imec Patente
🇧🇪 Belgien
Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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2.629 gesamt| Patent | |||
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29.08.2018
Aktivmatrixanzeige und Verfahren zur Konpensierung von Schwellenspannung
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
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29.08.2018
Verfahren zur Porenabdichtung von porösen Materialien unter Verwendung eines Polyimid-Langmuir-Blodgett-Films
Verfahrens- & Trenntechnik
Kunststoff- & Polymertechnik
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Status
Angemeldet am 19.03.2013
Erteilt am 29.08.2018
Vertretung
Sarlet, Steven Renaat Irène · Diegem
Gevers Patents · Diegem
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29.08.2018
Schaltkreis
Elektronik & Schaltungstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 30.06.2015
Erteilt am 29.08.2018
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22.08.2018
System mit Leitfähiger Textilie und Elektronischer Schaltung und Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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22.08.2018
Verfahren und Vorrichtung zur Übertragungselektronenmikroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.08.2018
Verfahren zur Abscheidung von einem Gruppe III-Nitrid-Material auf ein Siliziumsubstrat und entsprechende Vorrichtung
Metallurgie & Oberflächentechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.12.2004
Erteilt am 22.08.2018
Vertretung
Van Malderen, Joëlle · Liège
Van Malderen, Joëlle · Liège
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22.08.2018
Verfahren zum Durchführen einer Parallelen Stochastischen Assemblierung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.09.2009
Erteilt am 22.08.2018
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22.08.2018
Streckbare Elektronische Einrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 10.04.2009
Erteilt am 22.08.2018
Vertretung
Sarlet, Steven Renaat Irène · Diegem
Gevers Patents · Diegem
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22.08.2018
Streckbare Elektronische Anordnung und Verfahren zu deren Herstellung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 29.01.2010
Erteilt am 22.08.2018
Vertretung
Sarlet, Steven Renaat Irène · Diegem
Gevers Patents · Diegem
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22.08.2018
Strukturierte Sonden für neurale Anwendungen
Medizintechnik & Gesundheit
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Status
Angemeldet am 16.09.2011
Erteilt am 22.08.2018
Vertretung
AWA Sweden AB · Stockholm
Bird Goën & Co · Winksele
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15.08.2018
Integrierte optische Sensorschalter
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.12.2013
Erteilt am 15.08.2018
Vertretung
Wauters, Davy Erik Angelo · Boortmeerbeek
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09.08.2018
Partially translucent photovoltaic modules and methods for manufacturing
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.02.2018
Anhängig
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01.08.2018
Integrierte Schaltung für einen Sende-Empfänger
Elektronik & Schaltungstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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25.07.2018
Schutzbauelement gegen elektrostatische Entladung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.12.2002
Erteilt am 25.07.2018
Vertretung
Van Malderen, Joëlle · Liège
Van Malderen, Joëlle · Liège
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18.07.2018
Bildsensor, Bildgebungsvorrichtung, Bildgebungssystem und Verfahren zur Spektralen Bildgebung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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11.07.2018
Spektrometer mit Doppelkopplervorrichtung
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.02.2016
Erteilt am 11.07.2018
Vertretung
Portch, Daniel · Sevenoaks
Elkington and Fife LLP · Sevenoaks
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11.07.2018
Verfahren zur Herstellung von Halbleiterbauelementen und damit hergestellte Halbleiterbauelemente
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Status
Angemeldet am 30.11.2009
Erteilt am 11.07.2018
Vertretung
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05.07.2018
Characterization of regions with different crystallinity in materials
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.12.2017
Anhängig
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04.07.2018
Integriertes Halbleiterbauelement zur Detektion Fluoreszenter Partikel
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.05.2015
Erteilt am 04.07.2018
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04.07.2018
Verfahren zur Herstellung von mikroelektronischen Vorrichtungen und Vorrichtungen gemäß derartiger Verfahren
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Status
Angemeldet am 30.11.2009
