KLA Corporation Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.
1.908
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
24
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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1.908 gesamt| Patent | |||
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25.12.2024
Abbildungsüberlagerung mit Gegenseitig Kohärenter Schräger Beleuchtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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12.12.2024
System and method for aligning a wafer to a chuck
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.06.2024
Anhängig
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12.12.2024
System and method for detecting chemically contaminated samples
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.06.2024
Anhängig
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04.12.2024
Kombinierte Bildgebung von Übertragenem und Reflektiertem Licht Interner Risse bei Halbleiterbauelementen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.11.2024
System und Verfahren zur Spektralen Abstimmung von Breitbandigen Lichtquellen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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14.11.2024
Metrology of nanosheet surface roughness and profile
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.05.2024
Anhängig
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14.11.2024
System and method for improving measurement performance of characterization systems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 07.05.2024
Anhängig
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06.11.2024
Halbleitermetrologiesystem mit mehreren Einfallswinkeln
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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31.10.2024
Method and system for bonding high fluence optics to opto-mechanical assemblies
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 12.04.2024
Anhängig
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24.10.2024
Methods and systems for measurement of semiconductor structures with multi-pass statistical optimization
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.04.2024
Anhängig
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24.10.2024
Methods and systems for nanoscale imaging based on second harmonic signal generation and through-focus scanning optical microscopy
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.04.2024
Anhängig
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24.10.2024
Ensemble of deep learning models for defect review in high volume manufacturing
Steuerungs- & Regelungstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 27.03.2024
Anhängig
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16.10.2024
Röntgenmetrologiesystem mit Breitbandiger Lasererzeugter Plasmabeleuchtungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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10.10.2024
Asymmetric gas bearing bushing for thermo-pump
Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen)
Maschinenelemente & Fluidtechnik
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Status
Angemeldet am 26.03.2024
Anhängig
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10.10.2024
Quantitation of unstable reaction product or breakdown product without usage of standard chemical
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.03.2024
Anhängig
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26.09.2024
Fluorescence mode for workpiece inspection
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.03.2024
Anhängig
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12.09.2024
X-ray scatterometry based measurements of memory array structures stacked with complex logic structures
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.03.2024
Anhängig
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12.09.2024
Laser-sustained plasma light source with tapered window
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.03.2024
Anhängig
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12.09.2024
Detecting Defects On Specimens
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 26.02.2024
Anhängig
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11.09.2024
Stochastische Wafer mit Prüfung der Kantenplatzierungsgleichförmigkeit
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.09.2024
Miniatur-Hybridelektronenstrahlsäule
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.09.2024
Multidirektionale Überlagerungsmetrologie unter Verwendung mehrerer Beleuchtungsparameter und Isolierter Bildgebung
Optik & Fototechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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11.09.2024
Messung von Dickfilmen und Strukturen mit Hohem Aspektverhältnis
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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11.09.2024
Universelles Metrologiemodell
Optik & Fototechnik
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11.09.2024
Verfahren und System zur Bilderzeugung mittels Mehrfach-Elektronenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.09.2024
Erzeugung mehrerer Elektronenstrahlen mit einem Photokathodenfilm
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.09.2024
Rotierendes Target für Extrem-Ultraviolett-Quelle mit Flüssigmetall
Optik & Fototechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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11.09.2024
Bildmodellierungsunterstützte Konturextraktion
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.09.2024
Metrologie für Extra Grosse Ziele
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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04.09.2024
Mikrolinsenanordnung für eine Metallkanal-Photovervielfacherröhre
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.08.2024
Ruthenium-Eingekapselter Photokathoden-Elektronenemitter
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.08.2024
High-Power Compact Vuv Laser-Sustained Plasma Light Source
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.02.2024
Anhängig
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22.08.2024
Angle resolved reflectometry for thick films and high aspect ratio structures
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.01.2024
Anhängig
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22.08.2024
Vuv laser-sustained plasma light source with long-pass filtering
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.02.2024
Anhängig
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21.08.2024
Verfahren und System zur Adaptiven Abtastung einer Probe Während der Elektronenstrahlprüfung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.04.2014
Erteilt am 21.08.2024
Vertretung
Keane, Paul Fachtna · Dublin
FRKelly · Dublin
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21.08.2024
Halbleitermetrologiesysteme mit mehreren Einfallswinkeln und Verfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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07.08.2024
Fehlerkorrekturmuster für Transparente Folie in Wafergeometriesystemen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.08.2024
Detecting Defects in Array Regions On Specimens
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.01.2024
Anhängig
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31.07.2024
Systeme und Verfahren zur Laufzeitausrichtung eines Punktweise Abtastenden Waferprüfsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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18.07.2024
Boron-coated back-illuminated image sensor with fluoride-based anti-reflection coating
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.01.2024
Anhängig
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Wer vertritt KLA Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die KLA Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.175
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
824
Optik & Fototechnik
468
Software & Datenverarbeitung
295
Elektronik & Schaltungstechnik
47
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
23
Steuerungs- & Regelungstechnik
20
Metallurgie & Oberflächentechnik
19
Verfahrens- & Trenntechnik
15
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
14
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
10
Maschinenelemente & Fluidtechnik
7