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Carl Zeiss SMT Patente

🇩🇪 Deutschland

Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.

1.949
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.949 gesamt
Patent
30.04.2025
Verfahren zum Herstellen eines Spiegels für eine Lithographieanlage
Optik & Fototechnik
30.04.2025
Pupillenfacettenspiegel für eine Beleuchtungsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage
Optik & Fototechnik
30.04.2025
Verfahren zur Behandlung eines Defekts einer Mikrolithographischen Photomaske
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.04.2025
Verfahren zum Betreiben einer Mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage, Mikrolithographische Maske und Projektionsbelichtungsanlage
Optik & Fototechnik
23.04.2025
Bildgebende Euv-Optik zum Abbilden eines Objektfeldes in ein Bildfeld
Optik & Fototechnik
23.04.2025
Bildgebende Euv-Optik zum Abbilden eines Objektfeldes in ein Bildfeld
Optik & Fototechnik
23.04.2025
Verfahren zum Heizen eines Optischen Elements sowie Optisches System
Optik & Fototechnik
16.04.2025
Beleuchtungsoptik für ein Maskeninspektionssystem zur Verwendung mit Euv-Beleuchtungslicht
Optik & Fototechnik
16.04.2025
Vorrichtung zur Detektion von Ionen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.04.2025
Verfahren und Substrat zur Integration von Temperier-Hohlstrukturen in ein Substrat
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Anorganische Chemie & Werkstoffe
09.04.2025
Verfahren zur Herstellung einer Temperierenden Hohlstruktur in einem Substrat unter Verwendung eines Bearbeitungslichtstrahls
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Anorganische Chemie & Werkstoffe
03.04.2025
High-resolution low-distortion imaging using charged-particle scanning microscope
Software & Datenverarbeitung
02.04.2025
Optische Beleuchtungseinheit für Projektionslithografie
Optik & Fototechnik
02.04.2025
Verfahren zur Optimierung der Emission Elektromagnetischer Strahlung eines Plasmas eines Beleuchtungssystems, Quellenmodul, Beleuchtungssystem, Projektionsbelichtungsvorrichtung
Optik & Fototechnik
27.03.2025
Projection Exposure Apparatus Comprising an Element Comprising an Elastic Material
Optik & Fototechnik
26.03.2025
Reflektives Optisches Element
Optik & Fototechnik
13.03.2025
Messanordnung zur Bestimmung der Position eines Beweglichen Bauteils
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
13.03.2025
Messanordnung zur Bestimmung der Position eines Beweglichen Bauteils
13.03.2025
Vibrationskorrektureinheit, Verfahren zum Betreiben einer Vibrationskorrektureinheit, Sensor und Lithographieanlage mit einem Sensor
12.03.2025
Verfahren zum Betreiben einer Mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
Optik & Fototechnik
05.03.2025
Verfahren zur Messung einer Beleuchtungswinkelverteilung auf einem Objektfeld sowie Beleuchtungsoptik mit einer dafür Vorgesehenen Beleuchtungskanalzuweisung
Optik & Fototechnik
05.03.2025
Optisches Bauteil für eine Lithographieanlage
Optik & Fototechnik
13.02.2025
Neigungsmessung in Partikelmikroskopsystemen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.02.2025
Verfahren zur Messung von Halbleiterstrukturen aus einem Einzelnen Keilschnitt eines Inspektionsvolumens
Software & Datenverarbeitung
06.02.2025
Verfahren zur Messung von Halbleiterstrukturen aus einem Einzelnen Keilschnitt eines Inspektionsvolumens
05.02.2025
Computerimplementiertes Verfahren zur Erkennung von Anomalien in einem Abbildungsdatensatz eines Wafers und Systeme mit Verwendung Solcher Verfahren
Software & Datenverarbeitung
30.01.2025
3D-Tomographie mit Reduzierten Driftfehlern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
30.01.2025
Optische Anordnung für eine Euv-Projektionsbelichtungsvorrichtung, Euv-Projektionsbelichtungsvorrichtung
Optik & Fototechnik
23.01.2025
Verfahren zur Gewinnung mindestens einer Messung mindestens einer Halbleiterstruktur in einem Wafer aus einem oder mehreren Keilschnitten und Entsprechendes System
Software & Datenverarbeitung
23.01.2025
Optisches Bauelement, Verfahren zur Installation des Optischen Bauelements, Projektionsbelichtungsvorrichtung
Optik & Fototechnik
22.01.2025
Interferometrische Messvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.01.2025
Aktuierbare Spiegel-Baugruppe
Optik & Fototechnik
16.01.2025
Aktuierbare Spiegel-Baugruppe
09.01.2025
Vorrichtung und Verfahren zum Thermischen Behandeln eines Thermisch zu Behandelnden Körpers
09.01.2025
Vorrichtung und Verfahren zum Thermischen Behandeln eines Thermisch zu Behandelnden Körpers
Anorganische Chemie & Werkstoffe Optik & Fototechnik
02.01.2025
Baugruppe in einer Mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
Optik & Fototechnik
02.01.2025
Spiegelsystem, Verfahren zum Betreiben eines Spiegelsystems und Projektionslinse einer Mikrolithographischen Projektionsbelichtungsvorrichtung
Optik & Fototechnik
02.01.2025
Optisches Modul und Projektionsbelichtungsanlage
Optik & Fototechnik
02.01.2025
Verbessertes Verfahren und Vorrichtung zur Ladungskompensation Während einer 3D-Tomographie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.12.2024
Strukturbestimmung
Software & Datenverarbeitung

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