KLA Corporation Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.
1.908
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
24
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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1.908 gesamt| Patent | |||
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15.06.2023
Process Window Qualification Modulation Layouts
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.11.2022
Anhängig
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01.06.2023
Frequency conversion using interdigitated nonlinear crystal gratings
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.11.2022
Anhängig
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31.05.2023
Vorrichtung zur Handhabung von Substraten für Extrem Gekrümmte Wafer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.05.2023
Systeme und Verfahren mit einem Neuronalen Netzwerk und einem Physischen Forward-Modell für Halbleiteranwendungen
Software & Datenverarbeitung
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24.05.2023
Kühlmittelmikrolecksensor für ein Vakuumsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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04.05.2023
Continuous machine learning model training for semiconductor manufacturing
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 19.10.2022
Anhängig
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04.05.2023
Moiré Scatterometry Overlay
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 19.10.2022
Anhängig
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04.05.2023
Knowledge distillation for semiconductor-based applications
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 25.10.2022
Anhängig
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26.04.2023
Laserwiederholungsfrequenzvervielfacher und Flache Strahlprofilgeneratoren mit Spiegeln Und/oder Prismen
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.06.2015
Erteilt am 26.04.2023
Vertretung
Keane, Paul Fachtna · Dublin
FRKelly · Dublin
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26.04.2023
Materialrückgewinnungssysteme für Optische Komponenten
Verfahrens- & Trenntechnik
Anorganische Chemie & Werkstoffe
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26.04.2023
Fluordotierte Optische Materialien für Optische Komponenten
Metallurgie & Oberflächentechnik
Optik & Fototechnik
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26.04.2023
Schutz von Optischen Materialien von Optischen Komponenten vor Strahlungsabbau
Optik & Fototechnik
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19.04.2023
Steuerung der Amplitude und Phase von Beugungsordnungen anhand von Polarisationszielen und Polarisierter Beleuchtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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13.04.2023
Spectroscopic reflectometry and ellipsometry measurements with electroreflectance modulation
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.10.2022
Anhängig
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13.04.2023
Unsupervised or self-supervised deep learning for semiconductor-based applications
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 03.10.2022
Anhängig
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29.03.2023
3D-Strukturinspektion oder -Metrologie unter Verwendung von Tiefenlernen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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29.03.2023
Tiefe Generative Modelle für Optische oder Andere Modusauswahl
Software & Datenverarbeitung
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29.03.2023
Graumodus-Abtaststreumessungs-Überlagerungsmetrologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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29.03.2023
Unüberwachtes Lernen zum Nachweis von Defekten bei Repeatern
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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29.03.2023
Gruppierung Räumlicher Signaturen auf Waferebene unter Verwendung von Transferlernen
Software & Datenverarbeitung
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22.03.2023
Messziel zur Eindimensionalen Messung von Periodischer Fehlregistrierung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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22.03.2023
Metrologiesystem und Verfahren zur Messung von Überlagerungszielen auf Diagonalbeugungsbasis
Optik & Fototechnik
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22.03.2023
Korrelation von Bilddesign zu Wafer durch Kombination von Informationen aus mehreren Sammelkanälen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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22.03.2023
Halbleiterüberlagerungsmessungen mit Maschinenlernen
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.03.2023
Target und Algorithmus zur Überlagerungsmessung durch Modellierung von Rückstreuelektronen auf Überlappenden Strukturen
Optik & Fototechnik
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22.03.2023
Leistungsoptimierte Abtastsequenz für Elektronenstrahlmetrologie und Inspektion
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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22.03.2023
Vorrichtungsartige Überlagerungsmetrologieziele mit Anzeige von Moiré-Effekten
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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22.03.2023
Fehlregistrierungsmetrologie unter Verwendung von Fringe Moiré und Optischen Moiré-Effekten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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09.03.2023
Wafer Alignment Improvement Through Image Projection-Based Patch-To-Design Alignment
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.09.2021
Anhängig
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09.03.2023
System and method for feature signal enhancement using a selectively bonded photoluminescent material
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.08.2022
Anhängig
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08.03.2023
Vorrichtung und Verfahren zur Zweidimensionalen Nanoindentation
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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02.03.2023
Systems and methods for rotational calibration of metrology tools
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.09.2021
Anhängig
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02.03.2023
Methods and systems for selecting wafer locations to characterize cross-wafer variations based on high-throughput measurement signals
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.08.2022
Anhängig
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16.02.2023
Swirler for laser-sustained plasma light source with reverse vortex flow
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.08.2022
Anhängig
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15.02.2023
Rückbeleuchteter Sensor und Verfahren zur Herstellung eines Sensors mit einem Silizium-Auf-Isolator-Wafer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.02.2023
Protective coating for nonlinear optical crystal
Metallurgie & Oberflächentechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.07.2022
Anhängig
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25.01.2023
Bestimmung Metrologieartiger Informationen für eine Probe unter Verwendung eines Prüfwerkzeugs
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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19.01.2023
Fast and fuzzy pattern grouping
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 12.07.2022
Anhängig
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11.01.2023
Flottenanpassung von Halbleitermetrologiewerkzeugen ohne Dedizierte Qualitätskontrollwafer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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11.01.2023
Defektgrössenmessung unter Verwendung von Tiefenlernverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Wer vertritt KLA Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die KLA Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.175
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
824
Optik & Fototechnik
468
Software & Datenverarbeitung
295
Elektronik & Schaltungstechnik
47
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
23
Steuerungs- & Regelungstechnik
20
Metallurgie & Oberflächentechnik
19
Verfahrens- & Trenntechnik
15
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
14
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
10
Maschinenelemente & Fluidtechnik
7