JEOL Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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520 gesamt| Patent | |||
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19.10.2016
Erzeugung von Spektren mit verbessertem Signal-zu-Rausch-Verhältnis
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.05.2011
Erteilt am 19.10.2016
Vertretung
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14.09.2016
Aberrationskorrektor und Verfahren für Aberrationskorrektur
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.10.2007
Erteilt am 14.09.2016
Vertretung
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14.09.2016
Phasenplatte, Verfahren zur Herstellung davon und Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.03.2016
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
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10.08.2016
Verfahren und Vorrichtung zur Aberrationskorrektur in Ladungsträgerteilchenstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.12.2004
Erteilt am 10.08.2016
Vertretung
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06.07.2016
Wienfilter und damit ausgerüstetem Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 07.02.2003
Erteilt am 06.07.2016
Vertretung
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06.07.2016
System mit fokussiertem Ionenstrahl und Verfahren zur Fokussierung des Ionenstrahls
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.11.2014
Erteilt am 06.07.2016
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
Boult Wade Tennant LLP · London
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08.06.2016
Ladungsträgerstrahlvorrichtung und Bilderfassungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.12.2015
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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18.05.2016
Zufuhrvorrichtung für einen Messbehälter
Verpackungs- & Fördertechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.06.2014
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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04.05.2016
Transmissionselektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.12.2008
Erteilt am 04.05.2016
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20.04.2016
Elektronenmikroskop und Verfahren zum Einstellen davon
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.06.2013
Erteilt am 20.04.2016
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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13.04.2016
Greifvorrichtung
Verpackungs- & Fördertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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13.04.2016
Informationsverarbeitungsvorrichtung und Informationsverarbeitungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.10.2015
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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16.03.2016
Rasterelektronenmikroskop mit einem Film als Probenhalter und einer Schale zum Auffangen von Probenmaterial eines beschädigten Films
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.03.2009
Erteilt am 16.03.2016
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09.03.2016
Elektronenmikroskop und Verfahren zu dessen Betrieb
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.06.2013
Erteilt am 09.03.2016
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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09.03.2016
Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.09.2006
Erteilt am 09.03.2016
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13.01.2016
Teilchenstrahlsystem mit Schild gegen Kontaminierung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.08.2009
Erteilt am 13.01.2016
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30.12.2015
Zuführvorrichtung für Messbehälter
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.02.2014
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
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30.12.2015
Sample introduction method, sample stage, and charged particle beam device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.06.2015
Anhängig
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16.12.2015
Verfahren und Vorrichtung zur genauen Einstellung des magischen Winkels in der NMR
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.10.2010
Erteilt am 16.12.2015
Vertretung
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21.10.2015
Dreidimensionale Zusatzstoffherstellungsvorrichtung, Dreidimensionales Zusatzstoffherstellungssystem, Dreidimensionales Zusatzstoffherstellungsverfahren
Kunststoff- & Polymertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 30.03.2015
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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21.10.2015
Dreidimensionale Zusatzstoffherstellungsvorrichtung und Dreidimensionales Zusatzstoffherstellungsverfahren
Kunststoff- & Polymertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 30.03.2015
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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30.09.2015
Röntgenspektrometer und Elektronische Spektrometrie-Diagnoseschaltung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.03.2014
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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23.09.2015
Additivherstellungsmaschine
Kunststoff- & Polymertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 19.03.2015
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
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16.09.2015
Maschine und Verfahren zur Additivherstellung
Kunststoff- & Polymertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 09.03.2015
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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09.09.2015
Vorrichtung und Verfahren zur Probenvorbereitung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.02.2015
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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02.09.2015
Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.06.2004
Erteilt am 02.09.2015
Vertretung
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26.08.2015
Verfahren zur axialen Ausrichtung eines Ladungsträgerstrahls und Ladungsträgerstrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.06.2013
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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26.08.2015
Teilchenstrahlinstrument mit Vorevakuierungskammer zum Probentransfer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.01.2014
Anhängig
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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28.01.2015
Raster-Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.09.2013
Erteilt am 28.01.2015
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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31.12.2014
Elektronendetektionssystem und damit ausgerüstetes Ladungsteilchenstrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.02.2012
Anhängig
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03.12.2014
Sende-Empfangs-Schalteinheit zur Verwendung in einem Nmr-Spektrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.10.2009
Erteilt am 03.12.2014
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19.11.2014
Bildverarbeitungsverfahren, Bildverarbeiter, Bildwandler und Computerprogramm
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 15.05.2014
Anhängig
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Boult Wade Tennant LLP · London
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05.11.2014
Transmissionselektronenmikroskop und Verfahren zum Betrachten von TEM-Bildern
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.10.2012
Anhängig
Vertretung
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A transmission electron microscope (TEM) is offered which can reduce the effects of a magnetic field on a sample during observation of a TEM image. The transmission electron microscope (100) includes an electron beam source (2), an illumination lens (4), a first objective lens (6), a second objective lens (8), a selected area aperture (16), a projector lens (10), a detector (12), and a control portion (22). This control portion controls at least the illumination lens (4), second objective lens (8), and projector lens (10). A first plane (17) is located between the second objective lens (8) and the projector lens (10). The control portion (22) performs first sets of processing for controlling the illumination lens (4) such that an electron beam (L) hits the sample (S), controlling the second objective lens (8) such that a diffraction pattern of the sample (S) is imaged onto the first plane (17), and controlling the projector lens (10) such that a TEM image of the sample (S) formed by the second objective lens (8) is focused onto a second plane where the light-sensitive portion (13) of the detector (12) is disposed. <img class="EMIRef" id="135545183-iaf01" /> |
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30.07.2014
Verfahren zur Herstellung einer axialen Ausrichtung eines geladenen Teilchenstrahls und geladenes Teilchenstrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 07.12.2011
Anhängig
Vertretung
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12.02.2014
Elektronenstrahlvorrichtung und Verfahren zu deren Ansteuerung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.12.2009
Erteilt am 12.02.2014
Vertretung
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15.01.2014
Aberrationskorrektursystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.07.2008
Erteilt am 15.01.2014
Vertretung
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30.10.2013
Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.12.2008
Erteilt am 30.10.2013
Vertretung
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02.10.2013
Vorrichtung, Verfahren und System zur Probenuntersuchung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.12.2007
Erteilt am 02.10.2013
Vertretung
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28.08.2013
Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Proben
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.04.2006
Erteilt am 28.08.2013
Vertretung
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20.03.2013
NMR-Messverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.09.2009
Erteilt am 20.03.2013
Vertretung
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Wer vertritt JEOL?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die JEOL vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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