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Lam Research Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie mit Sitz in Fremont, Kalifornien, spezialisiert auf Ätz- und Beschichtungssysteme (Deposition) für die Chipproduktion.

2.725
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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2.725 gesamt
Patent
14.01.2010
Passive Capacitively-Coupled Electrostatic (cce) Probe Arrangement For Detecting In-Situ Arcing Events in A Plasma Processing Chamber
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.01.2010
Plasma-facing probe arrangement including vacuum gap for use in a plasma processing chamber
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.01.2010
Rf-Biased Capacitively-Coupled Electrostatic (rfb-Cce) Probe Arrangement For Characterizing A Film in A Plasma Processing Chamber
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.01.2010
Passive Capacitively-Coupled Electrostatic (cce) Probe Arrangement For Detecting Plasma Instabilities in A Plasma Processing Chamber
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.01.2010
Verfahren zur Reinigung von Substratoberflächen nach einer Ätzstufe
Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.01.2010
Single substrate processing head for particle removal using low viscosity fluid
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.01.2010
Peripherally engaging electrode carriers and assemblies incorporating the same
Elektronik & Schaltungstechnik
07.01.2010
Backside mounted electrode carriers and assemblies incorporating the same
Elektronik & Schaltungstechnik
06.01.2010
Zirkonverstärkte Keramische Komponenten und Beschichtungen bei Halbleiterherstellungsgeräten und Verfahren zu Ihrer Herstellung
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.12.2009
Methods for automatically characterizing a plasma
Elektronik & Schaltungstechnik
23.12.2009
Matching circuit for a complex radio frequency (rf) waveform
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
23.12.2009
Method to create three-dimensional images of semiconductor structures using a focused ion beam device and a scanning electron microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.12.2009
Methods for controlling time scale of gas delivery into a processing chamber
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.12.2009
Abgestufte Obere Elektrode für Plasmabehandlungsgleichmässigkeit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.12.2009
Organic arc etch selective for immersion photoresist
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.12.2009
Plasma processing systems with mechanisms for controlling temperatures of components
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.12.2009
Nahfeldkopf mit Gewinkeltem Vakuumleitungssystem sowie Entsprechende Vorrichtung und Entsprechendes Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.12.2009
Drucksteuerung in der Umgebung eines Wafers
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.12.2009
Methods and apparatus for normalizing optical emission spectra
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
02.12.2009
Methode und Apparat zur Endpunktbestimmung eines Photolackentfernungsprozesses
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.12.2009
Konzentrischer Prozesskopf
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.11.2009
Helium Descumming
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.11.2009
Electrical and optical system and methods for monitoring erosion of electrostatic chuck edge bead materials
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.11.2009
Detection of arcing events in wafer plasma processing through monitoring of trace gas concentrations
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.11.2009
Selective Inductive Double Patterning
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.11.2009
Plasma process with photoresist mask preteatment
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.11.2009
Dynamic alignment of wafers using compensation values obtained through a series of wafer movements
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.11.2009
Verfahren zur Substratbehandlung und Trockungs-Sammelrohr
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.10.2009
Randrad-Trockenverteiler
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.10.2009
Verfahren zur Steuerung eines Grabenätzprozesses
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.10.2009
Processes and solutions for substrate cleaning and electroless deposition
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.09.2009
Electrode assembly and plasma processing chamber utilizing thermally conductive gasket
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
17.09.2009
Control of bevel etch film profile using plasma exclusion zone rings larger than the wafer diameter
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.09.2009
Cam Lock Electrode Clamp
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.09.2009
Line width roughness improvement with noble gas plasma
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.09.2009
Verfahren und Vorrichtung zur Reinigung von einem Halbleiterwafer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.09.2009
Method for inspecting electrostatic chucks with kelvin probe analysis
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.09.2009
Verfahren zum Reinigen und Konditionieren einer Plasma-Reaktionskammer
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.08.2009
A protective coating for a plasma processing chamber part and a method of use
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.08.2009
Double Mask Self-Aligned Double Patterning Technology (sadpt) Process
Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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