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Tokyo Electron Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.

2.414
Patente
2000–2024
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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2.414 gesamt
Patent
23.01.2025
Integrierte Messtechnik für Prozesssteuerungen in einem Wafer-Bonding-System
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.01.2025
Datenanalysesystem, Datenanalysevorrichtung, Datenanalyseverfahren und Computerprogramm
Steuerungs- & Regelungstechnik Software & Datenverarbeitung
22.01.2025
Plasmaätzverfahren und Plasmaätzvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.01.2025
Chipverbindungsvorrichtung, Chipverarbeitungssystem und Chipverarbeitungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.12.2024
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
05.12.2024
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.12.2024
Wafer-Futter mit Material mit Einstellbarer Steifigkeit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.11.2024
Substratverarbeitungsvorrichtung und Substratverarbeitungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.11.2024
Substratverarbeitungsverfahren und Plasmaverarbeitungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.09.2024
Verarbeitungssystem, Elektrostatischer Träger und Verarbeitungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.09.2024
Zyklonsammler
Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.08.2024
Substratverarbeitungsverfahren und Substratverarbeitungssystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.08.2024
Heizvorrichtung und Verfahren zur Led-Steuerung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.08.2024
Ablagetisch, Prüfvorrichtung und Prüfverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.07.2024
Verarbeitung Latenter Bilder mit Hoher Auflösung, Kontrastverstärkung und Thermische Entwicklung sowie Vorrichtungen zur Verarbeitung
Optik & Fototechnik
10.07.2024
Substratträger und Inspektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.06.2024
Substratverarbeitungsverfahren und Plasmaverarbeitungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.06.2024
Verfahren zur Reinigung einer Kammer oder Komponente, Substratverarbeitungsverfahren und Substratverarbeitungsvorrichtung
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.05.2024
Substratverarbeitungsverfahren und Substratverarbeitungsvorrichtung
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.05.2024
Verfahren zur Strukturformung und Plasmaverarbeitungsverfahren
Kunststoff- & Polymertechnik Optik & Fototechnik
08.05.2024
Inspektionsvorrichtung und Steuerungsverfahren für eine Inspektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.05.2024
Inspektionsvorrichtung und Temperaturregelungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.05.2024
Datenverarbeitungsvorrichtung, Datenverarbeitungsverfahren, und Aufzeichnungsmedium
Software & Datenverarbeitung
01.05.2024
Filmherstellungsvorrichtung und Verfahren zu Ihrer Reinigung
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.04.2024
Substratträger, Testvorrichtung und Verfahren zur Einstellung der Temperatur eines Substratträgers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.03.2024
Behälter
Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.02.2024
Substratverarbeitungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.01.2024
Verbindungssystem und Verbindungsverfahren
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.01.2024
Verbindungssystem und Verbindungsverfahren
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.12.2023
Dummy-Wafer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.10.2023
Inspektionsgerät, Steuerverfahren und Speichermedium
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.09.2023
Inspektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.09.2023
Verfahren zur Bestimmung des Undifferenzierten Zustandes Pluripotenter Stammzellen durch Kulturmediumanalyse
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.08.2023
Substratverarbeitungsverfahren und Substratverarbeitungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
23.08.2023
Aseptischer Probentransportbehälter
Pharma & Biotechnologie
26.07.2023
Inspektionsvorrichtung für Elektronische Vorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.06.2023
Resistive Änderungselemente mit Passivierungsschnittstellenlücken und Verfahren zur Herstellung davon
Akustik, Musik & Datenspeicherung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.06.2023
Bewertungsverfahren zur Differenzierung des Zustands von Zellen
Pharma & Biotechnologie
18.01.2023
Steuerverfahren einer Prüfvorrichtung und Prüfvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.01.2023
Prozessumgebung zur Strukturierung von Anorganischem Resist
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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