Erteilt am 04.07.2018
Vertretung
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28.06.2018
Flow cytometer with multiple intensity peak design
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.12.2017
Anhängig
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27.06.2018
Verfahren für Selektives Epitaktisches Wachstum einer Gruppe Iii-Nitrid Schicht
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.06.2018
Bit-Zelle für einen Statischen Direktzugriffsspeicher
Akustik, Musik & Datenspeicherung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.06.2018
Source- und Drain-Kontakte in Fin oder Nanodraht Basierten Halbleiterbauelementen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.06.2018
Kombinierte Extraktions- und Pcr-Systeme
Verfahrens- & Trenntechnik
Pharma & Biotechnologie
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13.06.2018
Chirurgische Einsetzvorrichtung
Medizintechnik & Gesundheit
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13.06.2018
Verfahren zum Ablösen einer Graphenschicht von einem Schablonensubstrat
Anorganische Chemie & Werkstoffe
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13.06.2018
Verfahren zur Bereitstellung einer nMOS-Vorrichtung und einer pMOS-Vorrichtung auf einem Siliciumsubstrat sowie ein Siliciumsubstrat mit einer nMOS-Vorrichtung und einer pMOS-Vorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.07.2014
Erteilt am 13.06.2018
Vertretung
Hertoghe, Kris Angèle Louisa · Winksele
Kirkpatrick · La Hulpe
Zusammenfassung
A method for providing an nMOS device and a pMOS device on a silicon substrate, comprising: a. providing trenches in a dielectric layer on the silicon substrate, at least a first trench defining an nMOS region and a second trench defining a pMOS region, the trenches extending through the dielectric layer and abutting a surface of the substrate; b. growing a first seed layer in the first trench on the surface; c. growing a common strain relaxed buffer layer in the first and the second trench, the strain relaxed buffer layer comprising silicon germanium; d. growing a common channel layer comprising germanium (Ge) in the first trench and the second trench on the common strain relaxed buffer layer; wherein the properties of the first seed layer an the common strained relaxed buffer layer are predetermined such that the common channel layer comprises tensile strain or is unstrained in the nMOS region and comprises compressive strain in the pMOS region; and associated substrate. |
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13.06.2018
Selektive Entfernung von seltenerdenenthaltenden Stoffen in einer Halbleitervorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.06.2018
Verfahren zur Herstellung einer Säulenstruktur in einer Halbleiterschicht
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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07.06.2018
Light-emitting device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.11.2017
Anhängig
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06.06.2018
Verfahren zur Plasmatexturierung mittels Zwei Trockenätzschritte
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.06.2018
Speicherzugriffseinheit
Software & Datenverarbeitung
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06.06.2018
Eingangsschaltung für einen Dynamischen Komparator
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 01.12.2016
Anhängig
Vertretung
DenK iP · Boortmeerbeek
AWA Sweden AB · Stockholm
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30.05.2018
Hybrid-Nanolaminatelektroden für Lithiumionen- Akkumulatoren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.05.2018
Verfahren zur Formung einer Materialschicht aus Übergangsmetalldichalkogenid, Tmdc
Metallurgie & Oberflächentechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.11.2016
Anhängig
Vertretung
AWA Sweden AB · Stockholm
Awapatent AB · Helsingborg
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30.05.2018
Verfahren zur Herstellung Nichtflacher Vorrichtungen
Kunststoff- & Polymertechnik
Optik & Fototechnik
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23.05.2018
Laserlicht Einkopplung in eine SOI CMOS photonische integrierte Schaltung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Angemeldet am 24.02.2011
Erteilt am 23.05.2018
Vertretung
Wauters, Davy Erik Angelo · Boortmeerbeek
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23.05.2018
System und Verfahren zur Überwachung des Auges einer Person
Medizintechnik & Gesundheit
Fahrzeugtechnik (Automobil, Bahn & Schiff)
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23.05.2018
Halbleiterbauelement und Herstellungsverfahren dafür
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.10.2009
Erteilt am 23.05.2018
Vertretung
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Wer vertritt imec?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die imec vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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