ASML Patente
🇳🇱 Niederlande
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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5.380 gesamt| Patent | |||
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15.04.2009
Ausrichtungs-Verfahren und -Gerät, lithographisches Gerät, Metrologiegerät und Herstellungsverfahren einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.10.2008
Anhängig
Vertretung
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
Leeming, John Gerard · London
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08.04.2009
Lithographischer Apparat, Verfahren zu dessen Kalibrierung und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.08.2001
Erteilt am 08.04.2009
Vertretung
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08.04.2009
Inspektion eines Artikels
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 19.09.2003
Anhängig
Vertretung
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08.04.2009
Methode zur Herstellung einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.10.2003
Erteilt am 08.04.2009
Vertretung
Corcoran, Gregory Martin Mason · Veldhoven
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
Hatzmann, Martin · Den Haag
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01.04.2009
Getter- und Reinigungseinrichtung für eine Lithographische Vorrichtung und Verfahren zur Reinigung einer Oberfläche
Verfahrens- & Trenntechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.06.2007
Anhängig
Vertretung
Slenders, Petrus Johannes Waltherus · Eindhoven
Slenders, Petrus J. W · Eindhoven
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
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26.03.2009
Lithographic apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 17.09.2008
Anhängig
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25.03.2009
Lithographischer Projektionsapparat und Verfahren zur Herstellung eines Artikels
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.12.2002
Erteilt am 25.03.2009
Vertretung
Slenders, Petrus Johannes Waltherus · Eindhoven
Slenders, Petrus J. W · Eindhoven
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
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25.03.2009
Methode zum Ausrichten eines Substrates, ein Computerprogramm und ein Verfahren zur Herstellung eines Artikels
Optik & Fototechnik
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25.03.2009
Beleuchtungsoptimierung für spezifische Maskenmuster
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.02.2002
Anhängig
Vertretung
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
Leeming, John Gerard · London
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25.03.2009
Binäre sinusförmige Gitter unterhalb der Wellenlänge als Ausrichtungsmarkierungen
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.11.2006
Erteilt am 25.03.2009
Vertretung
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
Leeming, John Gerard · London
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25.03.2009
Markenunabhängiger Ausrichtungssensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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18.03.2009
Verfahren zur Herstellung eines lithographischen Apparats
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 07.05.2004
Erteilt am 18.03.2009
Vertretung
Roberts, Mark Peter · London
Slenders, Petrus J. W · Eindhoven
Slenders, Petrus Johannes Waltherus · Eindhoven
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11.03.2009
Träger und Verfahren zur Herstellung eines Trägers
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.04.2004
Erteilt am 11.03.2009
Vertretung
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11.03.2009
Lithographischer Apparat mit Spülgaseinrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.05.2005
Erteilt am 11.03.2009
Vertretung
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11.03.2009
Lithografischer Apparat und Verfahren zur Herstellung von Bauelementen
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 07.10.2005
Anhängig
Vertretung
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11.03.2009
Katadioptrische Projektionsanlage für die Lithographie mit einer nichtinvertierenden Strahlteileranordnung
Optik & Fototechnik
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11.03.2009
Nicht absorbierende Fotomaske und Verfahren zu ihrer Herstellung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.10.2000
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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04.03.2009
Lithographischer Apparat, Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.09.2005
Erteilt am 04.03.2009
Vertretung
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
Leeming, John Gerard · London
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04.03.2009
Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung von winkelaufgelöster spektroskopischer Lithografie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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26.02.2009
Synchronizing timing of multiple physically or logically separated system nodes
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 13.08.2008
Anhängig
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26.02.2009
Module and method for producing extreme ultraviolet radiation
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 25.08.2008
Anhängig
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25.02.2009
Lithografische Vorrichtung, Baugruppe und Verfahren zur Messung eines Parameters eines Projektionssystems
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 05.12.2005
Erteilt am 25.02.2009
Vertretung
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25.02.2009
Lithografischer Apparat und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.08.2008
Anhängig
Vertretung
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
Leeming, John Gerard · London
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11.02.2009
Lithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.11.2006
Anhängig
Vertretung
Leeming, John Gerard · London
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
Slenders, Petrus Johannes Waltherus · Eindhoven
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11.02.2009
Flüssigkeitsstrom-Näherungssensor zur Verwendung in der Immersionslithografie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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05.02.2009
Lithographic apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.07.2008
Anhängig
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04.02.2009
Lithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung eines Artikels
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.03.2003
Erteilt am 04.02.2009
Vertretung
Slenders, Petrus Johannes Waltherus · Eindhoven
Slenders, Petrus J. W · Eindhoven
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
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04.02.2009
Optisches metrologisches System und Charakterisierungsverfahren für eine Metrologiemarke
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.12.2006
Erteilt am 04.02.2009
Vertretung
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
Leeming, John Gerard · London
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22.01.2009
Debris prevention system, radiation system, and lithographic apparatus
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 16.07.2008
Anhängig
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21.01.2009
Bewegungssteuerung in einem lithographischen Apparat
Optik & Fototechnik
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14.01.2009
Lithographischer Belichtungsapparat mit einer an einer Vakuumkammer angeschlossenen evakuierbaren Maskenspeichervorrichtung
Optik & Fototechnik
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14.01.2009
Linienbreitensteuerung in einem Abtastbelichtungsapparat
Optik & Fototechnik
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07.01.2009
Lithographieapparat und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 05.11.2001
Erteilt am 07.01.2009
Vertretung
Slenders, Petrus Johannes Waltherus · Eindhoven
Slenders, Petrus J. W · Eindhoven
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
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31.12.2008
Bilderzeugungsapparat
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.11.2002
Erteilt am 31.12.2008
Vertretung
Slenders, Petrus Johannes Waltherus · Eindhoven
Slenders, Petrus J. W · Eindhoven
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
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24.12.2008
Clamping device and object loading method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.06.2008
Anhängig
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24.12.2008
Method of loading a substrate on a substrate table, device manufacturing method, computer program, data carrier and apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.06.2008
Anhängig
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24.12.2008
Nicht absorbierende Fotomaske und Verfahren zu ihrer Herstellung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.10.2000
Erteilt am 24.12.2008
Vertretung
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
Weenink, Willem · Veldhoven
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18.12.2008
Lithographic apparatus and method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.06.2008
Anhängig
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18.12.2008
Contamination prevention system, lithographic apparatus, radiation source, and method for manufacturing a device
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 12.06.2008
Anhängig
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17.12.2008
System zur Fokusmessung eines Retikels und Verfahren unter Verwendung von verschiedenen interferometrischen Strahlen
Optik & Fototechnik
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Wer vertritt ASML?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die ASML vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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