ASML Patente
🇳🇱 Niederlande
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
3.336
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
3.336 gesamt| Patent | |||
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26.02.2020
Bestimmung einer Pupillenanpassung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.08.2018
Anhängig
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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26.02.2020
Metrologievorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.08.2018
Anhängig
Vertretung
Willekens, Jeroen Pieter Frank · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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26.02.2020
Strahlenquelle basierend auf der Erzeugung Hoher Oberwellen
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 21.08.2018
Anhängig
Vertretung
Willekens, Jeroen Pieter Frank · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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19.02.2020
Ladungsteilchenquellenmodul
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.04.2018
Anhängig
Vertretung
Corcoran, Gregory Martin Mason · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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19.02.2020
Piezoelektrischer Aktuator sowie Aktuatorsystem, Substratträger und Lithographievorrichtung mit dem Aktuator
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.08.2018
Anhängig
Vertretung
Nouwens, Johannes Wilhelmus Henricus · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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19.02.2020
Verfahren zur Steuerung eines Herstellungsverfahrens und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 16.08.2018
Anhängig
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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19.02.2020
Metrologievorrichtung und Photonische Kristallfaser
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.08.2018
Anhängig
Vertretung
Willekens, Jeroen Pieter Frank · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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19.02.2020
Verfahren und Metrologievorrichtung zur Bestimmung von Geschätzter Gestreuter Strahlungsintensität
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.08.2018
Anhängig
Vertretung
Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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19.02.2020
Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Asymmetrie einer Mikrostruktur, Positionsmessverfahren, Positionsmessvorrichtung, Lithografievorrichtung und Vorrichtungsherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.03.2014
Erteilt am 19.02.2020
Vertretung
van de Ven, Jan-Piet · Eindhoven
Verdonk, Peter Lambert F. M · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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12.02.2020
Elektronenstrahlbelichtungssystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.10.2003
Erteilt am 12.02.2020
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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05.02.2020
Optische Maskenlose Lithographie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 01.08.2018
Anhängig
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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05.02.2020
Metrologievorrichtung und Verfahren zur Bestimmung einer Eigenschaft einer oder mehrerer Strukturen auf einem Substrat
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 01.08.2018
Anhängig
Vertretung
Willekens, Jeroen Pieter Frank · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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29.01.2020
Substratpositionierungsvorrichtung mit Temperatur-Fernsensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.07.2018
Anhängig
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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22.01.2020
Vorrichtung mit mehreren Ladungsträgerteilstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.05.2012
Erteilt am 22.01.2020
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
Peters, Sebastian Martinus · Den Haag
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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22.01.2020
Strahlungsgitterentwurf
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.05.2014
Erteilt am 22.01.2020
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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22.01.2020
Metrologievorrichtung und Verfahren zur Bestimmung einer Eigenschaft in Bezug auf eine oder Mehrere Strukturen auf einem Substrat
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.07.2018
Anhängig
Vertretung
Willekens, Jeroen Pieter Frank · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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22.01.2020
Lagervorrichtung, Magnetschwerkraftkompensator, Vibrationsisolationssystem, Lithografische Vorrichtung, Verfahren zur Steuerung eines Schwerkraftkompensators mit Negativer Steifigkeit und Feder
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.02.2018
Anhängig
Vertretung
Nouwens, Johannes Wilhelmus Henricus · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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15.01.2020
Modul zur Schwingungsisolierung und Substratverarbeitungssystem
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 10.09.2012
Erteilt am 15.01.2020
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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15.01.2020
Vorbereitungseinheit für eine Lithographiemaschine
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.02.2010
Erteilt am 15.01.2020
Vertretung
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15.01.2020
Ladungsträgersystem enthaltend eine Manipulatorvorrichtung zum Manipulieren eines oder mehrerer Bündel Geladener Teilchen
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 26.04.2012
Erteilt am 15.01.2020
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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15.01.2020
