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ASML Patente

🇳🇱 Niederlande

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

5.380
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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5.380 gesamt
Patent
02.06.2022
Mems Array Interconnection Design
01.06.2022
Metrologische Vorrichtung und Metrologische Verfahren basierend auf der Erzeugung Hoher Oberschwingungen aus einer Diffraktiven Struktur
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
01.06.2022
Messvorrichtung basierend auf der Erzeugung von Hohen Oberschwingungen und Zugehöriges Verfahren
Optik & Fototechnik
01.06.2022
Rasterelektronenmikroskopiesysteme und -Verfahren für Mehrere Landeenergien
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.06.2022
Pellikelmembran
Optik & Fototechnik
01.06.2022
Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung eines Lithographischen Herstellungsverfahrens
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
01.06.2022
Verfahren zur Steuerung eines Herstellungsverfahrens und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
27.05.2022
Inspection method and inspection tool
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.05.2022
Simulation-Assisted Metrology Image Alignment
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
27.05.2022
Method of forming a patterned layer of material
Metallurgie & Oberflächentechnik Optik & Fototechnik
27.05.2022
Semiconductor charged particle detector for microscopy
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.05.2022
Metrology system and lithographic system
Optik & Fototechnik
25.05.2022
Verfahren und Vorrichtung zur Thermischen Verformung einer Optischen Oberfläche eines Optischen Elements
Optik & Fototechnik
25.05.2022
Objektivlinsengruppenanordnung, Elektronenoptisches System, Elektronenoptisches Systemarray, Verfahren zur Fokussierung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.05.2022
Hohlkernfaserlichtquelle und Verfahren zur Herstellung einer Hohlkernfaser
Anorganische Chemie & Werkstoffe Optik & Fototechnik
25.05.2022
Digitales Holographisches Dunkelfeldmikroskop und Zugehöriges Messverfahren
Optik & Fototechnik
25.05.2022
Elektrostatische Klemme
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.05.2022
Verfahren zur Herstellung einer Gemusterten Materialschicht
Metallurgie & Oberflächentechnik Optik & Fototechnik
25.05.2022
Inspektionsverfahren und Inspektionswerkzeug
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.05.2022
Measurement system and method of use
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
19.05.2022
Dark field digital holographic microscope and associated metrology method
Optik & Fototechnik
19.05.2022
Conditioning apparatus and method
Optik & Fototechnik
19.05.2022
A method for modeling measurement data over a substrate area and associated apparatuses
Optik & Fototechnik
18.05.2022
Substratformmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
18.05.2022
Messsystem zur Verwendung mit einem Hohlraum zur Lichtverstärkung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.05.2022
Polarization selection metrology system, lithographic apparatus, and methods thereof
Optik & Fototechnik
11.05.2022
Konditioniervorrichtung und -Verfahren
Optik & Fototechnik
11.05.2022
Metrologieverfahren und Zugehörige Metrologie- und Lithografievorrichtungen
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.05.2022
Spiegelkalibrierungsverfahren, Positionsmessverfahren, Lithografische Vorrichtung und Vorrichtungsherstellungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
11.05.2022
Verfahren zum Aufbringen eines Abscheidungsmodells in einem Halbleiterherstellungsprozess
Optik & Fototechnik
11.05.2022
Verfahren zum Konfigurieren eines Produktionsprozesses zur Herstellung eines Halbleiterartikels, Lithographisches Gerät und Computerprogrammprodukt dafür
Optik & Fototechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
04.05.2022
Verfahren zum Kennzeichnen von Substraten basierend auf Prozessparametern
Optik & Fototechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
04.05.2022
Lithografisches Verfahren
Optik & Fototechnik
04.05.2022
Optische Komponente auf Basis von Photonischen Hohlkernkristallfasern zur Breitbandigen Strahlungserzeugung
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.04.2022
Method for generating mask pattern
Optik & Fototechnik
28.04.2022
Binäre Intensitätsmaske für den Euv-Spektralbereich
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
28.04.2022
Substrate Level Sensing in A Lithographic Apparatus
Optik & Fototechnik
28.04.2022
Residual Gas Analyser
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.04.2022
Breitbandstrahlungsgenerator mit Hohlkern auf der Basis von Photonischen Kristallfasern
Optik & Fototechnik
21.04.2022
Interferometer system and lithographic apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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