektronik & Schaltungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.02.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.09.2018	05.09.2018 Inspektionsverfahren und Gerät, lithographisches Gerät, lithographische Prozesslinie und Verfahren zum Herstellen von Bauelementen EP1881374 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.07.2007 Erteilt am 05.09.2018 Vertretung Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven Van den Hooven, Jan · Veldhoven Leeming, John Gerard · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.09.2018	05.09.2018 Lithografische Vorrichtung und Lorentzschalter EP2175548 Optik & Fototechnik Elektrische Energietechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.09.2009 Erteilt am 05.09.2018 Vertretung Maas, Abraham Johannes · Veldhoven Maas, Abraham Johannes · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.09.2018	05.09.2018 Verfahren und Vorrichtung zur Berechnung Elektromagnetischer Streuungseigenschaften einer Struktur und zur Rekonstruktion Annähernder Strukturen EP3370114 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.03.2017 Anhängig Vertretung Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.09.2018	05.09.2018 Strahlungsquelle EP3370486 Optik & Fototechnik Elektronik & Schaltungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.03.2017 Anhängig Vertretung Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.08.2018	30.08.2018 Radiation Source WO2018153516 Elektronik & Schaltungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.08.2018	30.08.2018 Lithographic apparatus, lithographic projection apparatus and device manufacturing method WO2018153622 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.08.2018	30.08.2018 Methods of aligning a diffractive optical system and diffractive optical element WO2018153609 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.08.2018	30.08.2018 Method of measuring variation, inspection system, computer program, and computer system WO2018153671 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.02.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.08.2018	30.08.2018 Methods of determining scattering of radiation by structures of finite thicknesses on a patterning device WO2018153735 Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.02.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.08.2018	30.08.2018 Patterning device, a method of making the same, and a patterning device design method WO2018153872 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.02.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.08.2018	30.08.2018 Methods of determining process models by machine learning WO2018153866 Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.02.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.08.2018	30.08.2018 Computational Metrology WO2018153711 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.02.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.08.2018	30.08.2018 Etch bias characterization and method of using the same WO2018153884 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.02.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.08.2018	30.08.2018 Load lock system for charged particle beam imaging WO2018153856 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.02.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.08.2018	29.08.2018 Verfahren zum Ausrichten eines Beugenden Optischen Systems und Diffraktives Optisches Element EP3367165 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.02.2017 Anhängig Vertretung Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.08.2018	29.08.2018 Verfahren zur Messung einer Variation, Inspektionssystem, Computerprogramm und Computersystem EP3367166 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.02.2017 Anhängig Vertretung Peters, John Antoine · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.08.2018	22.08.2018 Vorrichtung zur Euv-Plasmaquellen-Zielablieferung EP1867218 Elektrische Energietechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.02.2006 Erteilt am 22.08.2018 Vertretung Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München Grünecker, Kinkeldey, Stockmair & Schwanhäusser Anwaltssozietät · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.08.2018	22.08.2018 Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung eines Lithographischen Herstellungsverfahrens EP3364247 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.02.2017 Anhängig Vertretung Peters, John Antoine · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.08.2018	16.08.2018 Methods for controlling lithographic apparatus, lithographic apparatus and device manufacturing method WO2018145803 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.12.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.08.2018	16.08.2018 Methods and apparatus for predicting performance of a measurement method, measurement method and apparatus WO2018145837 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.08.2018	16.08.2018 Lithographic apparatus and device manufacturing method WO2018145849 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.08.2018	16.08.2018 Reticle clamping device WO2018145866 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.08.2018	15.08.2018 Gerät und Verfahren zur Inspektion von Strukturen EP3361315 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.02.2017 Anhängig Vertretung Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.08.2018	09.08.2018 Method and system for increasing accuracy of pattern positioning WO2018141450 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.12.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.08.2018	09.08.2018 Metrology method, apparatus and computer program WO2018141505 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.08.2018	09.08.2018 Lithographic apparatus, lithographic projection apparatus and device manufacturing method WO2018141520 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.08.2018	09.08.2018 Metrology method and apparatus and associated computer product WO2018141503 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.08.2018	08.08.2018 Lasererzeugte Plasma-Euv-Lichtquelle EP2167193 Medizintechnik & Gesundheit Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.06.2008 Erteilt am 08.08.2018 Vertretung Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München Grünecker, Kinkeldey, Stockmair & Schwanhäusser Anwaltssozietät · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.08.2018	08.08.2018 Metrologieverfahren, Vorrichtung und Computerprogramm EP3358413 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.02.2017 Anhängig Vertretung Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.08.2018	08.08.2018 Verfahren zur Steuerung einer Lithografischen Vorrichtung, Lithografische Vorrichtung und Vorrichtungsherstellungsverfahren EP3358415 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.02.2017 Anhängig Vertretung Peters, John Antoine · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.08.2018	02.08.2018 A lithography apparatus and a method of manufacturing a device WO2018137816 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.12.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.08.2018	02.08.2018 Method and apparatus for measuring a structure on a substrate WO2018137925 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.08.2018	02.08.2018 Methods of tuning process models WO2018138123 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen