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KLA Corporation Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

1.908
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
24
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.908 gesamt
Patent
24.01.2024
Schrägbeleuchtung für Überlagerungsmetrologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
10.01.2024
Kleinwinkelröntgenstreuungsmetrologiesystem für Übertragung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
27.12.2023
Beleuchtungssteuerung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
21.12.2023
System and method for reducing sample noise using selective markers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.12.2023
Schätzung von Asymmetrischen Aberrationen
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.12.2023
System und Verfahren zur Optischen Pfadkopplung von Licht zur Photochemischen In-Situ-Reinigung in Projektionsbildgebungssystemen
Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.12.2023
Bildausrichtung auf Basis von Hervorstechenden Merkmalen
Software & Datenverarbeitung
06.12.2023
Geformter Blendensatz für Mehrstrahl-Array-Konfigurationen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.12.2023
Bildgebungsreflektometrie für Inline-Screening
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
06.12.2023
Mehrfeldabtastüberlagerungsmetrologie
Optik & Fototechnik
06.12.2023
System und Verfahren zur Interferometrie mit Lateralem Scheren in einem Inspektionswerkzeug
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
06.12.2023
Systeme und Verfahren zur Adaptiven Halbleiterprüfung unter Verwendung von Inline-Defektteilmittelwertprüfung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
06.12.2023
Kantenprofilinspektion für Delaminationsdefekte
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
06.12.2023
Multielektronenstrahlsystem mit Hohem Durchsatz
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.12.2023
Gegenstrom-Gasdüse zur Kontaminationsminderung in Extrem-Uv-Inspektionssystemen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
29.11.2023
Metrologie und Kontrolle von Überlagerungs- und Randplatzierungsfehlern
Optik & Fototechnik
29.11.2023
Sichere Fernzusammenarbeit für Geräte in einer Herstellungsanlage
Steuerungs- & Regelungstechnik Software & Datenverarbeitung
29.11.2023
Verfahren und Vorrichtung zur Euv-Maskeninspektion
Optik & Fototechnik Elektronik & Schaltungstechnik
29.11.2023
Vertikaler Gefalteter Metallbalg für Drehbewegungen, Vakuumversiegelungen und Druckversiegelungen
Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.11.2023
Doppelvakuumdichtung
Maschinenelemente & Fluidtechnik
29.11.2023
Systeme und Verfahren zur Bewertung der Zuverlässigkeit von Halbleiterchipgehäusen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
29.11.2023
Hochauflösende Elektronenstrahlvorrichtung mit Doppelaperturschemen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.11.2023
Conical Pocket Laser-Sustained Plasma Lamp
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.11.2023
Korrektur der Aberration und Apodisierung eines Optischen Systems mit Korrekturplatten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
22.11.2023
Rückbeleuchteter Sensor mit mittels Plasmaatomschichtabscheidung Abgeschiedener Borschicht
Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.11.2023
System und Verfahren zur Reinigung Optischer Euv-Elemente
Optik & Fototechnik
26.10.2023
Laser-sustained plasma source based on colliding liquid jets
Elektronik & Schaltungstechnik
19.10.2023
Methods and process control for real time inert monitoring of acid copper electrodeposition solutions
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.10.2023
Context-Based Defect Inspection
Software & Datenverarbeitung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.10.2023
Multi-Mode Optical Inspection
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
05.10.2023
Inspection with previous step subtraction
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
05.10.2023
Shot noise reduction using frame averaging
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
04.10.2023
Verfahren und System zur Herstellung einer Integrierten Schaltung
Optik & Fototechnik
04.10.2023
Überlagerungsmessung mittels Abtaststreumessung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
04.10.2023
Strahlabtastung auf Pupillenebene für Metrologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
04.10.2023
System und Verfahren zur Fokussteuerung in Extrem-Ultraviolett-Lithographiesystemen mit einem Fokusempfindlichen Metrologieziel
Optik & Fototechnik
04.10.2023
Verfahren und System zur Herstellung einer Integrierten Schaltung
Optik & Fototechnik
04.10.2023
Sofortiges Scatterometrie-Overlay-Metrologie-Target
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
04.10.2023
Mehrstrahliger Elektronischer Scanner
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.10.2023
Defektkontroll- und Photolumineszenz-Messsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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