KLA Corporation Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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1.908 gesamt| Patent | |||
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24.01.2024
Schrägbeleuchtung für Überlagerungsmetrologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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10.01.2024
Kleinwinkelröntgenstreuungsmetrologiesystem für Übertragung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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27.12.2023
Beleuchtungssteuerung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 07.06.2012
Erteilt am 27.12.2023
Vertretung
Keane, Paul Fachtna · Dublin
FRKelly · Dublin
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21.12.2023
System and method for reducing sample noise using selective markers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 07.06.2023
Anhängig
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20.12.2023
Schätzung von Asymmetrischen Aberrationen
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.12.2023
System und Verfahren zur Optischen Pfadkopplung von Licht zur Photochemischen In-Situ-Reinigung in Projektionsbildgebungssystemen
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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06.12.2023
Bildausrichtung auf Basis von Hervorstechenden Merkmalen
Software & Datenverarbeitung
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06.12.2023
Geformter Blendensatz für Mehrstrahl-Array-Konfigurationen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.12.2023
Bildgebungsreflektometrie für Inline-Screening
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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06.12.2023
Mehrfeldabtastüberlagerungsmetrologie
Optik & Fototechnik
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06.12.2023
System und Verfahren zur Interferometrie mit Lateralem Scheren in einem Inspektionswerkzeug
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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06.12.2023
Systeme und Verfahren zur Adaptiven Halbleiterprüfung unter Verwendung von Inline-Defektteilmittelwertprüfung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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06.12.2023
Kantenprofilinspektion für Delaminationsdefekte
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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06.12.2023
Multielektronenstrahlsystem mit Hohem Durchsatz
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.12.2023
Gegenstrom-Gasdüse zur Kontaminationsminderung in Extrem-Uv-Inspektionssystemen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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29.11.2023
Metrologie und Kontrolle von Überlagerungs- und Randplatzierungsfehlern
Optik & Fototechnik
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29.11.2023
Sichere Fernzusammenarbeit für Geräte in einer Herstellungsanlage
Steuerungs- & Regelungstechnik
Software & Datenverarbeitung
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29.11.2023
Verfahren und Vorrichtung zur Euv-Maskeninspektion
Optik & Fototechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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29.11.2023
Vertikaler Gefalteter Metallbalg für Drehbewegungen, Vakuumversiegelungen und Druckversiegelungen
Metallurgie & Oberflächentechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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29.11.2023
Doppelvakuumdichtung
Maschinenelemente & Fluidtechnik
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29.11.2023
Systeme und Verfahren zur Bewertung der Zuverlässigkeit von Halbleiterchipgehäusen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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29.11.2023
Hochauflösende Elektronenstrahlvorrichtung mit Doppelaperturschemen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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23.11.2023
Conical Pocket Laser-Sustained Plasma Lamp
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.05.2023
Anhängig
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22.11.2023
Korrektur der Aberration und Apodisierung eines Optischen Systems mit Korrekturplatten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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22.11.2023
Rückbeleuchteter Sensor mit mittels Plasmaatomschichtabscheidung Abgeschiedener Borschicht
Metallurgie & Oberflächentechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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08.11.2023
System und Verfahren zur Reinigung Optischer Euv-Elemente
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.12.2014
Erteilt am 08.11.2023
Vertretung
Keane, Paul Fachtna · Dublin
FRKelly · Dublin
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26.10.2023
Laser-sustained plasma source based on colliding liquid jets
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 17.04.2023
Anhängig
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19.10.2023
Methods and process control for real time inert monitoring of acid copper electrodeposition solutions
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.04.2023
Anhängig
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05.10.2023
Context-Based Defect Inspection
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.03.2023
Anhängig
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05.10.2023
Multi-Mode Optical Inspection
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 30.03.2023
Anhängig
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05.10.2023
Inspection with previous step subtraction
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 31.03.2023
Anhängig
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05.10.2023
Shot noise reduction using frame averaging
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 30.03.2023
Anhängig
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04.10.2023
Verfahren und System zur Herstellung einer Integrierten Schaltung
Optik & Fototechnik
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04.10.2023
Überlagerungsmessung mittels Abtaststreumessung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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04.10.2023
Strahlabtastung auf Pupillenebene für Metrologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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04.10.2023
System und Verfahren zur Fokussteuerung in Extrem-Ultraviolett-Lithographiesystemen mit einem Fokusempfindlichen Metrologieziel
Optik & Fototechnik
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04.10.2023
Verfahren und System zur Herstellung einer Integrierten Schaltung
Optik & Fototechnik
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04.10.2023
Sofortiges Scatterometrie-Overlay-Metrologie-Target
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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04.10.2023
Mehrstrahliger Elektronischer Scanner
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.10.2023
Defektkontroll- und Photolumineszenz-Messsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Angemeldet am 08.08.2011
Erteilt am 04.10.2023
Vertretung
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Wer vertritt KLA Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die KLA Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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