Verdeckte Fehlererkennung und Epe-Schätzung auf Basis der Extrahierten 3D-Informationen aus E-Beam-Bildern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 10.07.2018
Anhängig
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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15.01.2020
Verfahren zum Kennzeichnen von Substraten basierend auf Prozessparametern
Optik & Fototechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 10.07.2018
Anhängig
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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01.01.2020
Immersionslithographievorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.06.2015
Erteilt am 01.01.2020
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01.01.2020
Substrathalter, Lithografische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.11.2016
Erteilt am 01.01.2020
Vertretung
Dung, Shiang-Lung · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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01.01.2020
Substrattisch, Lithografische Vorrichtung und Verfahren zum Betrieb einer Lithografischen Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.11.2016
Erteilt am 01.01.2020
Vertretung
Dung, Shiang-Lung · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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01.01.2020
Abstimmungsstrukturierungsvorrichtung basierend auf einer Optischen Eigenschaft
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.06.2018
Anhängig
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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01.01.2020
Verfahren zur Durchführung eines Herstellungsprozesses und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.06.2018
Anhängig
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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25.12.2019
Verfahren zur Steuerung einer Fertigungsvorrichtung und Zugehörige Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 19.06.2018
Anhängig
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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18.12.2019
Bestimmung von Signifikanten Beziehungen zwischen Parametern, die den Betrieb einer Vorrichtung Beschreiben
Optik & Fototechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 15.06.2018
Anhängig
Vertretung
Willekens, Jeroen Pieter Frank · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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18.12.2019
Reflektor und Verfahren zur Herstellung eines Reflektors
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.06.2018
Anhängig
Vertretung
Willekens, Jeroen Pieter Frank · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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11.12.2019
Belichtungsvorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.01.2018
Anhängig
Vertretung
Ras, Michael Adrianus Josephus · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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11.12.2019
Metrologievorrichtung und Verfahren zur Bestimmung einer Eigenschaft einer oder mehrerer Strukturen auf einem Substrat
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.06.2018
Anhängig
Vertretung
Willekens, Jeroen Pieter Frank · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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11.12.2019
Erstellung eines Stichprobenplans
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 07.06.2018
Anhängig
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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11.12.2019
Lithografisches Verfahren
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.09.2018
Erteilt am 11.12.2019
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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04.12.2019
Teilchenstrahlvorrichtung
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.05.2018
Anhängig
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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04.12.2019
Elektronenstrahlvorrichtung, Prüfwerkzeug und Prüfverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.05.2018
Anhängig
Vertretung
Peters, John Antoine · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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04.12.2019
Metrologieverfahren, Vorrichtung und Computerprogramm
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.05.2018
Anhängig
Vertretung
Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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04.12.2019
Messvorrichtung und Verfahren zur Messung eines Ziels
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 31.05.2018
Anhängig
Vertretung
Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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27.11.2019
Positioniersystem für eine Trägerplatte und Lithographischer Apparat
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.01.2015
Erteilt am 27.11.2019
Vertretung
Ras, Michael Adrianus Josephus · Veldhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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27.11.2019
Bandbreitenberechnungssystem und Verfahren zum Bestimmen einer Gewünschten Wellenlängenbandbreite für einen Messstrahl in einem Markierungserfassungssystem
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.05.2018
Anhängig
Vertretung
Ketting, Alfred · Eindhoven
ASML Netherlands B.V · Veldhoven
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Wer vertritt ASML?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die ASML vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Optik & Fototechnik
2.737
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
727
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
356
Elektronik & Schaltungstechnik
223
Software & Datenverarbeitung
132
Elektrische Energietechnik
125
Steuerungs- & Regelungstechnik
60
Maschinenelemente & Fluidtechnik
37
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
34
Verfahrens- & Trenntechnik
33
Anorganische Chemie & Werkstoffe
33
Metallurgie & Oberflächentechnik
20